光谱共焦基本参数
  • 品牌
  • 创视智能,tronsight
  • 型号
  • TS-C
  • 用途类型
  • 光谱位移传感器
  • 工作原理
  • 光谱共焦
  • 输出信号
  • 模拟型
  • 材质
  • 金属膜
  • 位移特征
  • 点位移
  • 测量范围
  • 中位移,小位移
光谱共焦企业商机

采用对比测试方法,首先对基于白光共焦光谱技术的靶丸外表面轮廓测量精度进行了考核。为了便于比较,将原子力显微镜轮廓仪的测量数据进行了偏移。二者的低阶轮廓整体相似,局部的轮廓信息存在一定的偏差,原因在于二者在靶丸赤道附近的精确测量圆周轮廓结果不一致;此外,白光共焦光谱的信噪比较原子力低,这表明白光共焦光谱适用于靶丸表面低阶的轮廓误差的测量。在模数低于100的功率谱范围内,两种方法的测量结果一致性较好,当模数大于100时,白光共焦光谱的测量数据大于原子力显微镜的测量数据,这也反应了白光共焦光谱仪在高频段测量数据信噪比相对较差的特点。由于光谱传感器Z向分辨率比原子力低一个量级,同时,受环境振动、光谱仪采样率及样品表面散射光等因素的影响,共焦光谱检测数据高频随机噪声可达100nm左右。光谱共焦技术可以实现对样品内部结构的观察和分析;高性能光谱共焦的用途

高性能光谱共焦的用途,光谱共焦

在操作高精度光谱共焦传感器时,有一些重要的注意事项需要遵守。首先,需要确保设备处于稳定的环境中,避免外部振动或干扰对传感器的影响。其次,在使用过程中要注意保持设备的清洁和维护,避免灰尘或污垢影响传感器的准确性。另外,操作人员需要严格按照设备说明书中的操作步骤进行,避免误操作导致设备损坏或数据错误。定期对设备进行校准和检测,确保其性能和准确度符合要求。通过遵守这些注意事项,可以保证高精度光谱共焦传感器的正常运行和准确性。小型光谱共焦供应该技术可以采集样品不同深度处的光谱信息进行测量;

高性能光谱共焦的用途,光谱共焦

光谱共焦测量技术由于其高精度、允许被测表面有更大的倾斜角、快速测量方式、实时性高、对被测表面状况要求低、以及高分辨率的独特优势,迅速成为工业测量的热门传感器,在生物医学、材料科学、半导体制造、表面工程研究、精密测量、3C电子等领域得到大量应用。本次测量场景使用的是创视智能TS-C1200光谱共焦传感头和CCS控制器。TS-C系列光谱共焦位移传感器能够实现0.025μm的重复精度,±0.02% of F.S.的线性精度, 30kHz的采样速度,以及±60°的测量角度,能够适应镜面、透明、半透明、膜层、金属粗糙面、多层玻璃等材料表面,支持485、USB、以太网、模拟量的数据传输接口。

客户一直使用安装在洁净室的激光测量设备来检查对齐情况,每个组件大约需要十分钟才能完成必要的对齐检查,耗时太久。因此,客户要求我们开发一种特殊用途的测试和组装机器,以减少校准检查所需的时间。现在,我们使用机器人搬运系统将阀门、阀瓣和销组件转移到专门的自动装配机中。为了避免由于移动机器人的振动引起的任何测量干扰,我们将光谱共焦位移传感器安装在单独的框架和支架上,尽管仍然靠近要测量的部件。该机器现已经通过测试和验证。光谱共焦透镜组设计和性能优化是光谱共焦技术研究的重要内容之一;

高性能光谱共焦的用途,光谱共焦

随着精密仪器制造业的发展,对工业生产测量的精度和适应性要求越来越高,需要具有高精度、适应性强和实时无损检测等特性的位移传感器。光谱共焦位移传感器的问世解决了这个问题,它是一种非接触式光电位移传感器,可达到亚微米级甚至更高的测量精度。传感器对于杂光等干扰光线并不敏感,具有较强的抵抗能力,适应性强,且具有小型化的特点,应用前景广阔。光学色散镜头是光谱共焦位移传感器的重要组成部分之一,其性能参数对于位移传感器的测量精度和分辨率具有决定性作用。光谱共焦位移传感器具有非接触式测量的优势,可以在微观尺度下进行精确的位移测量;新品光谱共焦原理

光谱共焦位移传感器是一种基于光谱分析的高精度位移测量技术,可实现亚纳米级别的位移测量。高性能光谱共焦的用途

随着社会不断的发展,我们智能设备的进化越发迅速,愈发精密的设备意味着,对点胶设备提出更高的要求,需要应对更高的点胶精度。更灵活的点胶角度。目前手机中板和屏幕模组贴合时,需要在中板上点一圈透明的UV胶,这种胶由于白色反光的原因,只能使用光谱共焦传感器进行完美测量,使用非接触式光谱共焦传感器,可以避免不必要的磕碰。由于光谱共焦传感器的复合光特性,可以完美的高速测量胶水的高度和宽度。由于胶水自身特性:液体,成型特性:带有弧形,材料特性:透明或半透明。普通测量工具测试困难。高性能光谱共焦的用途

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