天津微间距IC封装吸湿特性CAF测试系统使用方法

那么这个高温高湿试验具体到底是怎么测试的呢？首先IPC标准中有明确要求，具体的测试条款为IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic ****ment (CAF) Resistance》。另外各大**汽车零部件厂商如德尔福、博世、大陆等也有其专门的企业测试标准，主要测试内容就是将考试板放置在85℃，85%RH的环境中处理1000小时，并在考试板的孔与孔之间、线与线之间，或者是孔与内层之间、层与层之间施加一定的电压，然后持续监控其绝缘阻值变化，通过绝缘阻值变化了解其内部可能存在的一系列问题，而这种测试**常见的缺陷就是板材内部出现了CAF现象。常州中策仪器永远是您可信赖的朋友和合作伙伴，始终期待与您一起共享成功；天津微间距IC封装吸湿特性CAF测试系统使用方法

随着集成电路和微电子技术的飞速发展，电子产品的体积越来越小，PCB也向更轻、薄、短、小发展。层间介质层厚度更薄，布线更密，孔壁间距更小，并且在进一步微细化中。在这样的层间、布线、孔密度下，PCB的绝缘性能受到越来越多的关注。如何在这样微细的产品上，保持其在整个寿命周期内的绝缘性能，是业内所有PCB制造商所面临的问题之一。阳极导电丝（CAF）是近十年来十分热门的绝缘劣化失效，当PCBA在高温高湿的环境下带电工作时，在两绝缘导体间有可能会产生沿着树脂和玻纤的界面生长的CAF，**终导致绝缘不良，甚至短路失效。常见的CAF失效有三种，即分别发生在孔到孔、孔到线、线到线之间的失效情况辽宁高分子材料CAF测试系统常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统；若有需要欢迎来电噢；

电子产品高低温循环测试电子产品或元器件的互联可靠性中较重要的是各回路的互联电阻。互联可靠性一般通过高低温循环进行测试，高低温循环测试是将测试样品交替置于高温和低温环境一定的时间，如高低温冲击箱，热油试验箱等。并检测测试样品的各种电性能的变化情况。从而得到产品的可靠性和寿命等有关数据，电子产品或元器件的高低温循环测试中的互联电阻测试方法离线测试。一般是在试验箱外对待测试产品进行各项电性能测试后，再放入高低温循环测试试验箱，经过一定时间的高低温循环测试后，将待测试样品取出，再次进行各项电性能测试，如此循环重复多次，直到设定的测试循环数完成或待测试样品失效。由于离线测试需要中途停止高低温循环并将待测试产品取出试验箱后进行测试，一方面无法进行高频率的测试，一般只能几十或上百循环才能进行一次测试，另一方面，测试中产品如果发生失效，只能在下一次测试时才能发现，并且无法得到产品发生失效的具体循环数，这样对于一些产品质量相差不大的产品或批次无法进行甄别。

而从汽车的种类来看，电动汽车用的部分PCB则需要承载更高电压和电流来实现驱动以及灵敏度的要求。同时考虑到汽车的使用环境和使用者的安全保障，车用PCB的长期可靠性要求更高。如果在产品寿命期内出现PCB可靠性失效会引起巨大损失，包括修理更换费用、汽车电路短路引起自燃、汽车行驶中电子元器件故障导致车辆失控造成人身伤害、批量召回、延长保修期，以及企业品牌形象受损等。汽车电子**重要的作用是提高汽车的安全性、舒适性、经济性和娱乐性。由传感器、微处理器MPU、执行器、数十甚至上百个电子元器件及其零部件组成的电控系统。中策仪器永远是您可信赖的朋友和合作伙伴始终期待与您一起共享成功。

如何提高生产效率和良品率，需要我们在投入大规模产量之前，进行smt贴片加工可焊性测试，这时我们需要对测试PCB原型的样品进行老化处理。因为，新生产的部件或PCB电路板焊接面一般是没有问题的，但存放一段时间后会因氧化而变质。测试必须考虑正常储存条件对可焊性的影响。PCB元器件和电子制造行业，PCB通常要求有一定的存放保质期，通常是6-12个月。因此，要等待这段周期后再进行测量显然不切实际，必须采用加速存储老化的方法，较常用的测试设备是高压加速老化试验箱。高压加速老化试验箱是提高环境应力（温度&湿度&压力），在不饱和湿度环境下（湿度∶85%.）加快试验过程缩短试验时间，用来评定PCB压合&绝缘电阻，与相关材料的吸湿效果状况，缩短高温高湿的试验时间(85℃/85%→110℃/85%)常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统；若有需要欢迎来电咨询噢。辽宁可靠性阻抗测试系统CAF测试系统频率

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CAF通常是在高温高湿环境及电场的作用下产生的。因此，CAF的测试也就围绕其产生的条件及造成的影响来进行。CAF测试通常是在加温(temperature)、加湿(humidity)及加偏置电压(bias的条件下进行，因此也称为THB测试。目前，测试条件温度、湿度、测试电压一般都设定为85C/85%RH/100V。CAF离子迁移的测试通常使用梳型图形为测试试样，在高温高湿环境下，在梳型图形电极之间施加电压信号进行试验。以前，电极间绝缘电阻的测量则是在每一个规定时间从高温高湿槽中取出测试试样后在室温环境下进行。但由于CAF离子迁移非常脆弱，在通电瞬间产生的电流会使离子迁移本身溶断消失，可以想象采用这种测试方法在实际测定时，CAF离子迁移现象已经消失恢复到高绝缘状态，因此尽管发生异常，也会存在误认为没有异常的危险;而且大量测试试样的绝缘电阻都是由人工测定，处理这些数据本身就是一项既费时又低效率的工作。为解决这些问题，就需要在高温高湿环境下在电极间施加电压应力同时，连续的自动测量因CAF离子迁移而在瞬间发生绝缘劣化和绝缘阻值变化，并连续监测泄漏的电流值，才能比较和客观地评价CAF离子迁移。天津微间距IC封装吸湿特性CAF测试系统使用方法

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