AE1/RD1辐射率仪是专门针对测量物体的辐射率设计的，重复性±，热沉，标准板（低发射率抛光不锈钢标准板和高发射率黑色标准板，各两块），AE1/RD1发射率属于美国DS品牌，精确、易操作、快速测量、性价比高。满足《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。AE1/RD1红外半球发射率测量仪使用方法，去除仪器探头底部的红色保护塞，接上电源适配器，然后接上两个香蕉插头使仪器通上电，并使仪器暖机大约三十分钟左右，在仪器暖机期间，允许水蒸气逸出；如果仪器经常使用，一直处于使用状态那我们可以免除暖机过程；不是经常用的时候，就必须要暖机。 对于小直径圆柱形面样品的测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！光谱反射率发射率测量仪设备
测量方法介绍辐射积分法：漫射光照射被测物表面，利用多个探测器探测一定角度上不同波段的发射辐射能，加权计算得到被测物表面太阳反射比的方法。***光谱法：将试样放置于积分球中心位置，通过测试试样在规定波长上的***光谱发射比，计算试样太阳光反射比的方法。相对光谱法：通过测试试样在规定波长上相对于标准白板的光谱发射比，计算试样太阳反射比的方法。光纤光谱仪：采用光纤作为信号耦合器件，将试样反射光耦合到光谱仪中进行光谱分析测定试样反射比的仪器。上海明策不仅提供仪器与方案，更有现场专业服务！DS半球发射率AE1/RD1我们有全新现货。可以提供一次测试服务。反射率有太阳光谱反射率测量仪SSR-ER、TESA2000反射率测量仪等。光谱反射率发射率测量仪工作原理标准体:随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用。
校准AE1/RD11．设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到，2．把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上，另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水，确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多，太多的话会流到样品和探测器里面。3．把探头放在高发射率标定块上，然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。4．把探头放在低发射率标定块上，然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后用我们提供给您的小螺丝到调节探头上的微调螺丝，使RD1表头上显示的数值直至我们提供给您的低发射率标定块数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。
AE1RD1红外半球发射率测量仪，专门针对测量物体的辐射率设计的，重复性±0.01，热沉，标准版（低发射率抛光不锈钢标准板和高发射率黑色标准板，各两块），AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。AE1/RD1红外半球发射率测量仪满足《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。发射率通过把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来表示发射率。
型号AE-AD1-测量直径不小于1.5英寸(3.8cm)的样品。型号AE-AD3-测量直径不小于1.0英寸(2.54cm)的样品。型号AE-ADP-测量适配器，用来测量直径不小于1.5英寸（3.8cm）的平面样品，测量低导热性、大曲率（＞2英寸）圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料。客户定制–定制测量适配器，用来测量圆柱体表面或者其它形状设计表面。电池包–为方便客户便携式操作，我们还提供锂电池电池版本，可给该测量仪连续供电12小时左右，有电池电量指示，可充电。AE1/RD1发射率测量仪标定块上的数值表示什么呢？标定块是根据每一套仪器配套生产，然后给出原厂的证书说明。所以每套仪器的标定块数值会略有差异，应以到货实物仪器为准。发射率通过把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。AE1/RD1发射率测量仪原理
AE1测量样品**小直径为2.25英寸（5.7cm）。光谱反射率发射率测量仪设备
请谨记需要重复循环调节高发射率标准块(步骤3)和低发射率标准(步骤4)。重复补偿两个调试过程,直到重复两个标定过程都不需要改变显示数值时，我们才能说RD1和Emissometer现在测出来的发射率和表头显示的数值才是**准确的。进行发射率测量1.将探头放到高放射率标定块的位置，然后等RD1显示的发射率数值稳定下来；并确保RD1在“变量variable”模式下2.把探头移动到被测样品上然后等待RD1的显示数值趋于稳定。此时显示的数值就是该样品发射率，不需要进行任何计算3.当测量未知样品时，一般我们都是采用高发射率标准块来校验下RD1，然后再测样品的发射率；当然设计其他一些特殊样品，我们有其他的一些对应方法，详情敬请咨询我司。 光谱反射率发射率测量仪设备
上海明策电子科技有限公司位于茸悦路208弄富悦财富广场C座1718室。明策科技致力于为客户提供良好的黑体校准源，红外测温仪，高速摄像机，发射率测量仪，一切以用户需求为中心，深受广大客户的欢迎。公司从事仪器仪表多年，有着创新的设计、强大的技术，还有一批**的专业化的队伍，确保为客户提供良好的产品及服务。明策科技秉承“客户为尊、服务为荣、创意为先、技术为实”的经营理念，全力打造公司的重点竞争力。
