电子产品失效故障中，虚焊焊点失效占很大比重，据统计数字表明，在电子整机产品故障中，有将近一半是由于焊接不良引起的，几乎超过电子元器件失效的概率，它使电子产品可靠性降低，轻则噪声增加技术指标劣化，重则电路板无法完成设计功能，更为严重的是导致整个系统在未有任何前兆的情况下突然崩溃，造成重大的经济损失和信誉损失。在电子产品生产的测试环节以及售后维修环节，虚焊造成的故障让技术人员在时间、精力上造成极大的浪费，有时为找一个虚焊点，用上一整天的时间的情况并不鲜见。在电子产品生产过程及维修过程中，即使从各方面努力，也无法杜绝虚焊现象，因此，虚焊一直是困扰电子行业的焦点问题。笔者长期从事电子产品装联、电子电路测试、电子产品优化和电子产品系统维修，浅谈《电子产品生产中虚焊分析及预防》，旨在减少虚焊的危害，提高电子产品质量，也是抛砖引玉，以引起大家对虚焊的注。虚焊：在电子产品装联过程中所产生的不良焊点之一，焊点的焊接界面上未形成良好的金属间化合物（IMC）,它使元器件与基板间形成不可靠连接。（这里定义的虚焊指PCBA上的焊点虚焊。）产生原因：基板可焊面和电子元件可焊面被氧化或污染。场效应管mos参数选型，深圳厂家。氧化物半导体场效应管销售厂
MOS场效应管的测试方法(1)．准备工作测量之前，先把人体对地短路后，才能摸触MOSFET的管脚。在手腕上接一条导线与大地连通，使人体与大地保持等电位。再把管脚分开，然后拆掉导线。(2)．判定电极将万用表拨于R×100档，首先确定栅极。若某脚与其它脚的电阻都是无穷大，证明此脚就是栅极G。交换表笔重测量，S-D之间的电阻值应为几百欧至几千欧，其中阻值较小的那一次，黑表笔接的为D极，红表笔接的是S极。(3)．检查放大能力(跨导)将G极悬空，黑表笔接D极，红表笔接S极，然后用手指触摸G极，表针应有较大的偏转。双栅MOS场效应管有两个栅极G1、G2。为区分之，可用手分别触摸G1、G2极，其中表针向左侧偏转幅度较大的为G2极。目前有的MOSFET管在G-S极间增加了保护二极管，平时就不需要把各管脚短路了。MOS场效应晶体管在使用时应注意分类，不能随意互换。MOS场效应晶体管由于输入阻抗高(包括MOS集成电路)极易被静电击穿，使用时应注意以下规则：(1).MOS器件出厂时通常装在黑色的导电泡沫塑料袋中，切勿自行随便拿个塑料袋装。也可用细铜线把各个引脚连接在一起，或用锡纸包装。2).取出的MOS器件不能在塑料板上滑动，应用金属盘来盛放待用器件。(3).焊接用的电烙铁必须良好接地。低功率场效应管产品介绍盟科MK2301参数是可以替代SI2301的。
MOS场效应半导体三极管双极性三极管是电流控制器件，其输入电阻不够高，在许多场合下不能满足人们的要求，经过不断的探索和实践，人们研制出一种仍具有PN结，但工作机理全然不同的新型半导体器件--场效应管(FET)。场效应三极管用电场效应来控制电流，故此命名，它的特点是输入阻抗高、噪音低、热稳定性好且抗幅射能力强，在工艺上便于集成，因此得到广的应用根据结构和原理的不同，场效应三极管可分为以下两大类。①结型场效应三极管(JFET)②绝缘栅型场效应三极管(MOS管)结型场效应管（JFET）以N沟道结型场效应管为例，以一块N型(多子为电子)半导体作基片，在它的两侧各光刻出一块区域，进行高浓度P+扩散(三价的硼)，在两侧形成两个PN结。两个P+区的引出线连在一起，作为一个电极，称之为栅极G。在N型半导体的两端引出两个电极，分别叫源极S和漏极D。3个电极G、S、D的作用，可以近似地认为分别相当于半导体三极管的基极B、射极E和集电极C。两个PN结之间的区域，称为导电沟道，当在漏极和源极间加上电压，这个区域就是载流子流过的渠道，也就是电流的通道。由于这里的导电通道是N型半导体，所以这种管子叫N沟道结型场效应管，它的为符号如图所示。箭头的方向。
