X射线荧光光谱仪，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被普遍用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象普遍用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。X射线荧光光谱仪已被普遍用于冶金，地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。北京多功能X射线荧光光谱仪使用说明
X荧光光谱仪特点：低背景单色化激发技术有效降低光管出射谱散射线背景干扰，与硅漂移探测器相配合，将元素分析范围延伸至O和F。微区分析双曲面弯晶技术实现X射线点到点聚焦衍射，实现更高性能的微区分析，理论上聚焦点达到10um级别。元素成像与显微镜组成高精度、高灵敏度（亚ppm）、高空间分辨率元素成像系统仪器小型化采用小功率X射线管，仪器结构简单，实现小型化。应用：石油化工相关产品中微量硫、氯、硅、磷含量检测，对轻元素检出限达到0.1~0.5mg/kg水平；土壤重金属含量检测，可检测农用地以及建设用地土壤环境中Cr、Ni、Cu、Zn、Pb、As、Cd、Sn、Sb、Mn、Co、Tl等，尤其对Cd检出限降低至0.1mg/kg以下；食品重金属快速检测，对食品基体满足国家以及国际相关食品安全标准对重金属限值含量检测，快速检测食品中Cr、As、Pb、Cd等重金属含量；中药重金属含量检测，符合对中药材重金属铅、砷、镉、铜、汞限量值含量检测。安徽色散型X射线荧光光谱仪X射线荧光光谱仪的灵敏度要比吸收光谱测量高2-3个数量级。
X射线荧光光谱仪定量分析方法：X射线荧光光谱法是一种相对分析方法，光谱仪只提供X射线荧光的强度，要找到荧光强度与样品浓度的关系，需要一套高质量的标准样品，根据元素的浓度和已测的该元素的特征谱线的强度按一定关系进行拟合绘制工作曲线，以该工作曲线为基础测试同类型样品元素的组成和含量。X射线荧光光谱仪无标样分析方法：它的基本思路是：由仪器制造商测量标准样品，储存强度和工作曲线，然后将这些数据转到用户的X射线荧光分析系统中，并用随软件提供的参考样品校正仪器漂移。其优点是采用了制造商的标样、经验与知识，包括测量条件，自动谱线识辨，背景扣除，谱线重叠校正，基体校正等。无标样分析技术可以在没有标准样品的情况下分析各种样品中的七十几个元素，应用范围较广，但其适用性也带来了分析准确度的局限性。
X荧光光谱仪技术原理：X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X荧光光谱仪主要用途X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种普遍应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。X射线荧光光谱仪可以对物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测。
X荧光光谱仪与直读光谱仪区别：两者分析原理的区别，直读火花光谱仪工作原理则是用电弧 （火花） 的高温使样品中各种元素从固态直接气化并被激发而射出各元素的特征波长，用光栅分光后，成为按波长排列的“光谱” ，这些元素的特征光谱线通过通过出射狭缝，射入各自的光电倍增管（或CCD固体检测器），光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，并打印出各元素的百分含量。而 X荧光光谱仪工作原理介绍用X射线照射试样时， 试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的 X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。探测器是X荧光光谱仪很重要的一环，它的重要作用是接受和分辨信号。北京工业X荧光光谱仪订购
X荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。北京多功能X射线荧光光谱仪使用说明
X荧光光谱仪制样过程中应注意的事项：样品要烘干。样品经过粉碎要达到一定的粒度并均匀。标准样品和分析样品制样时的压力和保压时间要一致。卸压速度不要太快，要匀速下降。保持粉碎的容器和压片的模具清洁，防止样品间的相互沾污。装料密度要一致。可以采用以下方法来减少粒度效应：研细到不存在粒度效应的程度；对所有试样和标样采用标准化的研磨方法，使它们基本上具有相同的粒度或粒度分布；干法稀释。稀释剂粉末与含有分析元素的颗粒对初级和分析线束的质量吸收系数较好要相似；在高压力下压制成块；数学方法校正。北京多功能X射线荧光光谱仪使用说明
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