广州维柯在SIR/CAF测试设备研发中,始终秉持“安全第一、效率优先”的设计理念,通过硬件防护、软件优化与场景适配,实现了检测过程的安全可靠与高效便捷的双重目标。安全防护方面,设备搭载高速实时性检测电路,具备安全的击穿瞬间保护功能。当任意通道出现短路等异常情况时,系统能毫秒级断开测试回路,有效保护操作人员人身安全与设备**部件不受损坏。同时,设备整体符合实验室安全标准,从电路设计到外壳防护均经过多重严苛测试,确保长期稳定运行。效率提升层面,设备在测试速度与操作便捷性上实现双重突破。20MS/所有通道的测试速度,远超行业平均水平,可大幅缩短批量样品检测周期;操作界面充分考虑实验室应用场景,采用人性化设计,工程师无需复杂培训即可快速上手。此外,设备支持多组测试模式建立,可在1个或多个环境试验箱中同时测试不同样品,极大提升了实验室空间利用率与检测吞吐量。凭借完善的安全设计与高效的检测能力,该设备已通过公安部产品认证,获得SGS、兴欣同泰等客户的高度认可,成为可靠性检测领域的**产品之一。 所有设备可联网 , 实现远程故障诊断与维护。浙江制造电阻测试以客为尊
维柯高度重视技术研发和创新,拥有一支由行业*****和专业技术人才组成的研发团队。团队成员具备丰富的行业经验和深厚的技术功底,我们紧跟行业技术发展趋势,不断投入研发资源,致力于开发更加先进、高效的检测设备和技术。维柯与多所**高校和科研机构建立了长期的合作关系,开展产学研合作项目,共同攻克技术难题,推动行业技术进步。公司拥有先进的研发设备和完善的研发体系,为技术创新提供了坚实的保障。在PCB电气可靠性测试设备领域,维柯凭借其先进的技术、质量的产品和完善的服务,已经占据了重要的市场地位。公司的产品不仅在国内市场得到了广泛应用,还与众多国内外**实验室、科研机构、企业建立了长期稳定的合作关系。作为技术服务商,维柯始终坚持以技术研发迭代为驱动、以客户需求为中心、以为客户提供高效解决方案为导向,赢得了行业认可和客户美誉。 江苏pcb离子迁移绝缘电阻测试厂家供应以确保锡膏产品能够在更加严苛的使用环境下有更好的可靠性。

广州维柯信息技术有限公司的SIR表面绝缘电阻测试系统,集成了行业的测量技术,实现了检测精度与测试效率的双重提升。该系统采用高灵敏度传感器,每秒20ms/所有通道的速度即便是在低电阻范围内也能准确读取数据,误差率极低,确保了测试结果的科学性和可靠性。同时,其内置的算法能迅速处理大量数据,缩短测试周期,对于大规模生产线上追求快速反馈和质量控制的企业来说,无疑是提升竞争力的利器。广州维柯SIR系统,以精度与速度,平齐行业标准
四线测试Four-Wire或4-WireTest,可以认为是二线开路测试的延伸版本,聚焦于PCB板每个网络Net开路Open的阻值。基本定义与原理四线测试4-WireTest通过分离激励电流与电压测量路径,彻底消除导线电阻和接触电阻的影响,实现毫欧mΩ级高精度测量。四线测试4-WireTest的**是基于欧姆定律(R=V/I),但通过**回路设计确保测量结果*反映被测物的真实电阻值。如下图所示:通过测量被测元件R的阻值来判定对象R是否存在开路问题。R1和R2:连接被测元件或网络的导线的电阻R3和R4:电压表自带的电阻,用来平衡导线的电阻R:被测元件V:电压表A:电流表线法由来这种避免导线电阻引起误差的测量方法被称为开尔文法或四线法。特殊的连接夹称为开尔文夹,是为了便于这种连接跨越受试者电阻:。 达到设定的温度后,按照任意设定的收录间隔进行连续测试。

维柯SIR测试系统基于高精度电学测量技术:在PCB相邻导体之间施加恒定直流电压,实时监测漏电流,并通过欧姆定律换算为表面绝缘电阻值。在恒定温湿度环境下,若PCB表面残留助焊剂、污染物或存在其他缺陷,这些残留物吸湿后会电离或形成微小导电通道,导致漏电流增大,表现为绝缘电阻***下降。系统凭借高灵敏度电流检测模块,可识别pA级漏电流变化,并实时记录数据,确保测试结果的准确性与可靠性。该系统具有高精度、高稳定性、速度快的特点,在20ms/所有通道的测试速度下,电阻测量精度可达±2%,远高于IPC标准及同业产品精度,能够满足各种高精度测试需求。它支持多通道并发测试,可同时测试256个通道,也可以根据用户的特殊要求定制小集群/大集群模式,**提高了测试效率。系统还具备多通道同步校准功能,方便计量及用户区间定期对测试设备进行校准,确保测试数据的长期准确性。维柯SIR测试系统采用模块化设计,易于扩展和维护,用户可以根据实际需求灵活配置测试通道数量。 电子风力:电子高速运动碰撞原子产生的动量传递。江苏销售电阻测试批量定制
典型失效形态铝键合盘发黑(生成 Al₂O₃ 或 AlCl₃);铜焊盘绿锈(Cu₂(OH)₃Cl);锡球表面氧化,配虚焊。浙江制造电阻测试以客为尊
2.层间短路的“铜离子迁移”:CAF测试的**价值PCB是多层结构,层与层之间靠树脂绝缘,铜箔线路就藏在其中。但在高温高湿和电压的共同作用下,铜会以离子形式“悄悄搬家”(即铜离子迁移),形成类似“金属藤蔓”的导电通道,**终导致层间短路。这种故障被称为CAF失效,在5G基站、新能源汽车等高压场景中尤为高发。CAF测试(导电阳极丝测试)专门追踪这种“隐形迁移”:通过调节50V/mm~500V/mm的电压梯度,加速铜离子迁移过程,在实验室里用几天时间模拟产品3-5年的使用风险。南理工的研究显示,铜离子迁移速度在高温高湿环境下会提升10倍,而CAF测试能提前锁定这种风险。行业数据:未做CAF测试的PCB,批量交付后层间短路故障率可达12%;通过测试优化后,这一比例能降至5%以下。 浙江制造电阻测试以客为尊