以太网帧的概述: 以太网的帧是数据链路层的封装,网络层的数据包被加上帧头和帧尾成为可以被数据链路层识别的数据帧(成帧)。虽然帧头和帧尾所用的字节数是固定不变的,但依被封装的数据包大小的不同,以太网的长度也在变化,其范围是64~1518字节(不算8字节的前导字)。 /域 (Collision):在以太网中,当两个数据帧...
查看详细 >>数字信号的预加重(Pre-emphasis) 如前所述,很多常用的电路板材料或者电缆在高频时都会呈现出高损耗的特性。目前的高速串行总线速度不断提升,使得流行的电路板材料达到极限从而对信号有较大的损耗,这可能导致接收端的信号极其恶劣以至于无法正确还原和解码信号,从而出现传输误码。如果我们观察高速的数字信号经过长的传输...
查看详细 >>如果PCB的设计密度不高,用户有可能在DDR颗粒的引脚附近找到PCB过孔,这时可以用焊接或点测探头在过孔上进行信号测量。DDR总线信号质量测试时经常需要至少同时连接CLK、DQS、DQ等信号,且自动测试软件需要运行一段时间,由于使用点测探头人手很难长时间同时保持几路信号连接的可靠性,所以通常会使用焊接探头测试。有时为了方便,也可以把CLK...
查看详细 >>随着数据速率的提高,在发送端对信号高频进行补偿还是不够,于是PCIe3.0及 之后的标准中又规定在接收端(RX端)还要对信号做均衡(Equalization),从而对线路的损 耗进行进一步的补偿。均衡电路的实现难度较大,以前主要用在通信设备的背板或长电缆 传输的场合,近些年也逐渐开始在计算机、消费类电子等领域应用,比如USB3.0、SAT...
查看详细 >>DDR测试DDR/LPDDR简介目前在计算机主板和各种嵌入式的应用中,存储器是必不可少的。常用的存储器有两种:一种是非易失性的,即掉电不会丢失数据,常用的有Flash(闪存)或者ROM(Read-OnlyMemory),这种存储器速度较慢,主要用于存储程序代码、文件以及长久的数据信息等;另一种是易失性的,即掉电会丢失数据,常用的有RAM(...
查看详细 >>USB4.0测试 在进行不同项目测试时,可能会用到不同的测试码型。典型的测试码型有PRBS31、PRBS15、PRBS9、PRBS7、SQ2(重复的“10”码型)、SQ4(重复的“1100”码型)、SQ32(重复的16个高电平和16个低电平)、SQ128(重复的64个高电平和64个低电平)以及不同速率的SLOS(SymbolLo...
查看详细 >>克劳德高速数字信号测试实验室致敬信息论创始人克劳德·艾尔伍德·香农,以成为高数信号传输测试界的带头者为奋斗目标。 克劳德高速数字信号测试实验室重心团队成员从业测试领域10年以上。实验室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、误码仪、协议分析仪、矢量网络分析仪及附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行业指定品...
查看详细 >>10GSFP+接口简介及测试方法 10G以太网还有很多标准,比如通过背板传输的10GBase-KR(BacKplaneRandomSignaling)标准,通过光纤传输的10GBase-SR(ShortReach)、10GBase-LR(LongReach)、10GBase-ER(ExtendedReach)、10GBase-L...
查看详细 >>高速的数字信号经过传输线传输后,信号的高频分量会丢失,信号的边沿会变形。如果信号的变形比较严重,就会影响后续信号边沿通过阈值点的时刻,这就是码间干扰造成的抖动。码间干扰造成信号抖动的一个例子。在码间干扰比较严重的情况下,当前比特跳沿过阈值点的时刻会和前几个比特有关,比如前面是连续的5个连0和只有一个0对于当前比特的影响是不一样的。 ...
查看详细 >>终端电阻的校准,需要通过如图3所示的RTUN模块来实现。它的原理是利用片外精细电阻对片内电阻进行校准。基准电路产生的基准电压vba(1.2V)经过buffer在片外6.04K电阻上产生电流,用同样大小的电流ires流经片内电阻产生电压与rex-tv(1.2V)进行比较,观察比较器的输出。通过setrd来控制W这三个开关,从000到111扫...
查看详细 >>对于眼图的概念,有以下几点比较重要: 眼图是波形的叠加:眼图的测量方法不是对单一波形或特定比特位置的波形参数进行测量,而是把尽可能多的波形或比特叠加在一起,这样可以看到信号的统计分布情况。只有差的信号都满足我们对于信号的基本要求,才说明信号质量是可以接受的。波形需要以时钟为基准进行叠加:眼图是对多个波形或bit的叠加,但这个叠加...
查看详细 >>3.冲击响应与阶跃响应以单位冲激信号作为激励,系统产生的零状态响应称为单位冲击响应。以h(t)表示。以单位阶跃信号u(t)作为激励,系统产生的零状态响应,即为单位阶跃响应。以g(t)表示。4.卷积将信号分解为冲击信号之和,借助系统冲击响应,从而求解系统对任意激励信号的零作态响应。利用卷积求零状态响应的一般表达式:r(t)=e(t)*h(t...
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