关于X荧光光谱分析误区避免：由于X射线荧光的能量比较大，样品被激发后，产生的特征X射线极易被吸收，而从样品中发射出来的荧光很少，也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素，不是特长，因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。同理，对于轻元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的检出限；但对于高含量的轻元素分析，却有很高的精度。有人曾分析生铁中3%左右的碳，标准偏差不超过0.1%；分析钼铁中60%左右的钼，误差不超过0.2%；分析硅石中90%左右的二氧化硅的含量，误差不超过0.3%等。而对微量元素，镁的检量限，低于0.01%，峰几乎没有了；钠，低于0.05%，峰也没了，连强度都没了还怎么测？由此说明X荧光光谱仪适合于高含量分析，而不适合微量元素的分析。X荧光光谱仪主要包括光源、激发单色器、样品池、荧光单色器及探测器等主要部件。广州手持式X射线光谱仪哪家便宜
（RoHS 9800B X荧光光谱仪）产品介绍说明：X射线荧光光谱仪是一种分析技术仪器，它使用X射线与材料的相互作用来确定其元素组成。X射线荧光光谱仪适用于固体、液体和粉末，并且在大多数情况下是非破坏性的。X射线荧光光谱仪是一种现场筛选方法，不会消除对传统实验室分析的需求。随着这项技术的应用，随机样本被带到实验室重新校准X射线荧光光谱仪传感器并确认结果是准确的。X荧光光谱仪的使用也是比较多的，X荧光光谱仪在水泥工业中的优势：分析精度高，能够满足水泥行业的分析精度要求；具有优异的长期稳定性，对环境要求不高；软件操作简单，方法管理、状态观察、设备调试等功能齐全。深圳顺序式X射线光谱仪哪家便宜X射线荧光光谱仪主要特点是灵敏度高、选择性好。
X射线荧光光谱仪及其应用：X射线管产生的初级X射线照射样品表面，样品中元素外层电子被激发发生能级跃迁而释放出元素特征X射线荧光，能量色散型探测器将不同元素的特征X射线荧光分辨并探测其强度，称为能量色散型X射线荧光光谱仪。样品中元素特征X射线荧光经分光晶体按其波长不同进行分光，并由探测器探测强度，称为波长色散型X射线荧光光谱仪。可见，ED XRF与WD XRF主要区别在于样品中产生的元素荧光是经能量探测器直接探测能量还是经晶体对不同波长分光探测。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前进行X射线光的单色化处理，单色化的手段有依靠双曲面弯晶实现点到点（X射线管光斑点到样品点）聚焦衍射，也有采用多层膜光学器件实现单色化衍射，也可以采用二次靶技术实现靶材被激发产生的靶材特征荧光射线进一步照射样品。其优势是单色化激发极大降低了由于X射线管出射谱韧致辐射照射样品而产生的连续散射线背景干扰，获得较佳的元素荧光信号峰背比。
X荧光光谱仪三种X射线探测器的比较：流气式正比计数器适用波长范围0.15～5.0/nm，平均能量/离子对26.4eV，电子数305/光子，分辨率1.2/keV。NaI闪烁计数器适用波长范围0.02~0.2/nm，平均能量/离子对350eV，电子数23/光子，分辨率3.0/keV。Si(Li)探测器适用波长范围0.05～0.8/nm，平均能量/离子对3.6cV，电子数2116/光子，分辨率0.16/keV。尽管X荧光光谱仪由于使用分光晶体而达到约12eV的分辨率，但新的能量探测器已经可达到4eV，在分辨率方面已取得优势。事实上如果新型能量探测器在计数率和制造工艺的稳定性方面能取得突破，则X荧光光谱仪有可能在未来逐步取代复杂的波长色散X荧光光谱设备，成为X荧光光谱分析领域的主流。X荧光光谱仪能实现对元素的定性分析，通过探测特征波长的X射线光子的强度。
X荧光光谱仪技术原理：X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X荧光光谱仪主要用途X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种普遍应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。X荧光光谱仪制样过程中应注意样品要烘干，样品经过粉碎要达到一定的粒度并均匀。广州手持式X射线光谱仪哪家便宜
X荧光光谱仪可以根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响。广州手持式X射线光谱仪哪家便宜
X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。由样品制备和样品自身引起的误差：样品的均匀性。样品的表面效应。粉末样品的粒度和处理方法。样品中存在的谱线干扰。样品本身的共存元素影响即基体效应。样品的性质。标准样品的化学值的准确性。广州手持式X射线光谱仪哪家便宜
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