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电子显微镜基本参数
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电子显微镜企业商机

扫描电子显微镜样品制备简单,只要将块状或粉末状的样品稍加处理或不处理,就可直接放到扫描电镜中进行观察,因而更接近于物质的自然状态。可以通过电子学方法有效地控制和改善图像质量,如亮度及反差自动保持,试样倾斜角度校正,图象旋转,或通过Y调制改善图象反差的宽容度,以及图象各部分亮暗适中。采用双放大倍数装置或图象选择器,可在荧光屏上同时观察放大倍数不同的图象。可进行综合分析。装上波长色散X射线谱仪(WDX)或能量色散X射线谱仪(EDX),使具有电子探针的功能,也能检测样品发出的反射电子、X射线、阴极荧光、透射电子、俄歇电子等。把扫描电镜扩大应用到各种显微的和微区的分析方式,显示出了扫描电镜的多功能。电子显微镜按结构和用途分为透射式电子显微镜、扫描式电子显微镜、反射式电子显微镜和发射式电子显微镜等。浙江钨灯丝扫描电子显微镜

透射电镜高分辨率的图像要求样品尽量的薄,电子束的能量尽量的高。因此可以认为电子不会被样品吸收,样品也就无法改变电子波的振幅。由于在这种情况下样品但但对波的相位造成影响,这样的样品被称作纯相位物体。纯相位物体对波相位的影响远远超过对波振幅的影响,因此需要复杂的分析来得到观察到的图像强度。例如,为了增加图像的对比度,TEM需要稍稍离开聚焦位置一点。这是由于如果样品不是一个相位物体,和TEM的对比度传输函数卷积以后将会降低图像的对比度。浙江钨灯丝扫描电子显微镜扫描电子显微镜具有景深大、分辨率高,成像直观、立体感强、放大倍数范围宽等特点。

扫描式电子显微镜的分辨率主要决定于样品表面上电子束的直径。放大倍数是显像管上扫描幅度与样品上扫描幅度之比,可从几十倍连续地变化到几十万倍。扫描式电子显微镜不需要很薄的样品;图像有很强的立体感;能利用电子束与物质相互作用而产生的次级电子、吸收电子和X射线等信息分析物质成分。扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时,也可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。

扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子头(ElectronGun)发射电子束,经过一组磁透镜聚焦(CondenserLens)聚焦后,用遮蔽孔径(CondenserAperture)选择电子束的尺寸(BeamSize)后,通过一组控制电子束的扫描线圈,再透过物镜(ObjectiveLens)聚焦,打在样品上,在样品的上侧装有讯号接收,用以择取二次电子(SecondaryElectron)或背向散射电子(BackscatteredElectron)成像。 扫描式显微镜有一重要特色是具有超大的景深(depthoffield),约为光学显微镜的300倍,使得扫描式显微镜比光学显微镜更适合观察表面起伏程度较大的样品。电子显微镜探测器是用来收集电子的信号或次级信号的。

电子显微镜(ElectronMicroscope)是采用电子束为光源,照射固体材料,以电子束散射的电子为信号,主要用于对材料表面或内部结构形态形貌进行高分辨成像,包括透射电子显微镜(TEM)、扫描透射电子显微镜(STEM)、扫描电子显微镜(SEM)。电子束轰击固体样品,在其表面或内部发生散射时,各种散射信号被相应探测器采集后,可直接或间接体现固体样品在微观区域独特的物理化学信息,如透射电子(TE结构形体,电子衍射,能量损失谱元素及价态特征),二次电子(SE形貌形态信息),背散射电子(BSE原子序数和相差异),特征X射线(EDX体相元素组分),俄歇电子(AE表面元素组分),阴极荧光(CL电子态信息),等离子激发(EELS元素及价态),电声(电子通道反差)等。微观物理化学结构特征决定材料宏观性能,对其开展精确分析意义重大。电子显微镜已成为现代科学技术中不可缺少的重要工具。广西台式电子显微镜报价多少钱

扫描电镜用极细的电子束在样品表面扫描,激发样品表面放出二次电子,将产生的二次电子用特制的探测器收集。浙江钨灯丝扫描电子显微镜

扫描电子显微镜是一种多功能的仪器,具有很多优越的性能,是用途较为普遍的一种仪器,观察纳米材料。所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1~100nm范围内,在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。纳米材料具有许多与晶态、非晶态不同的、独特的物理化学性质。纳米材料有着广阔的发展前景,将成为未来材料研究的重点方向。扫描电子显微镜的一个重要特点就是具有很高的分辨率,现已普遍用于观察纳米材料。进行材料断口的分析。扫描电子显微镜的另一个重要特点是景深大,图象富有立体感。浙江钨灯丝扫描电子显微镜

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