取出的MOS器件不能在塑料板上滑动，应用金属盘来盛放待用器件。焊接用的电烙铁须要不错接地。在焊接前应把电路板的电源线与地线短接，再MOS器件焊接完成后在分离。MOS器件各引脚的焊接依次是漏极、源极、栅极。拆机时依次相反。电路板在装机之前，要用接地的线夹子去碰一下机械的各接线端子，再把电路板接上来。MOS场效应晶体管的栅极在容许条件下，接入保护二极管。在检修电路时应留意查明原来的保护二极管是不是损坏。JK9610A型功率场效应管测试仪：是一种新颖的全数字显示式功率场效应管参数测试设备，可用于标称电流约在2-85A，功率在300W以内的N沟导和P沟导功率场效应管主要参数的测试。场效应管测试仪它可以精确测量击穿电压VDSS、栅极打开电压VGS(th)和放大特点参数跨导Gfs，更是是跨导Gfs的测试电流可以达到50A，由于使用脉冲电流测试法，即使在大电流测试时也不会对被测器件导致任何损坏，更可以在大电流状况下对场效应管开展参数一致性的测试(配对)；仪器全然可用于同等电流等级的IGBT参数的测量；仪器还是一台性能甚为优于的电子元器件耐压测试装置，其测试耐压时的漏电流有1mA、250uA、25uA三挡可以选项。252封装MOS管盟科电子做得很不错。。
简称晶体管）是内部含有2个PN结，并且具有放大能力的特殊器件。它分NPN型和PNP型两种类型，这两种类型的三极管从工作特性上可互相弥补，所谓OTL电路中的对管就是由PNP型和NPN型配对使用。按材料来分可分硅和锗管，我国目前生产的硅管多为NPN型，锗管多为PNP型。4、半导体三极管放大的条件:要实现放大作用，必须给三极管加合适的电压，即管子发射结必须具备正向偏压，而集电极必须反向偏压,这也是三极管的放大必须具备的外部条件。5、半导体三极管的主要参数a;电流放大系数：对于三极管的电流分配规律Ie=Ib+Ic,由于基极电流Ib的变化，使集电极电流Ic发生更大的变化，即基极电流Ib的微小变化控制了集电极电流较大，这就是三极管的电流放大原理。即β=ΔIc/ΔIb。b;极间反向电流，集电极与基极的反向饱和电流。c;极限参数：反向击穿电压，集电极比较大允许电流、集电极比较大允许功率损耗。6、半导体三极管具有三种工作状态，放大、饱和、截止，在模拟电路中一般使用放大作用。饱和和截止状态一般合用在数字电路中。a;半导体三极管的三种基本的放大电路。b;三极管三种放大电路的区别及判断可以从放大电路中通过交流信号的传输路径来判断，没有交流信号通过的极。盟科有TO封装形式的MOS管。江门高压场效应管
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让氮气把焊料与空气隔绝开来，这样就大为减少浮渣的产生。目前较好的方法是在氮气保护下使用含磷的焊料，可将浮渣率控制在比较低的程度，焊接缺陷少。在SMT工艺中回流焊工序，焊膏在使用中也会不断氧化，其中的金属含量越来越低，或者其中的助焊剂变少，也会造成虚焊。合理选用回流温度曲线，可降低虚焊的产生。焊料与PCB金属层，焊料与元件脚金属层之间的匹配不当，也会造成虚焊。有铅焊料与无铅焊端混用时，如果采用有铅焊料的温度曲线，有铅焊料先熔，而无铅焊端不能完全熔化，使元件一侧的界面不能生成良好的金属间合金层，因此有铅焊料与无铅焊端混用时焊接质量差。在这种情况下，可提高焊接温度，一般提高到230～235℃就可以了。4其他因素造成虚焊及其预防1）波峰焊和回流焊焊料降温凝固的过程中，PCBA抖动产生扰动的焊点，其强度低，在客户使用中焊点极易开路出现故障，电子装联中，也常把这种情况归在虚焊的范畴。2）当PCBA存在较大的弯曲时，产品装配中，将其固定在机箱的底座上，PCBA被强制平整，产生应力，焊点随时间将产生裂纹，导致开路。（严格讲，这应该是焊点后期失效，属广义的虚焊了）。预防的方法是采用平整度合格的PCB。氧化物半导体场效应管销售厂
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