X射线荧光光谱仪，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被普遍用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象普遍用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。X射线荧光光谱仪主要特点是灵敏度高、选择性好。上海扫描型X射线荧光光谱仪供货商
波长色散X射线荧光光谱仪的性能特点：采用特殊的光路系统，可满足不同基体中痕量元素的测量，提高信噪比，降低检出限。400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率，比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级，更加适合痕量元素的检测。采用数字多道技术，仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。油冷散热系统，保证了大功率X光源的散热，使仪器的运行更加稳定。光闸系统，保证X光源的稳定性，同时提升X光管使用寿命。抽真空系统，可以满足轻元素的测量。自动进样系统，可以一次连续检测十二个样品，大幅提高了测试人员的工作效率。杭州台式X射线荧光光谱仪采购X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱技术，可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。
进行X射线荧光光谱仪分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成分偏析产生的误差;化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同;成分不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后制成圆片;对表面不平的样品要打磨抛光;对于粉末样品，要研磨至300目-400目，然后压成圆片，也可以放入样品槽中测定。对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面，则可以把试样用酸溶解，再沉淀成盐类进行测定。对于液态样品可以滴在滤纸上，用红外灯蒸干水份后测定，也可以密封在样品槽中。总之，所测样品不能含有水，油和挥发性成分，更不能含有腐蚀性溶剂。
X射线荧光光谱仪详细过程分解：一束带有足够能量的x射线打在样品表面原子壳内层的电子上，这个波长色散X射线荧光光谱仪内的x射线管产生的，这个波长色散X射线荧光光谱仪前底端射出。x射线束打在样品表面的原子壳上，电子被激发后从原子壳内层轨道发生位移，这种位移的发生是由于从分析仪发出的x-射线束与在适当的轨道保持电子结合能发出的能量差；当x射线束的能量高于电子结合能就会发生位移。当电子撞出轨道，他们留下的空位，使原子不稳定。原子必须立即被填充来纠正这个不稳定，这些空位可以由更高的轨道上的电子移动到一个较低的轨道。离原子核越远的电子，逃逸的能量越高。因此，当电子从较高电子层到靠近原子核的电子层时，要损失一些能量。损失的能量数与两个电子层间的能量差相等，由两个电子层的距离决定。样品中检测到个别荧光能量是特定的，为了确定每个存在元素的数量，个别能量出现的比例可以通过仪器计算出来，或用其它软件。常见的X荧光光谱仪分为波长色散型和能量色散型，两者具有不同的分析范围和分析特点。
X荧光光谱仪仪器使用的安全规则：安装和维护必须由受培过训的人来实施；安全设施一定不能由未受培训的人员来处理；用户必须做到：按当地的安全规则来处理和操作系统；所有的X-ray分析系统必须定期用合适的仪器检查；一旦设备处于不安全状态，必须切断电源，并在设备上张贴“不得使用”字样；操作人员必须佩带个人剂量牌；所有操作人员知道安全的必要性；校正、调整、维修和更换X射线管必须由受过培训的人员来实施。X荧光光谱仪利用能量足够高的X射线（或电子）照射试样，原子变为激发态，激发态原子自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态即驰豫过程，期间产生X荧光。X射线荧光光谱仪是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。上海多功能X射线荧光光谱仪多少钱一台
X荧光光谱仪拥有基材自适应，软件配备多基材测试数据库。上海扫描型X射线荧光光谱仪供货商
X射线荧光光谱仪（以下简称XRF）是一种可以对多种元素进行快速、非破坏性测定的仪器，其工作原理可表述为：待测样品受X射线照射后，其中各元素原子的内壳层（K、L或M壳层）电子被激发逐出原子而引起壳外电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线（荧光）；通过测定特征X射线的波长（或能量）和强度，即可进行待测元素的定性和定量分析的光谱分析仪器。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行定性和定量分析。上海扫描型X射线荧光光谱仪供货商
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