X荧光光谱仪三种X射线探测器的比较：流气式正比计数器适用波长范围0.15～5.0/nm，平均能量/离子对26.4eV，电子数305/光子，分辨率1.2/keV。NaI闪烁计数器适用波长范围0.02~0.2/nm，平均能量/离子对350eV，电子数23/光子，分辨率3.0/keV。Si(Li)探测器适用波长范围0.05～0.8/nm，平均能量/离子对3.6cV，电子数2116/光子，分辨率0.16/keV。尽管X荧光光谱仪由于使用分光晶体而达到约12eV的分辨率，但新的能量探测器已经可达到4eV，在分辨率方面已取得优势。事实上如果新型能量探测器在计数率和制造工艺的稳定性方面能取得突破，则X荧光光谱仪有可能在未来逐步取代复杂的波长色散X荧光光谱设备，成为X荧光光谱分析领域的主流。X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性。武汉顺序式X射线光谱仪使用说明
X射线荧光光谱仪有多种，以能量色散和波长色散为主。能量色散荧光光谱仪 ，能量色散型仪器的优点是不破坏被测的材料或产品，也不需要专业人员操作。能量色散X荧光光谱仪优势：分析速度快，金属及非金属元素可同时分析；分析含量范围宽，从ppm到100%；样品制备简单，无需溶解样品，直接压片就测定；不需要酸等危险品耗材，分析成本低；波长色散荧光光谱仪，此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级，也就是说，所测的数据并不存在“灰色地域”，不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多，仪器操作和能量色散一样，不需要专业人员。深圳光谱仪生产厂家在X荧光光谱仪X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。
X荧光光谱仪制样过程中应注意的事项：样品要烘干。样品经过粉碎要达到一定的粒度并均匀。标准样品和分析样品制样时的压力和保压时间要一致。卸压速度不要太快，要匀速下降。保持粉碎的容器和压片的模具清洁，防止样品间的相互沾污。装料密度要一致。可以采用以下方法来减少粒度效应：研细到不存在粒度效应的程度；对所有试样和标样采用标准化的研磨方法，使它们基本上具有相同的粒度或粒度分布；干法稀释。稀释剂粉末与含有分析元素的颗粒对初级和分析线束的质量吸收系数较好要相似；在高压力下压制成块；数学方法校正。
（RoHS 9800B X荧光光谱仪）产品介绍说明：X射线荧光光谱仪是一种分析技术仪器，它使用X射线与材料的相互作用来确定其元素组成。X射线荧光光谱仪适用于固体、液体和粉末，并且在大多数情况下是非破坏性的。X射线荧光光谱仪是一种现场筛选方法，不会消除对传统实验室分析的需求。随着这项技术的应用，随机样本被带到实验室重新校准X射线荧光光谱仪传感器并确认结果是准确的。X荧光光谱仪的使用也是比较多的，X荧光光谱仪在水泥工业中的优势：分析精度高，能够满足水泥行业的分析精度要求；具有优异的长期稳定性，对环境要求不高；软件操作简单，方法管理、状态观察、设备调试等功能齐全。X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种普遍应用于冶金、地质等各个领域。
X荧光光谱仪的原理：X射线是一种电磁波，波长比紫外线还要短，为0.001- 10nm左右。X射线照射到物质上面以后，从物质上主要可以观测到以下三种X射线。荧光X射线、散射X射线、透过X射线，X荧光光谱仪使用的是通过对第一种荧光X射线的测定，从物质中获取元素信息（成分和膜厚）的荧光X射线法原理。物质受到X射线的照射时，发生元素所固有的X射线（固有X射线或者特征X射线）。荧光X射线装置就是通过对该X射线的检测而获取元素信息。通常人们将X光管所产生的X射线称为初级X射线。以初级X射线为激发光源照射试样，激发态试样所释放的能量不为原子内部吸收而以辐射形式发出次级X射线，这便是X射线荧光由于各种元素发射具有特定波长（或能量）的标识X射线,可利用锂漂移、硅半导体等不同探测器及能谱分析仪来确定元素的种类。而标识谱线强度可用来确定元素含量。X荧光光谱仪是一种可以对多种元素进行快速、非破坏性测定的仪器。深圳光谱仪生产厂家
X射线荧光光谱仪主要特点是灵敏度高、选择性好。武汉顺序式X射线光谱仪使用说明
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