江苏自动AOI光学检测

AOI检测设备又名AOI光学自动检测设备现已成为电子制造业确保产品质量的重要检测工具和过程质量控制工具,因此,如何从众多的AOI品牌中选择和使用适合自已要求的AOI光学自动检测设备,已成为广大电子制造工作者十分关心的问题。AOI检测设备原理：当自动检测时，AOI检测设备机器通过高清CCD摄像头自动扫描PCBA产品，采集图像，测试的检测点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出目标产品上的缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整和SMT工程人员改善工艺。AOI检测设备的大致流程是相同的，多是通过图形识别法。即将AOI系统中存储的标准数字化图像与实际检测到的图像进行比较，从而获得检测结果。AOI设备是高度定制化产品，设备厂商往往需要根据下游客户的要求进行主机设备的调整或是软件的二次开发。江苏自动AOI光学检测

AOI又叫自动光学检测仪，是应用于表面贴装生产流水线上的一种自动光学检查装置，可有效的检测印刷质量、贴装质量以及焊点质量。AOI的中心是CCD摄像系统抓取图片，然而通过图像处理卡与计算机处理软件系统等系列的算法处理后，与标准图像进行对比，发现缺陷，并生产文件。使用AOI可以在装配工艺过程的早期查找和消除错误，以实现良好的过程控制。早期发现缺陷将避免将不良品送到后工序的装配阶段，AOI将减少修理成本避免报废不可修理的电路板。深圳AOI品牌AOI是新兴起的一种新型测试技术，但发展迅速，很多厂家都推出了AOI测试设备。

对于运动物体的检测，要考虑图像运动模糊带来的不利影响，准确计算导致运动模糊的小曝光时间，确定图像传感器的型号。图像传感器的曝光时间应小于导致运动模糊的小曝光时间，快速曝光选择全局快门模式为宜，高速情况下不易采用卷帘式曝光模式；为了获得比较好的信噪比，图像传感器的增益尽可能为1，图像亮度的提升尽可能用光源的能量（功率）来弥补，或者在不影响可用的成像景深情况下，增大镜头的孔径光阑。在系统集成中，被测件的支撑方式、精密传输与定位装置也必须精心设计，这牵涉到精密机械设计技术，这对平板显示、硅片、半导体和MEMS等精密制造与组装产业中的自动光学检测系统非常重要。在这些领域，制造过程通常在超净间进行，要求自动光学检测系统具有很高的自洁能力，对系统构件的材料选型、气动及自动化装置选型、运动导轨的设计与器件选型都有严格要求，不能给生产环境尤其是被测工件本身带来二次污染。尤其是用于表面缺陷检测的AOI系统不能在检测过程中，给被测件表面带来缺陷（如粉尘、划伤、静电等）。

AOI技术实现要素：本发明所要解决的技术问题是提供一种AOI检测方法，其可降低现场操作人员误判的几率，提高产品质量。为达上述目的，一种AOI检测方法,其通过一AOI检测设备执行，用于检测待测PCBA板卡,其包括以下步骤:a.启动一AOI检测程序，对该待测PCBA板卡上的元件进行检测获得一检测数据,；b．判断该检测数据是否超过一预先设置的阈值，如果是则执行步骤c，如果否则执行步骤f；c.判断该待测PCBA板卡的检测数据是否大于一预先设置的第二阈值，如果是则执行步骤d，如果否则执行步骤e；d.判定该待测PCBA板卡为不合格产品并存储该待测PCBA板卡的检测结果；e.根据现场操作人员的输入信息，储存该待测PCBA板卡的检测结果；以及f.判定该待测PCBA板卡为合格产品并存储该待测PCBA板卡的检测结果。 AOI检测仪优点是图像的还原性较好，打光角度容易调易得到较清晰的图像，相比线阵相机误判率较低。

随着电子技术、图像传感技术和计算机技术的快速发展，AOI（自动光学）检测技术以其自动化、非接触、速度快、精度高、稳定性高等优点，成为表面缺陷检测的重要手段，补足智能化生产线上的品质把控关。AOI是兴趣面，可以较好体现范围，也就是说边界更加明晰，AOI其实属性之一就是POI，采用UID标记。AOI就是有边界的POI，那么我们就可以根据POI获取AOI来验证数据的准确性。特别是研究街道尺度的，加上POI和AOI数据，对城市功能分区，城市热环境、城市灰绿地等等都非常有用。 在线AOI光学检测能够针对厂家的多个参数进行检测，基本上产品的所有需要检测的部位，并且检测出更加准确。浙江3dAOI检测设备

简单来说货真价实的AOI检测仪模拟和拓展了人类眼、手的功能，利用光学成像方法模拟人眼的的视觉成像功能。江苏自动AOI光学检测

AOI检测设备中常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源，一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大，灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源，比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理，检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段，因材料成分与红外光谱有对应关系的原理，红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用，甚至可以实现成分分析。特殊光源中，利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化，利用光学干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷检测中的得到了应用，例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差，可以测量出被测物体与参考物体之间的差异，且分辨率与精度为可以达到亚波长，测量三维物体形貌与高度也正成为AOI检测的新需求。（下图为侧光源与同轴光源实例） 江苏自动AOI光学检测

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