中山快速光谱仪

SPM-5000高精度快速光谱辐射计完全满足CIE-13.3, CIE-84, CIE-177, Optical Engineering-49-3-033602, IESNA-LM-79-19, GB/T-5702, GB/T-7922, GB/T-20145和GB/T-24824等标准。可测试参数包括：色度参数：色品坐标、相关色温、颜色比、峰值波长、半带宽、主峰值波长、色纯度、显色指数、CQS、TM-30(Rf,Rg)、光谱图等；光度参数：光通量、光效、辐射功率、EEI、能效等级、瞳孔通量、瞳孔通量效率、瞳孔因数、植物生长灯PAR和PPF；‘电参数：电压、电流、功率、功率因数，相移因素DF，谐波；翊明科技SPM高精度快速光谱仪可用于教育照明检测。中山快速光谱仪

SPM-5000高精度快速光谱仪光谱范围380nm-800nm(可定制全光谱光谱仪)，通常光谱仪器的选择需要覆盖此光谱范围，然后再考虑分辨率、响应速度、信噪比及动态范围等参数。合适的光谱范围有利于软件的数据分析，同时也可以增加响应速度。在测量LED的过程中，由于LED芯片的量子特性，在一定的温度条件下，它的输出能量、色温、色坐标及光谱特性在不断变化，即LED的特性每一刻都在变化，CCD光谱仪通常可以实现毫秒级的测量。使用CCD光谱仪测量时，由于扫描速度快，因此在若干秒内可以实现多次测量，同时还可以显示出测量过程中光源特性的变化。显色指数光谱仪推荐咨询SPM-5000高精度快速光谱仪测试系统满足色容差SDCM的测量，SDCM满足IEC与ANSI标准要求。

SPM5000高精度快速光谱仪与TR-200光学透过率测试装置、直流电源组成灯具外壳光学透过率的测量系统。可以模拟得到加上指定外壳后灯具的色温，色品坐标、光通量、光效等等一系列光色电参数。灯具外壳光学透过率的测量系统是您选择合适的外壳、漫射罩壳的理想工具，也是您进行灯具光色设计的好帮手。波长范围380-800nm(可定制)。灯具外壳光学透过率的测量系统可以测得透明材料的光谱透过率曲线、通过叠加已测得的无外壳发光光源的光谱，

SPM-5000高精度快速光谱仪照度值LX与PPFD的转换关系，XD因子与辐射源的光谱形态有关系，辐射源的光谱形态是通过光谱仪测试得到的。过多的计算和推理过程我们省略。直接给出XD因子公式：XD因子=光合作用光子通量(PPF)÷光通量(LM)；从计算公式中，我们先通过IMS-2021翊明积分球测试系统测到光合作用光子通量(PPF)，光通量(LM)两个参数，代入计算即可。PPFD只是针对测试仪器只有光谱仪测试系统和照度计的情况，我们知道，不同的测试点，照度值是不一样的。所以，这时的PPFD是某一点的测试值，这种情况只能用于植物生长灯安装现场测试。PPF是灯具决定的，PPFD与灯具的安装高度位置有关。为了测得满意的效果，我们建议使用带颜色分布光度计测试，这时我们可以测到不同的高度，不同角度的PPFD值。满足Erp法规(EU)2019/2020和新能效标签法规(EU)2019/2015；

SPM5000系列含紫外辐照计SPM-5000UV紫外光源辐射测试系统可实现封装紫外LED,紫外荧光灯，紫外光源或灯具(根据系统配置有所不同)的相对光谱功率分布，峰值波长，半宽度，UVA(315~400nm),UVB(280~315nm),UVC(100~280nm)各波段的光谱辐射通量和紫外辐射效率等参数。对紫外光源及紫外发光材料光谱功率分布及紫外光谱辐射测量是各类光源及发光材料的重要质量指标。SPM-5000UV紫外光谱辐射计测试精度高，不受探测器匹配的影响。光谱分析法是非常准确的数字积分方法，不受被测光源光谱分布和探测器响应带宽函数的影响，是精确度更高的紫外辐射照度测量方法。可用于作为紫外光谱及紫外辐照度精确测量的实验室级别测量仪器。IMS-2020光色电综合测试系统满足GB/T 24824:2009 普通照明用LED模块测试方法。南通光谱仪商品价格

SPM-5000高精度快速光谱仪测试相关色温范围:1500K~100000K，精度:±0.3%；中山快速光谱仪

SPM-5000系列光谱辐射计采用CCD探测器。CCD探测器上由许多排列整齐的电容单元组成，当光线照射到光敏面时就会释放电荷，这个电信号传送到A/D转换电路进行处理后就可以获得测量结果。CCD上包含的单元（像素，Pixel）越多，分辨率也就越高。CCD具有自然积分的特性，因此具有非常大的动态范围。CCD的优点是灵敏度高、响应速度快，缺点是存在暗（热）电流，信噪比低，对350nm以下的光信号的响应很低，采用DUV镀膜工艺可以适当提高150-350nm的响应度。中山快速光谱仪

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