企业商机
光谱基本参数
  • 品牌
  • 奥林巴斯
  • 型号
  • VANTA
  • 类型
  • 智能元素分析仪器,多元素分析仪器,金属元素分析仪器,钢铁元素分析仪器,合金元素分析仪器,矿石元素分析仪器
  • 测量范围
  • 镁(Mg)到铀(U)之间的元素
  • 测量时间
  • 2s
  • 用途
  • 元素分析检测
  • 加工定制
  • 重量
  • 1.5KG
  • 产地
  • 美国
  • 厂家
  • 奥林巴斯
  • 外形尺寸
  • 245*250*88mm
光谱企业商机

改进创新·采用特有的Axon技术,更高的X射线计数率,更快、更精que的检测结果,以及更低的检出限·接近于理论极限的分辨率·无需标样自动能量校准,分析仪自动进行能量校准,保证了极高的测试稳定性·四核处理器可使用户在极短的时间内获得jia分析结果◆多产效率高·简单直观的用户界面(UI)可使用户快速浏览分析仪的设置和软件功能·根据用户的特定需求,配置用户界面·用户可以自行定制显示在主屏幕上的功能快捷键·通过USB闪存驱动盘、Wi-Fi或蓝牙完成的数据导出操作非常简单赢洲科技多年来公司主营行业包括:工业固废。OLYMPUS能量色散型X荧光光谱仪元素分析仪

OLYMPUS能量色散型X荧光光谱仪元素分析仪,光谱

在大多数情况下,我们可以使用价格实惠的手持式XRF分析仪,如:奥林巴斯VantaElement分析仪,对镍合金、不锈钢和其他高温合金进行快速的分拣。测量时间通常只需几秒钟,从而可使操作人员以高通量快速验证更多的高价值废料,让用户获得更高的投资回报。Vanta分析仪可以在非常艰苦的工业环境中快速获得分析结果,并在很大程度上提高生产力。◆坚固耐用·符合IP65/54评级标准,可以抵御灰尘和雨水的侵袭·通过了从4英尺高处坠落的测试(MIL-STD810G),适合复杂场地和生产环境·可以在-10℃到50℃的温度范围内操作·为装有硅漂移探测器的分析仪,提供了金属自动挡板保护昂贵的探测器钢铁材料光谱仪多元素分析仪器赢洲科技主营产品包括:手持式土壤重金属光谱分析仪。

OLYMPUS能量色散型X荧光光谱仪元素分析仪,光谱

检测迅速迅速获得结果意味着快速获得投资回报。我们的VantaElement手持式光谱仪不仅具有很高的性价比,而且还具有可以在1到2秒钟的短暂时间内辨别合***号的强大性能。2.坚固耐用在恶劣工业环境中进行的要求严苛的应用,需要分析仪具有坚固耐用的特性。VantaElement分析仪符合IP54评级标准,具有防尘和防潮的特性,而且通过了从4英尺高处坠落的测试(MIL-STD-810G),从而有助于确保在分析仪发生意外坠落或撞击时可以继续工作。无论在高温还是寒冷的环境中工作,只要温度在-10°C到45°C的范围内,VantaElement分析仪就会不负众望、连续操作。3.连通性能VantaElement分析仪具有可选配的无线连通性能,可连接奥林巴斯的科学云系统,进行无线数据共享,并访问便捷的多设备管理工具、奥林巴斯链接移动应用程序或用户的网络。分析仪还提供1个用于存储检测结果的1GB容量的microSD卡,以及两个便于导出数据的USB端口。

各种机械设备中90%的材料都是由金属制造的,由于金属的选材不当或使用不当会造成材料的过早失效,严重的可能会发生重大事故。作为机械行业中质量控制的一个关键环节,产品使用前对原材料、半成品或成品的检测过程就显得越来越重要。无损检测在相关领域中发挥了至关重要的作用,确保钢结构以及机械部件的完整性,无损检测方法可以检测很多种类的各种缺陷像裂缝,未焊透,气孔等。常见的检测项目有:视觉和光学检测、X射线检查、磁粉探伤、超声检测、渗透检测。赢洲科技主营产品包括:便携式X射线衍射仪。

OLYMPUS能量色散型X荧光光谱仪元素分析仪,光谱

手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。特点-它具有很高的灵敏度与检测精度,接近实验室级的分析水平,在不充氦气或非真空条件下具有金属元素(Fe,Cr,Mn,Mo,Mg,Al,Si,V,Ti等等)分析能力,可直观显示元素百分比含量。还具有体积小、重量轻、携带方便、分析速度快、*几秒钟就可显示分析结果等优点。赢洲科技产品行业应用包括:矿物岩石材料国家专业实验室。手提式X射线荧光光谱仪含量分析仪

赢洲科技主营产品包括:手持式刑侦光谱分析仪。OLYMPUS能量色散型X荧光光谱仪元素分析仪

02样件条件手持式光谱仪合金分析仪的工作方式可以总结如下:(1)发出X射线;(2)X射线返回到探测器;(3)使用复杂的数学算法处理数据;(4)对牌号进行辨别(图2)。X射线荧光是一种表面检测技术。对于某些轻合金来说,如:铝合金,XRF技术只能检测样件表面以下几百微米的深度。对于一些主要金属,如:铁或铜,XRF技术可以检测的样件深度不到一百微米。而对于致密的材料,如:金或铅,则只能检测样件表面以下几十微米的深度。这意味着,在使用X射线荧光技术进行检测时,材料的表面必须要准确地体现整个材料的组成成分,才可以获得可靠的检测数据。表面上的污染,如:油漆、保护层和电镀层,可能会严重歪曲分析的结果。同样,喷砂或喷丸处理以及研磨后存留在表面上的物质,甚至污垢,都可能影响材料成分的辨别结果。因此在使用XRF技术检测样件之前,一定要使样本清洁无尘。OLYMPUS能量色散型X荧光光谱仪元素分析仪

光谱产品展示
  • OLYMPUS能量色散型X荧光光谱仪元素分析仪,光谱
  • OLYMPUS能量色散型X荧光光谱仪元素分析仪,光谱
  • OLYMPUS能量色散型X荧光光谱仪元素分析仪,光谱
与光谱相关的**
信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责