首页 >  机械设备 >  沈阳顺序式X射线光谱仪使用说明「深圳市天科仪器供应」

光谱仪基本参数
  • 品牌
  • 天瑞,深天科
  • 型号
  • RoHS9800B
  • 类型
  • 原子荧光光度计
光谱仪企业商机

为了提高工作效率,降低分析成本,新一代X射线荧光光谱仪正朝着多功能方向发展。不但能对常规大面积样品进行高灵敏度的元素分析,还可对微小区域分析、区域元素含量分布成像、某些化学成分的物相分析。如用于分析元素价态及配位状况的X射线吸收光谱分析;可弥补扫描电子显微镜和能谱分析不足的X射线荧光微区面分布元素成像分析等。随着现代电子技术的发展,仪器功能那个模块有高度集成化的趋势,且采用小功率X光管,减少水冷系统,从而大幅减少仪器、由于现场分析和高温、高压、强磁场等环境下专门使用分析的需要,小型便携式和专门使用型X射线荧光光谱仪更成为研究热点。X荧光光谱分析仪能够直观的分析图谱,元素分布一目了然。沈阳顺序式X射线光谱仪使用说明

X射线荧光光谱仪有多种,以能量色散和波长色散为主。能量色散荧光光谱仪 ,能量色散型仪器的优点是不破坏被测的材料或产品,也不需要专业人员操作。能量色散X荧光光谱仪优势:分析速度快,金属及非金属元素可同时分析;分析含量范围宽,从ppm到100%;样品制备简单,无需溶解样品,直接压片就测定;不需要酸等危险品耗材,分析成本低;波长色散荧光光谱仪,此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级,也就是说,所测的数据并不存在“灰色地域”,不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多,仪器操作和能量色散一样,不需要专业人员。广州常用X射线荧光光谱仪哪些厂家X射线荧光光谱仪可以对物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测。

X荧光光谱仪引起样品误差的原因:样品物理状态不同,样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。样品的组分分布不均匀,样品组分的偏析、矿物效应等。样品的组成不一致 引起吸收、增有效应的差异造成的误差;被测元素化学结合态的改变 样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。制样操作,在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。

X荧光光谱仪XRF的功能:XRF是基于X射线的一种分析手段,当一束高能粒子与原子相互作用时,如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能,将该轨道电子逐出,形成一个空穴使原子处于激发态,由于激发态不稳定,外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态,跃迁时释放出的能量以辐射的形式放出便产生X荧光。X荧光具有特征的波长,对应的即是特征的能量,通过对光子的特征波长进行辨识,XRF能实现对元素的定性分析,通过探测特征波长的X射线光子的强度,实现元素的定量和半定量分析。X荧光光谱仪XRF的应用:固体样品中元素的定性、定量、半定量分析。固体样品类型包括块状固体、小颗粒小配件、薄膜、粉末、滤膜等。常见的XRF谱仪分为波长色散型和能量色散型,两者具有不同的分析范围和分析特点。X荧光光谱仪是一种可以对多种元素进行快速、非破坏性测定的仪器。

X荧光光谱仪的原理:X射线是一种电磁波,波长比紫外线还要短,为0.001- 10nm左右。X射线照射到物质上面以后,从物质上主要可以观测到以下三种X射线。荧光X射线、散射X射线、透过X射线,X荧光光谱仪使用的是通过对第一种荧光X射线的测定,从物质中获取元素信息(成分和膜厚)的荧光X射线法原理。物质受到X射线的照射时,发生元素所固有的X射线(固有X射线或者特征X射线)。荧光X射线装置就是通过对该X射线的检测而获取元素信息。通常人们将X光管所产生的X射线称为初级X射线。以初级X射线为激发光源照射试样,激发态试样所释放的能量不为原子内部吸收而以辐射形式发出次级X射线,这便是X射线荧光由于各种元素发射具有特定波长(或能量)的标识X射线,可利用锂漂移、硅半导体等不同探测器及能谱分析仪来确定元素的种类。而标识谱线强度可用来确定元素含量。探测器是X荧光光谱仪很重要的一环,它的重要作用是接受和分辨信号。深圳荧光光谱仪使用步骤

X荧光光谱仪可以根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响。沈阳顺序式X射线光谱仪使用说明

X射线荧光光谱仪的物理原理:当材料暴露在短波长X光检查,或伽马射线,其组成原子可能发生电离,如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势,足以驱逐内层轨道的电子,然而这使原子的电子结构不稳定,在外轨道的电子会“回补”进入低轨道,以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此,物质放射出的辐射,这是原子的能量特性。X射线荧光光谱法在化学分析:主要使用X射线束激发荧光辐射,该方法作为非破坏性分析技术,并作为过程控制的工具,普遍应用于采掘和加工工业。原则上,较轻的元素,可分析出铍(z=4),但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量,往往难以量化,所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪,可以分析从轻元素的钠(z=11)到铀,而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。沈阳顺序式X射线光谱仪使用说明

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