江西RF射频测试方案

人们早采用射频测试探针技术与现在的工具是很不相同的，早期探针使用了由一个很短的线极尖(wire tip)而逐渐收敛的50-Ω微带线，通过探针基片上一个小孔而与被测器件(DUT)的压点（pad）相接触。此时，其技术难度在于如何突破4GHz时实现可重复测量。虽然有可能通过校准过程来剔除一个接触线极尖相对较大的串联电感的影响，但当圆晶片的夹具被移动时，线极尖的辐射阻抗会有较大的变化。高频测量使用的极尖设计与用于直流和低频测量的极尖不同，而且必须使50-Ω环境尽可能地接近于DUT压点。射频器件是收发无线信号中的关键部件，遍布于各种通信场景，5G又进一步推动了射频器件性能进化。江西RF射频测试方案

一个传统的射频测试探针包括了以下几个部分：测试仪器接口（同轴或是波导）从测试接口到微同轴电缆的转接微同轴电缆到平面波导（CPW/MS等）转接共面接口到DUT部分即针尖。其他一些相关的概念Probepitch：指的是针尖(ProbeTips)之间的间距，一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用，针尖间距一般都比较小。Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时，当探针接触到DUT，它将在ZY平面弯曲移动。通常，这也是我们判断针是否扎上的一个现象。De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术，之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。东莞BLE射频测试系统射频测试的前端各种器件与基带一起配合工作，共同决定了手机的通信模式、能力及性能。

即使射频测试和微波测试系统的集成化程度越来越高，但是连接被测器件（DUT）和测试系统的测试电缆组件依然需要由测试者来操作连接，至少到目前为止，尚无任何迹象表明射频连接器件会产生改变性的变革。如果你所从事的工作是射频测试和测量，则无论是哪个细分领域，本书中所描述的器件对你来说存在两种意义--一类是必须了解的，每天都要直接面对的器件，如测试电缆组件和转接器、天线、衰减器、滤波器、放大器等；另一类可能你不会直接面对，但是在你的测试系统内部起着重要的作用的器件，如定向耦合器和功率分配器、隔离器和环流器等，了解这些器件的属性可以让你对测试系统有更深的理解，从而更好地完成你的测试任务。而本书中所描述的测试应用部分，即可在你有了相关的自动化测试系统，了解了测试原理后就可以帮助你更好地理解和使用这些测试系统。

射频测试中的功率测试怎么完成呢？无论是在实验室，产线上还是教学，功率测量都是必不可少的。那么，如何进行射频功率测试呢？1、频谱分析仪测量频谱分析仪(以下简称频谱仪)是一种基础的频域测试测量仪器，被测信号经过低通滤波器后进入混频器，与同时进入混频器的本地振荡器信号进行混频。由于混频器是非线性器件，所以会产生互调信号，落入滤波器的信号经过ADC，再依次进入中频滤波器，包络检波器，视频滤波器，视频检波器，将轨迹显示在屏幕上。2、吸收式功率测量，3、通过式测量通过式功率测量是对吸收式功率测量法的一种扩展应用，解决了吸收式功率计测量大功率和VSWR的局限性。通过式功率测量比较大的意义就是可以测量放大器或发射机在大功率状态下与负载的匹配。 射频测试仪器的种类很多，应用越来越多，包括从信号源和功率计，到频谱和网络分析仪等各种仪器。

如何使用示波器进行射频信号测试？每一位做射频或者高速数字设计的工程师都会同时面临频域和时域测试的问题。比如从事高速数字电路设计的工程师通常从时域分析信号的波形和眼图，也会借用频域的S参数分析传输通道的插入损耗，或者用相位噪声指标来分析时钟抖动等。对于无线通信、雷达、导航信号的分析来说，传统上需要进行频谱、杂散、临道抑制等频域测试，但随着信号带宽更宽以及脉冲调制、跳频等技术的应用，有时采用时域的测量手段会更加有效。现代实时示波器的性能比起10多年前已经有了大幅度的提升，可以满足高带宽、高精度的射频微波信号的测试要求。除此以外，现代实时示波器的触发和分析功能也变得更加丰富、操作界面更加友好、数据传输速率更高、多通道的支持能力也更好，使得高带宽实时示波器可以在宽带信号测试领域发挥重要的作用。射频功率的测量方法有：频谱分析仪测量、吸收式功率测量、吸收式功率测量等。江西RF射频测试方案

耦合测试主要就是模拟整机的一个使用环境，测试手机在天线环境下的射频性能。检测天线与主板之间的匹配性。江西RF射频测试方案

射频测试中射频探针的基本要求和工作原理：1）探针的50-Ω平面传输线应当直接与DUT压点相接触而不用接触导线。对于微带线和随后的共面探针设计，探针的接触是用小的金属球来实现的，这个金属球要足够大以保证可靠且可重复性的接触。2）为了能同时接触到DUT的信号压点和接地压点，需要将探针倾斜。这个过程被称为“探针的平面化”。3）探针的接触重复性比同轴连接器的可重复性要好得多。便于进行探针极尖和在片标准及专门校准方法的开发。4）具有很高重复性的接触可以进行探针的准确校准并将测量参考平面移向其极尖处。来自探针线和到同轴连接器的过渡所产生的探针的损耗及反射是通过由射频电缆和连接器的误差相类似的方式而抵消的。5）由于其很小的几何尺寸，人们可以假设平面标准件的等效模型纯粹是集总式的。此外，人们可以从标准件的几何尺寸来很容易地预测模型参数。江西RF射频测试方案