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HTOL测试机基本参数
  • 品牌
  • TOP-ICTEST 顶策
  • 型号
  • TH801
  • 基材
  • PCB
HTOL测试机企业商机

    高温工作寿命实验(Hightemperatureoperatinglifetest:HTOL)测试目的:芯片处于高温条件下,加入动态信号,并长时间工作,以评估其使用寿命,并确定其可靠性。测试条件:结温(Tj)≧125℃,电压Vcc≧Vccmax,测试时间:1000hrs样品数:77ea/lot,3lots测试读点:168、500、1000hrs参考规范:、JESD22-A108JESD22-A108B:Temperature,Bias,andOperatingLifeJESD85:METHODSFORCALCULATINGFAILURERATESINUNITSOFFITSJESD47K:Stress-Test-DrivenQualificationofIntegratedCircuitsJESD74:EarlyLifeFailureRateCalculationProcedureforSemiconductorComponents芯片工作寿命试验、老化试验(OperatingLifeTest),为利用温度、电压加速方式,在短时间试验内,预估芯片在长时间可工作下的寿命时间(生命周期预估)。BI(Burn-in)/ELFR(EarlyLifeFailureRate):评估早夭阶段的故障率或藉由BI手法降低出货的早夭率-DPPM(DefectPartsPer-Million),针对失效模式中的InfantMortality,一般测试低于48小时,车规级芯片需要100%BI测试。HTOL(HighTemperatureOperatingLife):评估可使用期的寿命时间-FIT/MTTF,针对失效模式中的Wearout,一般需要测试1000小时,属于抽样测试。 上海顶策科技智能HTOL系统,有全程HTOL数据记录,让报告更有说服力,下游客户更放心。虹口区HTOL测试机哪里有卖的

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    GJB548B-2015方法,否则采用额定工作电压S级**少时间有240h到120h共6个级别;B级**少时间160h到12h共10个级别;H级**少时间352h到80h共11级别;K级**少时间从700h到320h共6个级别。S级最低温度从125℃到150℃共6个级别;B级别最低温度从125℃到250℃;H级最低温度从100℃到150℃;K级最低温度从100℃到125℃。————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:。

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