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液晶玻璃检测灯箱，根据检验站点不同，可以分为Array\CF\PI站点的Macro检测灯箱，以及模组段FI、PCBI、OQC站点的De-mura和AOI灯箱，其中demura灯箱对均匀性和外观要求比较高。在了解demura灯箱的要求之前，有必要先了解mura和demura的原理。在液晶玻璃制备过程中，制程参数、材料一致性等问题会导致各个像素单元之间发光产生差异，从外观上形成不均匀性的现象，这个就叫mura，而demura也叫detect或deletemura，即检测和修复mura。mura的修复分为外部补偿和内部补偿，demura修复设备均采用外部补偿方式，通过改变像素灰阶修正像素间的发光差异，从而消除mura提升液晶面板的整体均匀度。购买工业LED检测灯箱请找苏州啸百，欢迎来电询价。广西背光模组台

大尺寸、高亮度检测灯箱，因其发热高，热的传导路径长，散热处理不好，严重影响检测灯箱使用寿命。一般散热方式有辐射散热，传导散热和对流散热。辐射散热量的多少主要取决于产品与周围环境的温差及机体的有效散热面积。传导散热是指机体的热量直接传给与之接触的温度较低物体的一种散热方式。传导散热量的多少主要取决于机体与周围环境的温差及物体的热导率大小。对流散热是指通过气体进行热量交换的一种散热方式，对流散热量的多少主要取决于机体与周围环境的气温差及风速。根据灯箱产品的形态和空间要求，可以选择不同的散热方式和组合散热。如果检测灯箱对厚度和边框宽度有限制，可以选用辐射和传导散热方式，如果灯箱尺寸没有限制，可以优先选择对流散热的方式。苏州啸百光电技术有限公司具有丰富的灯箱散热解决方案和实例，目前开发了厚度20mm，亮度10万nits灯箱，灯箱内部LED环境温度可以控制在50℃以下。广西背光模组台购买检测灯箱请找苏州啸百，欢迎来电洽谈。

紫外线老化测试是评估新材料耐紫外光照性能的测试方法，通常是在实验室中通过紫外加速老化试验箱进行测试。在短短几周或几个月内,通过紫外老化试验能够获得可再现的、可靠的老化测试数据；其短波长紫外光照和冷凝循环系统可逼真地模拟阳光、露水和雨水等对材料的破坏作用。紫外老化试验主要模拟阳光中的紫外光对产品产生的劣化效应。同时它还可以再现雨水和露水所产生的破坏；通过将待测材料暴露在经过控制的阳光和湿气的交互循环中，同时提高温度的方式来进行试验；采用紫外线荧光灯模拟阳光，同时还可以通过冷凝或喷淋的方式模拟湿气影响。

手持式检查灯因其重量轻、高指向性、高亮、可以选择不同波段，在工业产品表面缺陷检测领域得到了广泛应用。常规的外观检测我们可以使用白色光源，但是用于高精度检查表面的微尘、刮痕的灯我们一般都采用绿光/黄光，这是为什么呢？因为人眼在这两种光的环境下较高敏感度而且光线柔和不伤眼睛，特别是绿光表面检查灯，可精确检查到1um左右的微尘、刮痕灯瑕疵，被广泛应用于液晶玻璃、微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石表面检查。苏州啸百光电技术有限公司主营检测灯箱和各种光学玻璃，通过光学镜片的光路设计和组合，结合不同波段的LED光源以及滤光片，可以实现定制光谱曲线、各种形状光斑的平行光，整体均匀性在80%以上，照度可达50万lux。目前产品在液晶显示行业、镀膜行业、半导体晶圆、太阳能基板、各式研磨抛光产品表面检测领域大量使用。丝印网版检测灯箱制作请找苏州啸百，欢迎来电询价。

检测灯箱寿命一直是大家关注的问题，影响寿命的因素有很多，主要有LED品牌选择、LED型号选择、发光效率设计、散热设计、外在偶发因素预防设计等。苏州啸百光电技术有限公司，结合多年的LED光源设计和客户使用经验，通过选用品牌LED确保来料品质，通过高规低用原则，即使用高规格LED在低规格（电流）下使用，同时结合不同光学膜片的选型，使检测灯箱的发光效率达到比较好。针对客户在后期使用，可能存在静电的问题提前做预防，可以确保检测灯箱内部的LED可以长时间正常使用，目前出货5年的产品，未反馈LED死灯不良和亮度大幅衰减问题。丝印网版检测灯箱制作请找苏州啸百，欢迎来电沟通。福建玻璃外观背光批发

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在LCM的生产过程中，从液晶显示面板的进料开始，接着会进行外引线焊接（OuterLeadBounding，OLB）的预备作业，及驱动IC组件的进料以及焊接作业，其中驱动IC可以使用TCP（TapeCarrierPackage）、COF（ChipOnFilm）、或COG（ChipOnGrass）的形式，并透过异方性导电胶膜（AnisotropicConductiveFilm，ACF）压合焊接到LCD上。接着再进行印刷电路板（PrintedWiringBoard，PWB）的进料，以及同样透过ACF使其与驱动IC间，完成TCP、COF、或FPC（FlexiblePrintedCircuit）的焊接作业，到此即完成PCBI的制程。此阶段，一些自动化设备必须传输LCD，必须进行一些材料的涂布以及加热压合的动作，因此这些接触及压合都会产生大量瞬间的ESD现象出现，这种放电则多属LCD与设备接触时，在其内部的自由电荷（FreeCharge）形成重新再分布行为。当之后的作业中有再接触行为出现时，因为前述的电荷储存造成电位的不平衡必然会造成ESD，这时形成的放电回路大都会通过IC，或从IC内部释放出，对IC而言，就如CDM的ESD；对整体模块或系统而言，即为模块储存电荷模式（BoardLevelChargedDeviceModel，BLCDM）的ESD三种型式。广西背光模组台

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