美国MAS（MassAppliedSciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等。超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布可通过搅拌或者流动的形式直接测量未稀释、或不透明样品上等高浓度的样品；zeta电位仪的具体参数。上海粒度zeta电位仪适用范围
当粒子运动时（如由于重力），在此边界内的离子随着粒子运动，但此边界外的离子不随着粒子运动。这个边界称为流体力学剪切层或滑动面（slippingplane）。在这个边界上存在的电位即称为Zeta电位。Zeta电位与胶体的稳定性（DLVO理论）在1940年代Derjaguin,Landau,Verway与Overbeek提出了描述胶体稳定的理论，认为胶体体系的稳定性是当颗粒相互接近时它们之间的双电层互斥力与范德瓦尔互吸力的净结果。围绕粒子的液体层存在两部分：一是内层区，称为Stern层，其中离子与粒子紧紧地结合在一起；另一个是外层分散区，其中离子不那么紧密的与粒子相吸附。在分散层内，有一个抽象边界，在边界内的离子和粒子形成稳定实体。上海粒度zeta电位仪适用范围zeta电位仪的重要组成部分。
zeta电位仪，在ISO13320国际标准中，特别提出如果颗粒粒径小于几十微米，需采用米氏理论，输入正确的样品折射率和吸收率以便能获得更为准确的结果，所以在软件中需要有一般物质的光学参数即折射率和吸收率的数据库并能补充输入这些光学参数。zeta电位仪，数据输出功能，用户报告格式设计功能，量程扩展功能等也是不可或缺的因素。如果再有中文软件和中文说明书，对大部分中国用户来说更是好的选择。激光粒度分析仪软件简便易操作，参数设置齐全，数据输出和报告格式可自定义，并且支持中英文操作及查看。
表面经过修饰的过滤器表面和污染物所带电荷相反，因此后者可以被有效除去。安东帕固体表面Zeta电位仪，可对宏观固体进行全自动Zeta电位分析，Zeta电位与固体/液体界面的表面电荷有关，是理解表面特征以及开发新材料的关键参数。自动pH扫描及吸附动力学时间依赖性记录可帮助人们深入了解表面化学。表面分析是在技术和生物应用中验证新材料的重要方法。表面电荷分析能够让用户密切监控纳米级微粒至大型晶圆的表面化学变化。安东帕作为宏观固态样品和水溶液之间界面的zeta电位分析的先驱，一直以来对电动分析仪的研发，已经将表面zeta电位技术从专业方法转变为日常应用的工具。深入了解在接近周围条件下材料表面处理以及材料表面与自然环境的相互作用造成的差异。通过使用可在各种应用下进行zeta电位测量的安东帕仪器，帮助优化现有产品，并开发新产品。 上海艾飞思得告诉您什么是zeta电位仪？
zeta电位测试仪，采矿过程、采石场采掘与石料加工过程和粮食加工时所形成的固体粉尘，人造的掩蔽烟幕和毒烟等都是气溶胶的具体实例。激光粒度仪：1、采用折叠光路设计，结构紧凑美观，并采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。zeta电位测试仪，2、采用长焦距的傅立叶透镜，有效焦距550mm，很大增强仪器对大颗粒测量的测试能力，使得测试上限达2000微米。3、单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破傅立叶透镜的光瞳制约，使大接收角不受傅立叶镜头口径限制。4、探测通道数多达98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，zeta电位测试仪，大探测角140度，小探测角，结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收。使用zeta电位仪能给人们带来便利吗？上海粒度zeta电位仪适用范围
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当这两种对抗力达到平衡时，粒子以恒定的速度运动，我们一般称这个速度通为电泳迁移率。电渗法-单位场强下的液体移动速度称为电渗速度。液体的电渗速度与固液两相间的ξ电势成简单的正比关系，所以可以利用电渗来测量ξ电势，但此法只限于能形成毛细管或多孔介质的材料。Zeta电位是连续相与附着在分散粒子上的流体稳定层之间的电势差。它可以通过电动现象直接测定。测量Zeta电位的方法主要有：电泳法-当电场施加于电解质时，悬浮在电解质中的带电粒子被吸引向相反电荷的电极，作用于粒子的粘性力倾向于对抗这种运动。上海粒度zeta电位仪适用范围
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