在界面结合性能预测中，通过对比两种材料的表面自由能，可评估其界面结合强度：表面自由能差值越小，两种材料分子间的相互作用力越强，界面结合越稳定，这一特性可用于复合材料（如涂层 - 基材、胶粘剂 - 被粘物）的匹配性设计，减少因界面结合不足导致的产品失效（如涂层脱落、粘接开裂）。在产品质量控制中，通过设定表面自由能合格范围（如某包装材料表面自由能需≥35mJ/m² 以确保印刷性），可快速判断批次产品是否符合标准，避免因表面性能波动导致后续工艺问题。可进行前进角和后退角等动态润湿性分析。江苏粉体接触角测量仪答疑解惑
例如在高分子材料研发中，通过 sessile drop 法测量水在材料表面的静态接触角，可判断材料的疏水性能（接触角＞90° 为疏水，＞150° 为超疏水）；在涂层工艺优化中，通过测量液滴铺展过程的动态接触角，可分析涂层的润湿性变化速率，评估涂层的均匀性。晟鼎精密的接触角测量仪在 sessile drop 法基础上，优化了进样器定位精度（±0.01mm）与样品台移动精度（±0.005mm），确保液滴可精细滴落在样品指定区域，进一步提升测量重复性（同一位置多次测量偏差≤±0.5°）。北京粉末接触角测量仪大小接触角测量仪用 Owens-Wendt 模型分析低能固体材料特性。
接触角测量仪的表面自由能计算功能，基于表面物理化学中的界面张力理论，通过测量多种已知表面张力的液体在固体表面的接触角，结合数学模型计算固体表面的表面自由能及各分量（色散分量、极性分量、Lewis 酸碱分量），实现对固体表面性能的深度量化分析。固体表面自由能是衡量固体表面吸附、润湿、粘接等界面行为的重要指标，由不同作用分量构成：色散分量源于分子间范德华力中的色散力，极性分量源于分子间的极性作用力（如氢键、静电力），Lewis 酸碱分量则反映分子间的酸碱相互作用。
sessile drop 法凭借操作简便、适配性强的特点，在多个领域的表面性能检测中发挥重要作用。在材料研发领域，可通过测量静态接触角判断高分子材料、金属材料的表面亲水 / 疏水特性，例如通过水在材料表面的接触角，快速区分普通疏水材料（接触角 90°-120°）与超疏水材料（接触角＞150°）；在涂层工艺优化中，通过测量动态接触角（液滴铺展过程中的接触角变化），分析涂层表面的润湿性变化速率，评估涂层均匀性与成膜质量 —— 若动态接触角曲线平滑下降且稳定值一致，表明涂层均匀性良好；若曲线出现波动，则可能存在涂层缺陷（如局部厚度不均）。在表面清洁度检测中，通过对比清洁前后的接触角变化，可判断样品表面是否残留油污、杂质等污染物：清洁前样品表面因污染物存在，接触角通常较大（如金属表面油污残留时水接触角达 60° 以上）；清洁后污染物去除，接触角明显降低（通常＜10°），据此可快速判断清洁效果。该方法的优势在于：无需复杂样品预处理，多数固体样品可直接测量；支持多种测试液体，可通过选择极性、非极性液体拓展检测维度；结合软件功能可实现数据实时分析与记录，为后续工艺优化提供完整数据链，是企业开展常规表面性能检测的方法。接触角测量仪的机械夹具适配柔性薄膜，确保表面平整。
在半导体晶圆制造中，清洗工艺的质量直接影响器件性能（如接触电阻、击穿电压），晟鼎精密接触角测量仪作为清洗质量的检测设备，通过测量水在晶圆表面的接触角，判断晶圆表面的清洁度（残留污染物会导致接触角异常），确保清洗工艺达标。半导体晶圆（如硅晶圆、GaAs 晶圆）在切割、研磨、光刻等工序后，表面易残留光刻胶、金属离子、有机污染物，若清洗不彻底，会导致后续工艺（如镀膜、离子注入）出现缺陷，影响器件良品率。接触角测量的判断逻辑是：清洁的晶圆表面（如硅晶圆）因存在羟基（-OH），水在其表面的接触角通常＜10°（亲水性强）；若表面存在污染物（如光刻胶残留），会破坏羟基结构，导致接触角增大（如＞30°），说明清洗不彻底。接触角测量仪监控镀膜前基材润湿性，保障镀膜质量。湖南视频光学接触角测量仪品牌
晟鼎仪器性价比高，是实验室理想的选择。江苏粉体接触角测量仪答疑解惑
检测流程分为三步：首先从清洗后的晶圆批次中随机抽取 1-3 片样品，裁剪为 20mm×20mm 的测试片；其次将测试片固定在接触角测量仪的样品台，确保表面水平；用 sessile drop 法测量水在晶圆表面的接触角，若接触角＜10° 且同一晶圆不同位置（中心 + 四角）测量偏差≤±1°，则判定清洗合格。晟鼎精密的接触角测量仪针对晶圆检测，优化了样品台尺寸（可适配 8 英寸、12 英寸晶圆）与进样器定位（支持自动定位晶圆指定区域），且软件具备数据统计功能，可自动记录批次检测结果，生成质量报告。某半导体工厂通过该设备进行清洗质量控制，晶圆清洗不良率从 5% 降至 0.8%，器件良品率明显提升，为半导体制造的稳定生产提供保障。江苏粉体接触角测量仪答疑解惑
