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在每个时间点读点过程为:将闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值经由读出放大器进行比对判断,若iref<i,则闪存读出“1”;若iref>i,则闪存读出“0”。与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:本发明所提供的闪存htol测试方法,对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除,以在所述闪存参考单元中引入电子;对所述闪存进行htol测试,所述引入电子在所述htol测试过程中存在丢失,以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。降低了闪存参考单元的输出电流iref的偏移量,从而使闪存htol读“0”通过,解决了闪存htol测试中读点失效的问题,提高闪存质量。附图说明图1为本发明实施例的闪存htol测试方法流程图;图2为本发明实施例的闪存参考单元的结构示意图;图3为本发明实施例的对闪存参考单元进行编译示意图;图4为本发明实施例的对闪存参考单元进行擦除示意图;图5为本发明实施例的闪存参考单元未经过编译和擦除直接进行htol测试的输出电流iref分布图;杨浦区HTOL测试机多少钱上海顶策科技有限公司智能HTOL测试机TH801有全程数据记录,让报告更有说服力,下游客户更放心。
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芯片可靠性测试(HTOL)HTOL(HighTemperatureOperatingLife)是芯片可靠性的一项关键性的基础测试,用应力(电压、温度等拉偏)加速的方式模拟芯片的长期运行,评估芯片寿命和长期上电运行的可靠性。广电计量服务内容:老化方案开发测试硬件设计ATE开发调试可靠性试验HTOL试验方案:在要求点(如0、168、500、1000hr)进行ATE测试,确定芯片是否OK,记录每颗芯片的关键参数,并分析老化过程中的变化。对芯片覆盖率要求如:CPU/DSP/MCU/logic:ATPG的stuck-atfaultcoverage>70%。MemoryBIST:覆盖所有memory。3、模拟电路:覆盖PLL/AD/DA/SERDES等关键IP。 智能化HTOL测试机供应
上海顶策科技有限公司是一家有着雄厚实力背景、信誉可靠、励精图治、展望未来、有梦想有目标,有组织有体系的公司,坚持于带领员工在未来的道路上大放光明,携手共画蓝图,在上海市等地区的仪器仪表行业中积累了大批忠诚的客户粉丝源,也收获了良好的用户口碑,为公司的发展奠定的良好的行业基础,也希望未来公司能成为*****,努力为行业领域的发展奉献出自己的一份力量,我们相信精益求精的工作态度和不断的完善创新理念以及自强不息,斗志昂扬的的企业精神将**上海顶策科技供应和您一起携手步入辉煌,共创佳绩,一直以来,公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针,员工精诚努力,协同奋取,以品质、服务来赢得市场,我们一直在路上!