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光谱仪基本参数
  • 品牌
  • 天瑞,深天科
  • 型号
  • RoHS9800B
  • 类型
  • 原子荧光光度计
光谱仪企业商机

X荧光光谱仪XRF的功能:XRF是基于X射线的一种分析手段,当一束高能粒子与原子相互作用时,如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能,将该轨道电子逐出,形成一个空穴使原子处于激发态,由于激发态不稳定,外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态,跃迁时释放出的能量以辐射的形式放出便产生X荧光。X荧光具有特征的波长,对应的即是特征的能量,通过对光子的特征波长进行辨识,XRF能实现对元素的定性分析,通过探测特征波长的X射线光子的强度,实现元素的定量和半定量分析。X荧光光谱仪XRF的应用:固体样品中元素的定性、定量、半定量分析。固体样品类型包括块状固体、小颗粒小配件、薄膜、粉末、滤膜等。常见的XRF谱仪分为波长色散型和能量色散型,两者具有不同的分析范围和分析特点。X荧光光谱仪是基于X射线的一种分析手段。无锡工业X射线荧光光谱仪

X荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。主要包括光源、激发单色器、样品池、荧光单色器及探测器等主要部件。而探测器是很重要的一环,它的重要作用是接受和分辨信号,由于探测器性能的不同,在选用探测器时,就需要综合考虑多种因素。好的探测器不只需要具有高分辨率和高计数率,还需要有较宽的元素分析范围和有效活性区。其应用领域和使用环境等也是需要关注之一。就目前X荧光光谱仪常用的三种X射线探测器而言,产生一个离子对的平均能量,在Si(Li)探测器、流气式正比计数器、闪烁计数器之间大约相差一个量级,而分辨率与统一个光子产生的电子数的平方根成正比,故三者之间的分辨率也粗略相差三倍。由人射光子在探测器中产生的等价离子对数目与人射光子能量成正比,与产生离子对的平均能量成反比。北京荧光光谱仪哪家便宜X荧光光谱仪使用和维护简单、方便,对人员专业要求低。

为了提高工作效率,降低分析成本,新一代X射线荧光光谱仪正朝着多功能方向发展。不但能对常规大面积样品进行高灵敏度的元素分析,还可对微小区域分析、区域元素含量分布成像、某些化学成分的物相分析。如用于分析元素价态及配位状况的X射线吸收光谱分析;可弥补扫描电子显微镜和能谱分析不足的X射线荧光微区面分布元素成像分析等。随着现代电子技术的发展,仪器功能那个模块有高度集成化的趋势,且采用小功率X光管,减少水冷系统,从而大幅减少仪器、由于现场分析和高温、高压、强磁场等环境下专门使用分析的需要,小型便携式和专门使用型X射线荧光光谱仪更成为研究热点。

X射线荧光光谱仪由三个主要部分组成,分别起激发、色散和探测的作用。一是X射线光管,X射线光管由阴极灯丝和阳极靶组成,灯丝通电流后会放出热电子,在阴极灯丝和阳极靶之间加一个20~60kV的高压,电子在高压作用下加速撞击阳极靶。阳极靶由金属组成,常用的材料有Rh、Mo、Cr。加速电子撞击阳极靶,与靶金属中的电子相互作用并以X射线光子的形式释放部分能量,这些X射线光子就是激发源。二是分光系统,X射线光管产生的X射线激发源照射到被测样品上,激发出样品中各个元素的各条特征谱线,穿过准直器后以平行光入射到分光晶体上。分光晶体利用X射线的衍射特性,将不同波长的X射线分开到不同的衍射角度。三是探测系统,探测器接收经过分光以后某一波长的X射线光子,将光子信号转换为电信号,获得强度值。探测器包括流气计数器(正比计数器)和闪烁计数器,流气计数器用于探测轻元素的X射线荧光,闪烁计数器用于探测重元素的X射线荧光。常见的X荧光光谱仪分为波长色散型和能量色散型,两者具有不同的分析范围和分析特点。

X射线荧光光谱仪测试样品要求:通常的定性半定量分析中X射线荧光光谱分析对测试样品有以下要求:这要求测试样品需要是均匀的,因为X射线荧光光谱分析区域体现出来的均匀性取决于材料受仪器激发的体积内样品的物理均匀性。例如尺寸合适的金属合金、塑料壳就可以看作是一个均匀的样品。对于不均匀的样品,我们需要经过处理后再进行分析,例如矿物或地质样品需要经过研磨成粉末后压片处理。有一定尺寸和厚度,X射线荧光光谱分析要求所测试的样品要完全覆盖光谱的测试窗口。覆盖不只只是指样品的测试平面宽度,还有样品的厚度要大于分析层(产生X射线荧光)的厚度,比如聚合物和轻金属如Al、Mg或Ti较小厚度要求5mm,液体厚度较小15mm,其它合金厚度较小1mm,需要压片处理的粉末样品一般4g以上。X荧光光谱分析仪检测过程中不产生任何废气、废水。沈阳顺序式光谱仪使用步骤

在X荧光光谱仪X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。无锡工业X射线荧光光谱仪

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