绝缘电阻测量:-偏置电压:100V+2V-测量电压为100v时无极化变化-**小时间斜坡到100V=2秒-测量时间=60秒-被测样品应与其他样品电隔离限流电阻:**小1mohm与PCB串联在线测试程序:1)PCB干燥后立即进行绝缘电阻测量;2)将样品放入环境测试箱,并连接到在线测量设备。在试验结束前,不能取出样品,也不能打开试验箱。(***组数据)3)施加温度至85℃(持续时间3小时),然后施加湿度至85%的相对湿度(持续时间另一个3小时),没有偏置电压(第二组数据)。在85℃,85%湿度下放置96小时后,测量绝缘电阻为IR初始值(第三组数据)4)开始输出偏置电压100V-标记为0小时,开始试验;电阻测试设备的售后服务对于用户来说非常重要。湖北电阻测试
在选择智能电阻时,用户需要考虑一些关键因素。首先是精度和稳定性,用户需要根据具体的应用需求选择适合的精度和稳定性要求。其次是测量范围和分辨率,用户需要根据待测电阻的范围选择合适的智能电阻。此外,用户还需要考虑智能电阻的接口和通信方式,以便与其他设备进行连接和数据传输。智能电阻是一种集成了智能化功能的电阻器件,具有高精度、便捷操作和丰富功能的特点。它在电子工程中的应用越来越,为电阻测试提供了更加准确和便捷的解决方案。在选择智能电阻时,用户需要根据具体需求考虑精度、稳定性、测量范围和接口等因素,以便选择适合的智能电阻产品。江苏pcb板电阻测试咨询从而使绝缘体处于离子导电状态。显然,这将使绝缘体的绝缘性能下降甚至成为导体而造成短路故障。
从监控的方式看:都是通过监控其绝缘阻值变化作为**重要的判断指标;故很多汽车行业或实验室已习惯上把ECM/SIR从广义上定义为CAF的一种(线与线之间的表面CAF)。ECM/SIR与CAF的联系与差异差异点:从产生的原因看:ECM/SIR是在PCB的表面产生金属离子的迁移;而CAF是发生在PCB的内部出现铜离子沿着玻纤发生缓慢迁移,进而出现漏电;从产生的现象看:ECM/SIR会在导体间出现枝丫状(Dendrite)物质;而CAF则是出现在孔~孔、线~线、层~层、孔~线间,出现阳极金属丝;
CAF形成过程:1、常规FR4P片是由玻璃丝编辑成玻璃布,然后涂环氧树脂半固化后制成;2、树脂与玻纤之间的附著力不足,或含浸时亲胶性不良,两者之间容易出现间隙;3、钻孔等机械加工过程中,由于切向拉力及纵向冲击力的作用对树脂的粘合力进一步破坏;4、距离较近的两孔若电势不同,则正极部分铜离子在电压驱动下逐渐向负极迁移。CAF产生的原因:1、原料问题1)树脂身纯度不良,如杂质太多而招致附著力不佳;2)玻纤束之表面有问题,如耦合性不佳,亲胶性不良;3)树脂之硬化剂不良,容易吸水;4)胶片含浸中行进速度太快;常使得玻纤束中应有的胶量尚未全数充实填饱造成气泡残存。2、流程工艺问题1)孔粗-钻孔太过粗糙,造成玻纤束被拉松或分离而出现间隙;2)除胶渣-PCB制程之PTH中的除胶渣过度,或沉铜浸入玻纤束发生灯芯效应,过度的灯芯加上孔与孔相距太近时,可能会使得其间板材的绝缘品质变差加速产生CAF效应。防止发生离子迁移故障的一个重要措施当然是要保持使用环境的干燥。
试验通道数1-256通道试验时间0---9999小时(可以任意设定)低阻测试测试范围1mΩ---103Ω测量精度±(1%RD+10µΩ)**小分辨率1μΩ测试电流0.05-3.00(A)测试速度≦0.5秒/通道测试时分组16通道/组,各组所有参数可以**设置高、低温区限值可分别任意设置电阻测试模式定时触发、温度触发测试数据输出图表,EXCEL,TXT等格式,温度和阻值曲线可重叠显示。超限报警可设定配件测试电缆PTFE耐高温电缆温度监测0-4通道温度监测选件温度范围:-70℃~+200℃,精度±1℃*本系统只提供自有版权的导通电阻实时监控测试操作软件,Windows操作系统、MS-office软件及相关数据库由客户自行购买*该系统可根据客户的不同需求,定制特殊要求以实现更多功能提供质量的售后服务对于电阻测试设备的供应商来说至关重要。浙江SIR表面绝缘电阻测试注意事项
授权手机APP可以远程进行相关管理、操作,查看样品监测数据。湖北电阻测试
CAF发生的原理离子迁移现象是由溶液和电位等相关电化学现象引起的,尤其是在高密度电子产品中,材料与周围环境相互影响,导致离子迁移现象发生,形成CAF通路第一阶段的基本条件是有金属盐类存在以及有潮湿或蒸汽压存在,这两个条件都不可或缺。当施加电压或偏压时,便会产生第二阶段的CAF增长。其中,测试的温湿度越高,吸附的水分越多,生长得就越快;电压越高,加快电极反应,CAF生长得越快;PH值越低,越易发生CAF;基材的吸水率越高,越易发生CAF。影响因素:电压,材质NO.2CAF发生的主要影响因素湖北电阻测试