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HTOL测试机基本参数
  • 品牌
  • TOP-ICTEST 顶策
  • 型号
  • TH801
  • 基材
  • PCB
HTOL测试机企业商机

    htonl()简述:将主机的无符号长整形数转换成网络字节顺序。#include<arpa/(uint32_thostlong);hostlong:主机字节顺序表达的32位数。注释:本函数将一个32位数从主机字节顺序转换成网络字节顺序。返回值:htonl()返回一个网络字节顺序的值。参见:htons(),ntohl(),ntohs().在Linux系统下:#include<arpa/(uint32_thostlong);相关函数:uint16_thtons(uint16_thostshort);uint32_tntohl(uint32_tnetlong);uint16_tntohs(uint16_tnetshort);网际协议在处理这些多字节整数时,使用大端字节序。在主机本身就使用大端字节序时,这些函数通常被定义为空宏。————————————————版权声明:本文为CSDN博主「gocpplua」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。 可靠性事业部提供各类芯片的老化程序开发调试,可靠性测试实验,出具可靠性报告等一条龙服务。松江区HTOL测试机专卖

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本发明实施例的闪存参考单元经过编译和擦除循环后再进行htol测试的输出电流iref分布图。闪存参考单元进行编译和擦除循环后,htol测试过程中。闪存参考单元的输出电流iref在48小时的测试值iref1与在初始的测试值iref0之间偏移量减小,实际验证多个型号的闪存产品采用本实施例的方法后,htol可靠性验证通过,而且测试可靠,使闪存产品较短时间内进入客户样品量产阶段。综上所述,本发明所提供的一种闪存htol测试方法,对闪存参考单元进行编译和擦除循环后,再进行闪存htol可靠性验证,编译和擦除循环会在闪存参考单元中引入电子,引入的电子在闪存htol可靠性验证过程存在丢失,进而对空穴在htol测试过程中的丢失形成补偿,降低了闪存参考单元的输出电流iref的偏移量,从而使闪存htol读“0”通过,解决了闪存htol测试中读点失效的问题,提高闪存质量。显然,本领域的技术人员可以对发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些改动和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包括这些改动和变动在内。上海顶策科技智能HTOL系统,可灵活配置芯片工作状态,并施加信号,非常方便HTOL Setup。

本发明实施例的闪存参考单元未经过编译和擦除的电荷分布示意图;发明实施例的闪存参考单元经过编译和擦除后的电荷分布示意图。图8为本发明实施例的闪存参考单元经过编译和擦除循环后再进行htol测试的输出电流iref分布图。其中,具体标号如下:100-衬底;101-源极;102-漏极;103-隧穿氧化层;104-浮栅;105-栅间介质层;106-控制栅;107-侧墙;具体实施方式本发明提供一种闪存htol测试方法,以下结合附图和具体实施例作进一步详细说明。根据下面说明,本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精细的比例,*用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。图1为本发明实施例的闪存htol测试方法流程图,可靠性事业部提供模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计。嘉定区HTOL测试机推荐厂家

上海顶策科技TH801智能老化系统,拥有智能动态在线实时检测技术,同时一体化结合ATE与高温老化炉。松江区HTOL测试机专卖

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