X荧光光谱仪引起样品误差的原因：样品物理状态不同，样品的颗粒度、密度、光洁度不一样；样品的沾污、吸潮，液体样品的受热膨胀，挥发、起泡、结晶及沉淀等。样品的组分分布不均匀，样品组分的偏析、矿物效应等。样品的组成不一致 引起吸收、增有效应的差异造成的误差；被测元素化学结合态的改变 样品氧化，引起元素百分组成的改变；轻元素化学价态不同时，谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。制样操作，在制样过程中的称量造成的误差，稀释比不一致，样品熔融不完全，样品粉碎混合不均匀，用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。X荧光光谱仪能够进行物理测量，不改变样品性质。武汉光谱仪哪里有
X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。X射线荧光光谱仪的常用探测器有二个：流气计数器和闪烁计数器。闪烁计数器很稳定，问题常出现在流气计数器上。流气计数器窗膜由一块聚酯薄膜、聚丙烯薄膜镀上一层很薄（约30nm）的铝膜所构成，由于窗膜承受大气压力，一段时间后随着基体材料的延展，铝膜可能产生裂纹，从而减弱导电性能，这种情况对脉冲高度分布影响不大，但会使计数率不稳定。新型号的X射线荧光光谱仪一般都安装1μm甚至0.6μm的窗膜，而不再使用6μm的窗膜，因此流气计数器的窗膜导电性能下降的可能性增大。检查方法：在低X射线光管功率情况下，选一个K Kα计数率约2000CPS的样品，测定计数率，然后用一个钾含量高的样品取代原样品，将光管调到满功率，保持2分钟，再将X射线光管功率减至原值，测量样品，如窗膜导电正常，将得到原计数率，如窗膜导电性能变差，会发现计数率减小，然后慢慢回升至初始值，这时就应调换窗膜。天津常用X射线荧光光谱仪鉴定规程X荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。
X射线荧光光谱仪有多种，以能量色散和波长色散为主。能量色散荧光光谱仪 ，能量色散型仪器的优点是不破坏被测的材料或产品，也不需要专业人员操作。能量色散X荧光光谱仪优势：分析速度快，金属及非金属元素可同时分析；分析含量范围宽，从ppm到100%；样品制备简单，无需溶解样品，直接压片就测定；不需要酸等危险品耗材，分析成本低；波长色散荧光光谱仪，此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级，也就是说，所测的数据并不存在“灰色地域”，不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多，仪器操作和能量色散一样，不需要专业人员。
X射线荧光光谱仪详细过程分解：一束带有足够能量的x射线打在样品表面原子壳内层的电子上，这个波长色散X射线荧光光谱仪内的x射线管产生的，这个波长色散X射线荧光光谱仪前底端射出。x射线束打在样品表面的原子壳上，电子被激发后从原子壳内层轨道发生位移，这种位移的发生是由于从分析仪发出的x-射线束与在适当的轨道保持电子结合能发出的能量差；当x射线束的能量高于电子结合能就会发生位移。当电子撞出轨道，他们留下的空位，使原子不稳定。原子必须立即被填充来纠正这个不稳定，这些空位可以由更高的轨道上的电子移动到一个较低的轨道。离原子核越远的电子，逃逸的能量越高。因此，当电子从较高电子层到靠近原子核的电子层时，要损失一些能量。损失的能量数与两个电子层间的能量差相等，由两个电子层的距离决定。样品中检测到个别荧光能量是特定的，为了确定每个存在元素的数量，个别能量出现的比例可以通过仪器计算出来，或用其它软件。X荧光光谱仪的样品不需进行预处理，不另使用化学试剂，测试过程安全、环保。
X射线荧光光谱仪主要由激发源和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线，来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。超短光路设计：提高无卤检测分辨率，提高样品分析效率，降低光管功率，延长仪器使用寿命。模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率。e空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计。电路系统符合EMC、FCC测试标准。快拆卸样品台，换薄膜更方便。X荧光光谱仪一般测量一个样品只需1-3分钟。广州顺序式X射线光谱仪
X射线荧光光谱仪可以对物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测。武汉光谱仪哪里有
关于X荧光光谱分析误区避免：由于X射线荧光的能量比较大，样品被激发后，产生的特征X射线极易被吸收，而从样品中发射出来的荧光很少，也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素，不是特长，因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。同理，对于轻元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的检出限；但对于高含量的轻元素分析，却有很高的精度。有人曾分析生铁中3%左右的碳，标准偏差不超过0.1%；分析钼铁中60%左右的钼，误差不超过0.2%；分析硅石中90%左右的二氧化硅的含量，误差不超过0.3%等。而对微量元素，镁的检量限，低于0.01%，峰几乎没有了；钠，低于0.05%，峰也没了，连强度都没了还怎么测？由此说明X荧光光谱仪适合于高含量分析，而不适合微量元素的分析。武汉光谱仪哪里有
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