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HTOL测试机基本参数
  • 品牌
  • TOP-ICTEST 顶策
  • 型号
  • TH801
  • 基材
  • PCB
HTOL测试机企业商机

20年以上的丰富测试技术积累及运营经验,拥有多项发明专利及软件著作权,上海顶策科技有限公司自成立以来,已经为超过500家半导体公司提供高质量,高效率,低成本,一条龙测试解决方案!可靠性测试事业部提供可靠性测试整体解决方案,包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备,以及测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。自主研发在线实时单颗监测技术,通过监测数据,可实时发现问题并介入分析,大幅提高HTOL效率,节省更多时间、FA成本,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性,让报告更有说服力,下游客户更放心。上海顶策科技有限公司自主研发智能HTOL测试机TH801实时监测确保芯片处于正常状态,保证HTOL测试质量。静安区一体化HTOL测试机

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闪存HTOL测试方法与流程本发明涉及半导体制造领域,尤其涉及一种闪存htol测试方法。背景技术:闪存(flashmemory)是一种非易失性的存储器,其具有即使断电存储数据也不会丢失而能够长期保存的特点。故近年来闪存的发展十分迅速,并且具有高集成度、高存储速度和高可靠性的闪存存储器被广泛应用于包括电脑、手机、服务器等电子产品及设备中。在半导体技术领域中,htol(hightemperatureoperatinglifetest,高温操作生命期试验)用于评估半导体器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力。对于闪存的可靠性而言,在数万次的循环之后的htol是一个主要指数。通常而言,闪存产品需要在10000次的循环之后,通过1000小时的htol测试。闪存htol实际测试中存在若干小时后闪存测试读点(例如读“0”)失效,亟需解决闪存htol测试中读点失效的问题。

盖模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计,原理图设计,PCBlayout加工制作,老化程序开发调试,可靠性测试试验,出具可靠性报告等一条龙服务。自主研发在线实时单颗监测技术,通过监测数据,可实时发现问题并介入分析,大幅提高HTOL效率,节省更多时间、FA成本,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性,让报告更有说服力,下游客户更放心。20年以上的丰富测试技术积累及运营经验,拥有多项发明专利及软件著作权,自成立以来,已经为超过500家半导体公司提供高质量,高效率,低成本,一条龙测试解决方案!上海顶策科技TH801智能老化系统,是一款全程数据实时记录的高效HTOL设备。

    进一步的,对所述闪存参考单元进行编译,包括:在所述源极上施加***编程电压,在所述漏极上施加第二编程电压,在所述控制栅上施加第三编程电压,在所述衬底上施加第四编程电压;其中,所述***编程电压小于所述第二编程电压;所述第二编程电压小于所述第三编程电压。进一步的,所述***编程电压的范围为~0v,所述第二编程电压的范围为~,所述第三编程电压的范围为8v~10v,所述第四编程电压的范围为~-1v。进一步的,编译过程中的脉冲宽度为100μs~150μs。进一步的,对所述闪存参考单元进行擦除,包括:将所述源极和漏极均悬空,在所述控制栅上施加***擦除电压,在所述衬底上施加第二擦除电压;其中,所述***擦除电压为负电压,所述第二擦除电压为正电压。进一步的,所述***擦除电压的范围为-10v~-8v,所述第二擦除电压的范围为8v~10v。进一步的,擦除过程中的脉冲宽度为10ms~20ms。进一步的,对所述闪存参考单元进行编译和擦除,循环次数为10次~20次。进一步的,对所述闪存进行htol测试包括:对所述闪存依次进行***时间点读点、第二时间点读点、第三时间点读点至第n时间点读点。

    上海顶策科技TH801智能老化系统,芯片状态实时参数正态分布图,散点图等显示,多维度分析芯片状态。青浦区HTOL测试机市价

TH801智能老化系统,实时监测并记录每颗芯片电压,电流,频率,寄存器状态等数据。静安区一体化HTOL测试机

    MIL-STD-883K-2016:稳态反向偏置S级**少时间有240h到120h共6个级别;B级**少时间352h到12h共10个级别;K级**少时间从700h到320h共6个级别。S级最低温度从125℃到150℃共6个级别;B级别最低温度从100℃到250℃;K级最低温度从100℃到125℃。电压大小全部为额定电压B:稳态正向偏置C:稳态功率反向偏置D:并联励磁E:环形振荡器F:温度加速试验————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:blog./qq_36671997/article/details/。 静安区一体化HTOL测试机

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