场效应晶体管（FieldEffectTransistor缩写(FET)）简称场效应管。主要有两种类型：结型场效应管（junctionFET—JFET)和金属-氧化物半导体场效应管（metal-oxidesemiconductorFET，简称MOS-FET）。由多数载流子参与导电，也称为单极型晶体管。它属于电压控制型半导体器件。具有输入电阻高（107～1015Ω）、噪声小、功耗低、动态范围大、易于集成、没有二次击穿现象、安全工作区域宽等优点，现已成为双极型晶体管和功率晶体管的强大竞争者。 场效应管的用途包括放大器、开关、振荡器、电压控制器等。绍兴N沟道场效应管特点
场效应管的好坏测量不仅适用于电子电路的设计和维护,还在其他领域有广泛的应用。例如,在通信领域中，对场效应管的好坏测量可以用于评估无线电设备的性能和稳定性。在工业控制领域中，对场效应管的好坏测量可以用于判断电机驱动电路的工作状态。此外，场效应管的好坏测量方法也可以应用于教学实验和科研领域。场效应管的好坏测量是确保电子电路正常运行和性能优化的重要环节。本文介绍了几种常用的场效应管好坏测量方法，包括静态参数测量法、动态参数测量法、替换法和热敏电阳法。这些方法可以根据实际需求选择合适的方法进行测量。同时，场效应管的好坏测量方法也在各个领域有广泛的应用，对于评估设备性能和判断电路状态具有重要意义。湖州固电场效应管用途场效应管的优势包括低噪声、高输入阻抗、低功耗、高频率响应等。
替换法是一种简单而有效的场效应管好坏测量方法。它通过将待测场效应管与一个已知好坏的场效应管进行替换，观察电路的工作状态来判断待测场效应管的好坏。如果替换后电路正常工作，则说明待测场效应管正常，反之，则说明待测场效应管存在问题。热敏电阳法是一种通过测量场效应管的温度来评估其好坏的方法。场效应管在工作时会产生一定的热量，如果场效应管存在问题，其温度会异常升高。通过测量场效应管的温度变化，可以判断其好坏。这种方法需要使用专门的热敏电阻传感器进行测量。
场效应管的测试判定:栅极用万用表黑表笔碰触管子的一个电极，红表笔分别碰触另外两个电极。若两次测出的阻值都很小，说明均是正向电阻，该管属于N沟道场效应管，黑表笔接的也是栅极。制造工艺决定了场效应管的源极和漏极是对称的，可以互换使用，并不影响电路的正常工作，所以不必加以区分。源极与漏极间的电阻约为几千欧。 注意不能用此法判定绝缘栅型场效应管的栅极。因为这种管子的输入电阻极高，栅源间的极间电容又很小，测量时只要有少量的电荷，就可在极间电容上形成很高的电压，容易将管子损坏。 场效应管的可靠性较高，寿命长。
场效应管电阻法测好坏:测电阻法是用万用表测量场效应管的源极与漏极、栅极与源极、栅极与漏极、栅极G1与栅极G2之间的电阻值同场效应管手册标明的电阻值是否相符去判别管的好坏。具体方法：首先将万用表置于R×10或R×100档，测量源极S与漏极D之间的电阻，通常在几十欧到几千欧范围（在手册中可知，各种不同型号的管，其电阻值是各不相同的），如果测得阻值大于正常值，可能是由于内部接触不良；如果测得阻值是无穷大，可能是内部断极。然后把万用表置于R×10k档，再测栅极G1与G2之间、栅极与源极、栅极与漏极之间的电阻值，当测得其各项电阻值均为无穷大，则说明管是正常的；若测得上述各阻值太小或为通路，则说明管是坏的。要注意，若两个栅极在管内断极，可用元件代换法进行检测。 场效应晶体管可由沟道和栅极之间的绝缘方法来区分。南京非绝缘型场效应管生产
由于场效应管的输入阻抗高，可以减少电路中的信号损失，因此在放大低电平信号时非常有用。绍兴N沟道场效应管特点
现行有两种命名方法。第一种命名方法与双极型三极管相同，第三位字母J代结型场效应管，O代绝缘栅场效应管。第二位字母代材料，D是P型硅，反型层是N沟道；C是N型硅P沟道。例如,3DJ6D是结型N沟道场效应三极管，3DO6C是绝缘栅型N沟道场效应三极管。第二种命名方法是CS××#，CS代场效应管，××以数字代型号的序号，#用字母代同一型号中的不同规格。例如CS14A、CS45G等。场效应管的作用：场效应管可应用于放大。由于场效应管放大器的输入阻抗很高，因此耦合电容可以容量较小，不必使用电解电容器。场效应管很高的输入阻抗非常适合作阻抗变换。常用于多级放大器的输入级作阻抗变换。场效应管可以用作可变电阻。场效应管可以方便地用作恒流源。场效应管可以用作电子开关。 绍兴N沟道场效应管特点
