企业商机
电阻测试基本参数
  • 品牌
  • 新成,浙大鸣泉,广州维柯
  • 型号
  • GWHR-256
电阻测试企业商机

1、保持测试样品无污染,做好标记,用无污染手套移动样品。做好预先准备,防止短路和开路。清洁后连接导线,连接后再清洁。烘干,在105±2℃下烘烤6小时。进行预处理,在中立环境下,保持23±2℃和50±5%的相对湿度至少24h。2、在该测试方法中相对湿度的严格控制是关键性的。5%的相对湿度偏差会造成电阻量测结果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置电压加载的情况下,一旦水凝结在测试样品表面,有可能会造成表面树枝状晶体的失效。当某些烤箱的空气循环是从后到前的时候,也可能发现水分。凝结在冷凝器窗口上的水有可能形成非常细小的水滴**终掉落在样品表面上。这样可能造成树枝状晶体的生长。这样的情况必须被排除,确保能够得到有意义的测试结果。虽然环境试验箱被要求能够提供并记录温度为65±2℃或85±2℃、相对湿度为87+3/-2%RH的环境,其相对湿度的波动时间越短越好,不允许超过5分钟。3、测量电阻。采用50V的直流偏置电压,用100V的测试电压测试每块板的菊花链网络的绝缘电阻前至少充电60S的时间。偏置电压的极性和测试电压的极性必须随时保持一致。广州维柯信息技术有限公司多通道导通电阻实时监控测试系统,1-128 通道,测试范围 10 -5Ώ---10 3Ώ。海南pcb离子迁移绝缘电阻测试发展

电阻测试

PCB/PCBA绝缘失效的表征电介质长期受到点场、热能、机械应力等的破坏。在电场的作用下,电介质会发生极化、电导、耗损和击穿等现象,这些现象的相关物理参数可以用相对介电系数、电导率、介质损耗因数、击穿电压来表征。什么是PCB/PCBA绝缘失效?PCB/PCBA绝缘失效是指电介质在电压作用下会产生能量损耗,这种损耗很大时,原先的电能转化为热能,使电介质温度升高,绝缘老化,甚至使电介质熔化、烧焦,终丧失绝缘性能而发生热击穿。电介质的损耗是衡量其绝缘性能的重要指标,电介质即绝缘材料,是电气设备、装置中用来隔离存在不同点位的导体的物质,通过各类导体间的绝缘隔断功能控制电流的方向。广西pcb绝缘电阻测试报价用户需要根据待测电阻的范围选择合适的智能电阻。

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电阻测试种类繁多,包括静态电阻测试、动态电阻测试、温度电阻测试等。静态电阻测试是常见的电阻测试方法之一。它通过将待测电阻与一个已知电阻串联,然后通过测量电路中的电压和电流来计算待测电阻的阻值。这种测试方法简单易行,适用于大多数电阻测试场景。在进行静态电阻测试时,需要注意测试电路的稳定性和准确性,以确保测试结果的可靠性。动态电阻测试是一种更为精确的电阻测试方法。它通过在待测电阻上施加一个交变电压或交变电流,然后测量电路中的相位差和幅度来计算待测电阻的阻值。与静态电阻测试相比,动态电阻测试可以消除电路中的噪声和干扰,提高测试结果的准确性。动态电阻测试常用于对高精度电阻的测试,例如精密仪器和测量设备。

CAF形成过程:1、常规FR4P片是由玻璃丝编辑成玻璃布,然后涂环氧树脂半固化后制成;2、树脂与玻纤之间的附著力不足,或含浸时亲胶性不良,两者之间容易出现间隙;3、钻孔等机械加工过程中,由于切向拉力及纵向冲击力的作用对树脂的粘合力进一步破坏;4、距离较近的两孔若电势不同,则正极部分铜离子在电压驱动下逐渐向负极迁移。CAF产生的原因:1、原料问题1)树脂身纯度不良,如杂质太多而招致附著力不佳;2)玻纤束之表面有问题,如耦合性不佳,亲胶性不良;3)树脂之硬化剂不良,容易吸水;4)胶片含浸中行进速度太快;常使得玻纤束中应有的胶量尚未全数充实填饱造成气泡残存。2、流程工艺问题1)孔粗-钻孔太过粗糙,造成玻纤束被拉松或分离而出现间隙;2)除胶渣-PCB制程之PTH中的除胶渣过度,或沉铜浸入玻纤束发生灯芯效应,过度的灯芯加上孔与孔相距太近时,可能会使得其间板材的绝缘品质变差加速产生CAF效应。CAF的增加会使板子易吸附水汽,将会造成环氧树脂与玻璃纤维的表面分离。

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在选择智能电阻时,用户需要考虑一些关键因素。首先是精度和稳定性,用户需要根据具体的应用需求选择适合的精度和稳定性要求。其次是测量范围和分辨率,用户需要根据待测电阻的范围选择合适的智能电阻。此外,用户还需要考虑智能电阻的接口和通信方式,以便与其他设备进行连接和数据传输。智能电阻是一种集成了智能化功能的电阻器件,具有高精度、便捷操作和丰富功能的特点。它在电子工程中的应用越来越,为电阻测试提供了更加准确和便捷的解决方案。在选择智能电阻时,用户需要根据具体需求考虑精度、稳定性、测量范围和接口等因素,以便选择适合的智能电阻产品。广州维柯GWHR-256 产品优势:、接口友好:软件可定制,或开放数据接口,或接入实验室 LIMS 系统!海南制造电阻测试直销价

GWHR-256多通道 SIR/CAF实时监控测试系统适用于IPC-TM-650标准,测试速度 20mS/所有通道。海南pcb离子迁移绝缘电阻测试发展

离子迁移的两大阶段离子迁移发生的主因是树脂与玻纤之间的附着力不足,或含浸时亲胶性不良,两者之间一旦出现间隙(Gap)后,又在偏压驱动之下,使得铜盐获得可移动的路径后,于是CAF就进一步形成了。离子迁移的发生可分为两阶段:STEPl是高温高湿的影响下,使得树脂与玻纤之间的附着力出现劣化,并促成玻纤表面硅烷处理层产生水解,进而形成了对铜金属腐蚀的环境。STEP2则已出现了铜腐蚀的水解反应,并形成了铜盐的沉积物,已到达不可逆反应,其反应式如下:海南pcb离子迁移绝缘电阻测试发展

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