首页 >  机械设备 >  沈阳X射线光谱仪鉴定规程「深圳市天科仪器供应」

光谱仪基本参数
  • 品牌
  • 天瑞,深天科
  • 型号
  • RoHS9800B
  • 类型
  • 原子荧光光度计
光谱仪企业商机

波长色散X射线荧光光谱仪的性能特点:采用特殊的光路系统,可满足不同基体中痕量元素的测量,提高信噪比,降低检出限。400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率,比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级,更加适合痕量元素的检测。采用数字多道技术,仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。油冷散热系统,保证了大功率X光源的散热,使仪器的运行更加稳定。光闸系统,保证X光源的稳定性,同时提升X光管使用寿命。抽真空系统,可以满足轻元素的测量。自动进样系统,可以一次连续检测十二个样品,大幅提高了测试人员的工作效率。X射线荧光光谱仪的灵敏度要比吸收光谱测量高2-3个数量级。沈阳X射线光谱仪鉴定规程

X射线荧光光谱仪有多种,以能量色散和波长色散为主。能量色散荧光光谱仪 ,能量色散型仪器的优点是不破坏被测的材料或产品,也不需要专业人员操作。能量色散X荧光光谱仪优势:分析速度快,金属及非金属元素可同时分析;分析含量范围宽,从ppm到100%;样品制备简单,无需溶解样品,直接压片就测定;不需要酸等危险品耗材,分析成本低;波长色散荧光光谱仪,此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级,也就是说,所测的数据并不存在“灰色地域”,不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多,仪器操作和能量色散一样,不需要专业人员。武汉手持式X射线光谱仪鉴定规程X射线荧光光谱仪是野外现场分析和过程控制分析等方面首要选择仪器之一。

X射线荧光光谱仪原理就是:X射线管通过产生入射X射线,来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。

(RoHS 9800B X荧光光谱仪)产品介绍说明:X射线荧光光谱仪是一种分析技术仪器,它使用X射线与材料的相互作用来确定其元素组成。X射线荧光光谱仪适用于固体、液体和粉末,并且在大多数情况下是非破坏性的。X射线荧光光谱仪是一种现场筛选方法,不会消除对传统实验室分析的需求。随着这项技术的应用,随机样本被带到实验室重新校准X射线荧光光谱仪传感器并确认结果是准确的。X荧光光谱仪的使用也是比较多的,X荧光光谱仪在水泥工业中的优势:分析精度高,能够满足水泥行业的分析精度要求;具有优异的长期稳定性,对环境要求不高;软件操作简单,方法管理、状态观察、设备调试等功能齐全。X荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。

X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱技术,既可用于材料的组成成分分析,又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。X射线荧光光谱仪的常用探测器有二个:流气计数器和闪烁计数器。闪烁计数器很稳定,问题常出现在流气计数器上。流气计数器窗膜由一块聚酯薄膜、聚丙烯薄膜镀上一层很薄(约30nm)的铝膜所构成,由于窗膜承受大气压力,一段时间后随着基体材料的延展,铝膜可能产生裂纹,从而减弱导电性能,这种情况对脉冲高度分布影响不大,但会使计数率不稳定。新型号的X射线荧光光谱仪一般都安装1μm甚至0.6μm的窗膜,而不再使用6μm的窗膜,因此流气计数器的窗膜导电性能下降的可能性增大。检查方法:在低X射线光管功率情况下,选一个K Kα计数率约2000CPS的样品,测定计数率,然后用一个钾含量高的样品取代原样品,将光管调到满功率,保持2分钟,再将X射线光管功率减至原值,测量样品,如窗膜导电正常,将得到原计数率,如窗膜导电性能变差,会发现计数率减小,然后慢慢回升至初始值,这时就应调换窗膜。X射线荧光光谱仪的常用探测器有二个:流气计数器和闪烁计数器。沈阳荧光光谱仪有哪几种

X射线荧光光谱仪主要特点是灵敏度高、选择性好。沈阳X射线光谱仪鉴定规程

X荧光光谱仪操作时注意事项:不要直接分析低熔点样品,如低熔点沥青、苯酚、油漆等,有些样品在室温下是固体,经射线照射会融化,如果滴到光管头上,会损坏仪器。如果要分析,请放在液体杯内测量。分析液体样品和粉末样品时,必须在氦气模式下测量,不能抽真空。不要长时间分析液体样品,液体杯的照射时间一般不能超过半小时。不要分析压得不坚实的样品,如有裂纹的压片。如果大块样品掉到了样品室,立刻停止样品分析。X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种普遍应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得多也普遍。沈阳X射线光谱仪鉴定规程

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