分部多SEM扫描电镜+CP磷酸铁锂晶界界限测试检测

电池循环后的鼓包气分析

客户需求

电池在循环使用或储存中,会发生鼓包。而鼓包气则是电池在过充或过放、电解液分解、微短路等情况下,由于内部压力累积而产生的气体。这些气体会导致电池的热失控,进i而引发起爆或火灾等安全事故。因此,对于鼓包气的检测和分析至关重要。

解决方案

目前,科学指南针的专业团队通过对热失控过程中的鼓包气取样,后用气相色谱进行定性分析和定量分析。该方法可以检测出各种气体种类,包括永jiu气体如Hy、CH,CO、CO,等,短链碳氧化合物(C2-C5)及其他可挥发性化合物。

检测结果

通过对电池鼓包气分析,分析得主要产气组分为氢气,溯源是在在生产过程中水分较高带来的产气影响,为客户揪出了安全隐患,产品正常生产。 SEM扫描电镜可以帮助客户评估电池材料的导电性能和电子传输机制。分部多SEM扫描电镜+CP磷酸铁锂晶界界限测试检测

极片杂质分析

客户需求

越来越多的厂商开始重视电池的前处理工艺,尤其是针对极片上的颗粒或微量金属残渣。这些颗粒或微量金属残渣容易在长期充放电和激烈碰撞后造成电池短路,甚至可能引起自燃和起爆。想将这些颗粒或者金属残渣彻底除掉,就要知道其组成,通过杂质分析服务则可以知道道其组成,进而选择合适工艺将其去除。

解决方案

实验室选择了高温热解和电化学氧化等方法进行前处理,这样可以有效地消解样品中的微量金属,还建立了ICP标准曲线,并进行了大量的测试和验证。合适的前处理方法和ICP标准曲线,保证了检测结果的准确性。数据回流也能帮助生产厂商有效地控制电池中的微量金属含量,确保电池的安全性和质量。 高分辨率SEM扫描电镜+CP负极极片锂电池SEI膜分析检测我们的专业团队通过SEM扫描电镜技术，能够快速准确地发现电池材料中的微观缺陷，确保产品质量。

负极极片表面包覆层分析

客户需求

在电池制造工艺中,表面包覆层不仅关乎电池的性能提升,还能够防止电极与电解质的反应,从而延长电池的使用寿命。然而,由于表面包覆层非常薄,制备和测试分析变得更加困难。因此,需要采用先进的技术和设备来检测其元素分布和形貌。

解决方案

FIB透射制样技术常用于制备细微样品,可以在非常小的切片尺寸下进行高质量的切割和观察,通过FIB制备样品,我们可以观察到表面包覆层的微观结构和元素分布。而SIEM作为表面形貌分析利器,可以在很小的尺寸范围内观察样品的表面形貌和细节。配合使用TEM这种更高分辨率的显微镜,可以提供更细致的样品形貌和元素分布。

检测结果

FIB+SEM极片

在负极材料的研究中，SEM技术同样发挥着不可替代的作用。负极材料是电池中另一个重要的组成部分，其性能直接影响到电池的循环稳定性和安全性。通过SEM技术，研究者可以观察到负极材料在充放电过程中的形貌变化，进而分析材料的稳定性。此外，SEM技术还可以观察到负极材料表面的SEI（固体电解质界面）膜的形成和演变，为改善SEI膜的性能提供了直观的证据。除了对正负极材料的研究外，SEM技术还在电解质和隔膜等电池组件的研究中发挥着重要作用。通过SEM技术，研究者可以观察到电解质和隔膜的微观结构、孔隙率和润湿性等关键性能参数，进而分析这些参数对电池性能的影响。此外，SEM技术还可以结合其他技术（如原子力显微镜、透射电子显微镜等）对电池组件进行更多方面的研究，为电池性能的提升提供更为多方面的支持。我们使用的SEM扫描电镜具备高度的自动化和精确度，确保检测结果的一致性。

利用SEM扫描电镜检测电池材料技术，SEM可以提供电池材料表面的高分辨率图像，帮助检测和分析表面形貌的特征，如颗粒形态、表面结构、纹理等，可以获取电池材料中粒子的大小和分布情况，包括颗粒的平均尺寸、粒径分布等，结合能谱分析（EDS），可以确定电池材料的化学成分，分析样品中不同元素的含量及其分布情况。我们都能够通过SEM技术为您提供准确可靠的数据。

很多时候，扫描电镜一般都配有波谱仪或者能谱仪。波谱仪可以进行微区成分分析；能谱仪则可以利用X光量子的能量不同来进行元素分析。一般情况下，SEM可以放大5-20万倍，分辨率可以到纳米级别。此外，作为显微镜家族，除了SEM，还有TEM（透射电子显微镜）、AFM（原子力显微镜）、STM（扫描隧道显微镜）、STEM（扫描投射电子显微镜），原理和应用场景不同。

我们每年持续投入5千万元以上购买设备，表明我们对研发和技术创新的重视，证明我们在不断更新技术和设备，以保持先导地位。我们拥有一支经验丰富的团队，不断学习和掌握新兴的检测技术。同时，我们与国内外多家研究机构和企业合作，我们致力于提供到位的服务，从客户咨询到样品提交、测试、报告出具等各个环节，都为客户提供全角度的服务和支持。 SEM扫描电镜在电池材料检测中能够发现微观级别的问题，为客户解决生产中的难题。高分辨率SEM扫描电镜+CP磷酸铁锂晶界缺陷检测

SEM扫描电镜的高分辨率能力，使得我们能够观察到电池材料的微观缺陷。分部多SEM扫描电镜+CP磷酸铁锂晶界界限测试检测

正极材料表面CEI膜膜层分析

客户需求

CEI膜作为一种特殊的电解质膜,用于隔离正负极,保护电池免受外部电场的影响。但是,在电池的循环过程中,CEI膜可能会发生变化,如厚度增加或减少、成分不均等,这将直接影响电池的循环性能和使用寿命。

解决方案

为了解决这个问题,团队开发了多种技术,其中一种是使用TOF-SIMS技术,这是基于质谱分析的表征技术,具有超真空环境测试、采集深度低、检测出限低、测试范围广等等优点。可以实现对固体样品的表征,分析CEI膜的成分和厚度,从而发现CEI膜的不完整和过厚/过薄等问题,关键在这一过程中不需要进行物理分离或化学分离。

检测结果

三元正极材料-TOF-SIMS 分部多SEM扫描电镜+CP磷酸铁锂晶界界限测试检测