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X荧光光谱仪基本参数
  • 品牌
  • 天瑞,深天科
  • 型号
  • 齐全
X荧光光谱仪企业商机

X荧光光谱仪技术原理:X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X荧光光谱仪主要用途X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种普遍应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。X射线荧光光谱仪注意事项:不要将仪器对着空气做测试、不要用手拿着样品做测试。北京台式X射线荧光光谱仪原理

X荧光光谱仪仪器使用的安全规则:安装和维护必须由受培过训的人来实施;安全设施一定不能由未受培训的人员来处理;用户必须做到:按当地的安全规则来处理和操作系统;所有的X-ray分析系统必须定期用合适的仪器检查;一旦设备处于不安全状态,必须切断电源,并在设备上张贴“不得使用”字样;操作人员必须佩带个人剂量牌;所有操作人员知道安全的必要性;校正、调整、维修和更换X射线管必须由受过培训的人员来实施。X荧光光谱仪利用能量足够高的X射线(或电子)照射试样,原子变为激发态,激发态原子自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态即驰豫过程,期间产生X荧光。杭州手持式X射线荧光光谱仪厂家价格X射线荧光光谱仪是一种可以实现快速对多元素进行同时测定的设备。

X射线荧光光谱仪主要由激发源和探测系统构成。其原理就是:X射线管通过产生入射X射线,来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。e空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。电路系统符合EMC、FCC测试标准。快拆卸样品台,换薄膜更方便。

X射线荧光光谱仪是一种能量色散型X射线荧光光谱分析仪(简称:XRF光谱仪或XRF分析仪),也是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被普遍用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。XRF用X光或其他激发源照射待分析样品,样品中的元素之内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光;不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性。检测器接受这些X光,仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象普遍用于元素分析和化学分析,特别是在研究金属,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管(EURoHS)和考古学等领域,在某种程度上与原子吸收光谱仪互补,减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析。

X射线荧光光谱仪由三个主要部分组成,分别起激发、色散和探测的作用。一是X射线光管,X射线光管由阴极灯丝和阳极靶组成,灯丝通电流后会放出热电子,在阴极灯丝和阳极靶之间加一个20~60kV的高压,电子在高压作用下加速撞击阳极靶。阳极靶由金属组成,常用的材料有Rh、Mo、Cr。加速电子撞击阳极靶,与靶金属中的电子相互作用并以X射线光子的形式释放部分能量,这些X射线光子就是激发源。二是分光系统,X射线光管产生的X射线激发源照射到被测样品上,激发出样品中各个元素的各条特征谱线,穿过准直器后以平行光入射到分光晶体上。分光晶体利用X射线的衍射特性,将不同波长的X射线分开到不同的衍射角度。三是探测系统,探测器接收经过分光以后某一波长的X射线光子,将光子信号转换为电信号,获得强度值。探测器包括流气计数器(正比计数器)和闪烁计数器,流气计数器用于探测轻元素的X射线荧光,闪烁计数器用于探测重元素的X射线荧光。X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。广东常用X荧光光谱仪多少钱一台

X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱技术,可用于材料的组成成分分析,又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。北京台式X射线荧光光谱仪原理

X射线荧光光谱仪是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行定性和定量分析。X射线荧光光谱仪的荧光分析特点:主要特点是灵敏度高、选择性好,灵敏度要比吸收光谱测量高2-3个数量级。分光光度法通常在10-7级,而荧光的灵敏度达10-9。强选择性强,荧光物质具有两种特征光谱:激发光谱和吸收光谱,相对于分光光度法单一的吸收光谱来说,荧光光谱可根据激发光谱和发射光谱来鉴定物质。信息量丰富,能提供荧光物质的多种参数。北京台式X射线荧光光谱仪原理

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