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CAF测试系统基本参数
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平均CAF失效时间的分解分析从上面的一系列试验中,可以证明水解时间和电化学迁移时间之间是相互独立的,水解时间和电化学迁移时间互相没有影响:①未施加偏压的情况下,水解过程也可进行;在施加外加偏压的情况下,水解速度无明显加快或延缓;水解时间与外加偏压无关。②指定板材、孔壁间距下的水解时间是一定的,且随着孔壁间距的上升而近似成正比关系上升。因此平均CAF失效时间可以拆分成水解时间和电化学迁移时间分别进行分析和试验。那么以下公式应是成立的:平均CAF失效时间(MTF)=水解时间(T1)+电化学迁移时间(T2)。当外加偏压较大(100V以上)时,电化学迁移速度快于水解速度,平均CAF失效时间(MTF)主要取决于水解时间(T1),接近于材料A在指定孔壁间距下的水解时间;当外加偏压较小(10V以下)时,水解速度快于电化学迁移速度,平均CAF失效时间(MTF)主要取决于电化学迁移时间(T2)。而水解时间(T1)不受外加偏压影响,电化学迁移时间(T2)受外加偏压影响,因此图5中的曲线随着外加偏压的变化呈现两段趋势。常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统;若有需要,欢迎来电咨询噢。上海表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统价格

在电子设备领域,以汽车电子或某些**装备为例,其对耐高温高湿环境的要求较高。随着此类产品向着高密度化发展,孔间距越来越小,这使得印制板对孔的可靠性要求也相应提高,所以印制电路板产生的导电阳极灯丝就成为影响产品可靠性的重要因素。导电阳极丝(英文简称:CAF;全称:ConductiveAnodic****ment)是指PCB内部铜离子从阳极(高电压)沿着玻纤丝间的微裂通道,向阴极(低电压)迁移过程中发生的铜与铜盐的漏电行为。当PCB/PCBA在高温高湿的环境下带电工作时,两绝缘导体间可能会产生严重的沿着树脂或玻纤界面生长的CAF,此现象将终导致绝缘不良,甚至短路失效。安徽金属材料CAF测试系统操作常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统;若有需要,欢迎来电咨询噢;

5G将于2020年迈入商用,加上汽车走向智慧化、联网化与电动化的趋势,将带动汽车电子化水平日益提高,汽车电子占整车成本的比重也会越来越大。

典型案例

当然,在实际的生产以及检测的过程中这样的案例还有很多,2013年8月,上海某公司送来一块带器件汽车电子用印制线路板,故障表现是产品在车窗关闭时会出现不受控制的现象。我们先进行了电路分析,发现样品中有两个孔之间的绝缘电阻小于107。这两个孔的绝缘电阻偏小是导致产品在使用时会发生微短路的主要原因。为了搞清楚是什么原因造成这两个孔间绝缘电阻偏小,还需要通过表面和内部分析来找到真正的原因。

㈠灵活的、多通道分组测试能力可根据测试不同的需求,建立多组测试模式,在1-4个环境试验箱里测试不同的样品㈡宽范围的偏置电压、测试电压测试电压为1000V,从1.0V-1000V可任意设置,并可在试验中实现偏置电压的正、负翻转㈢实时电流检测能力在试验过程中,高达10次/秒的微电流监测模块,可绘制通道间出现离子迁移过程的工作状态,多用于材料分析㈣多种绝缘阻值的阀值判定能力具有多种绝缘阻值下降到设定阀值的判定条件,例如单次或多次触发绝缘电阻阀值,或低于阀值运行时间,判定后断开测试㈤符合国际、行业内有关绝缘电阻测试标准要求IPC-TM-6502.5.10/2.6.11/2.6.3.7/2.6.14IEC-61189-5IEC1086ISO-9455-17等㈥面向国内客户开发的测试系统软件充分满足不同客户的独特测试要求,带有数据分析功能,使测试软件使用更方便、更完善常州中策仪器有限公司创建于1999年,是一家集研发、制造、营销于一体的****,欢迎来电咨询。

PCB加工过程的影响PCB加工过程中在玻璃纤维与树脂面之间产生的微小空隙对CAF性能有很大的影响,主要包括以下几个方面:(1)压板时压力。升温速率以及高温段的固化温度和时间都对CAF性能有影响,但影响的是高温段的固化温度和时间。(2)除胶参数:除胶参数的合适与否直接决定了孔壁的清洁度,这又反过来影响孔壁粗糙度。(3)孔壁粗糙度:除了上面讲的除胶参数,孔粗还取决于钻孔参数和钻针的研磨次数,孔壁粗糙度越大,越容易发生CAF失效。中策仪器永远是您可信赖的朋友和合作伙伴始终期待与您一起共享成功!上海第三方检测CAF测试系统功能

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但是结果显示,微蚀之后,样品表面的铜确实没有了,但是树枝状生长依然还在,只是从之前的红色变成了白色,就好像一个空洞一般。由此我们可以看出,之前所观察到的迁移现象确实存在,而且是在表层阻焊油墨的内部,直接在阻焊油墨里面打了一个又一个的洞,通过微蚀之后,里面的铜没有了,**终就只留下了一个又一个的空洞。这个结果说明该产品所使用的阻焊油墨存在缝隙,有可能是固化不到位导致的,也有可能是阻焊油墨本身存在问题,同时,通过观察,该样品阻焊油墨与基材之间也同样存在迁移上海表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统价格

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