那么IGBT是什么呢？这里就为大家科普一下IGBT入门知识。IGBT的定义，IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor），即绝缘栅双极型晶体管，是具有高电流、高电压、高效率的半导体电源控制元件，也是一种电力电子元件的综合体，是MOSFET（场效应晶体管）和BJT（Bipolar Junction Transistor，双极晶体管）的结合体，它具有MOSFET的优良特性，如可控性高、漏电流小、驱动电流小、开关速度快等，又具有BJT的优良特性，如具有较高的电流密度、较高的正向电压限制等，它能够实现大电流大电压的开关控制，被普遍应用于电力控制系统中。动态参数测试中，IGBT自动化设备能够对产品的响应速度和耐压能力进行精确评估。上海DBC底板贴装机
一般共晶炉设定的焊接温度根据焊件的热容量大小而高于焊料合金的共晶温度30。～50℃。芯片耐受温度和焊接材料的共晶温度也是共晶时应该注意的问题。如果焊接材料的共晶温度过高，会影响芯片材料的物理化学性质，使芯片失效。因此，焊接材料的选择应考虑涂层的成分和焊接零件的耐受温度。此外，如果焊接材料储存时间过长，表面的氧化层会过厚。由于焊接过程中没有人工干预，很难去除氧化层，焊接材料熔化后留下的氧化膜焊接后会形成空洞。在焊接过程中，在炉腔中加入少量氢气，可以减少一些氧化物的恢复，但[敏感词]使用。一体化共晶真空炉定制价格动态测试IGBT自动化设备对产品出厂前的检验提供了支持。
wafer阶段测试。目前wafer阶段测试，大部分晶圆厂或封装厂采用的都是静态测试。但是静态测试的条件比较有限，IGBT只能在低电压大电流或者高电压小电流的条件下工作，对芯片的筛选能力有限。而动态测试条件下，IGBT要在高电压和大电流下开通和关断，对其性能要求更加严苛，筛选标准更严格，若再配合高温短路测试，则筛选能力大幅提高。但是针对wafer的动态测试技术难度很高，实现起来非常困难，且测试设备极其昂贵，也不容易买到。所以wafer阶段的动态参数测试，现阶段不容易实现。
VDMOS功率器件工艺流程是在功率场效应晶体管(VDMOS)的基础上，在其承受高压的飘移区(N型IGBT的N-层)之下增加一层P+薄层引入了电导调制效应，从而较大程度上提高了器件的电流处理能力。IGBT制造流程主要是包括芯片设计，晶圆制造，封装测试；IGBT芯片的制程正面和标准VDMOS差异不大，背面工艺包括:1) 背面减薄；2) 背面注入；3) 背面清洗；4)背面金属化；5) 背面Alloy；这里介绍下IGBT封装的工艺流程及其设备。首先了解下IGBT模块跟单管主要优势有以下几个。多个IGBT芯片并联，IGBT的电流规格更大。多个IGBT芯片按照特定的电路形式组合，如半桥、全桥等，可以减少外部电路连接的复杂性。多个IGBT芯片处于同一个金属基板上，等于是在单独的散热器与IGBT芯片之间增加了一块均热板，工作更可靠。一个模块内的多个IGBT芯片经过了模块制造商的筛选，其参数一致性比市售分立元件要好。IGBT自动化设备通过老化检验，能够验证产品的可靠性和稳定性。
由于共晶时所需的温度较高，特别是使用AuGe焊料共晶时，对基板和薄膜电路的耐高温性能提出了要求。要求电路能承受400℃的高温，电阻和导电性能在这个温度下不能改变。因此，共晶的一个关键因素是温度。它不光是达到一定的值温度，而是经过一个温度曲线变化的过程。在温度变化中，它还具有处理真空、充气、排气/水冷等任何随机事件的能力。这些都是共晶炉设备的功能。IGBT超声焊接机共晶焊接时形成的空隙会降低设备的可靠性，扩大IC断裂的可能性，增加设备的工作温度，削弱管芯的粘接能力。IGBT自动化设备确保封装过程中IGBT模块的稳定性和可靠性。湖北静态测试无功老化测试设备
电动汽车的崛起加速了功率模块封装技术的更新，IGBT自动化设备也得到了迭代升级。上海DBC底板贴装机
焊接IGBT功率模块封装失效，一般采用Al或Cu键合线将端子与芯片电极超声键合，实现与外部电气的连接。这两种材料都与Si和Si上的绝缘材料有很大的不同，如SiO2的CTE。模块工作时，IGBT芯片功耗和键合线焦耳热会提高键合线温度，在接触点和键合线上产生温度梯度，形成剪切应力。长期处于开关循环工作状态，产生应力和疲劳形变积累，会导致接触点裂纹、接触热阻增大、焦耳热增大、温度梯度增大，较终导致键合线损坏加剧，形成正反馈循环，较终导致键合线脱落或断裂。研究表明，这些故障是由材料CTE不匹配引起的。键合线断裂的位置出现在其根部，这是键合线故障的主要表现。一些研究指出，可以通过优化键合线的形状来提高其可靠性。具体来说，键合线的高度越高，键合线的距离越远，键合线的应力水平越低，可靠性越高。上海DBC底板贴装机
