北京扫描电镜数字图像相关测量系统

作为美国 Correlated Solutions 公司（全球 DIC 技术创始者）的中国区合作伙伴，研索仪器构建了覆盖 "基础测试 - 特殊场景 - 行业定制" 的全维度产品体系，将国际技术与本土需求深度融合。其产品布局呈现出鲜明的多尺度、全工况适配特征，从微观材料分析到大型结构检测均能提供解决方案。在基础测量领域，VIC 系列产品构成了技术基石。VIC-2D 平面应变测量系统以超过 100 万数据点 / 秒的处理速度，支持光学畸变与 SEM 漂移校正，可在拉伸、压缩、弯曲等常规工况下快速输出平面应变云图，成为高校材料力学实验室的标准配置。VIC-3D 三维表面应变测量系统则通过双目立体视觉原理，实现了三维位移与应变场的同步测量，其行业前沿的精度与可重复性，可满足从金属材料到高分子复合材料的多样化测试需求。该系统搭载的先进算法不仅能输出位移、应变等基础参数，还可直接计算泊松比、杨氏模量等材料本构参数，为材料性能评估提供一站式数据支撑。研索仪器VIC-3D非接触全场应变测量系统一次性获取全场应变分布，优于单点接触式传感器（如应变片）。北京扫描电镜数字图像相关测量系统

典型应用场景（结合工业 / 研发需求）1. 材料研发与测试金属 / 复合材料的拉伸、压缩、弯曲、疲劳试验中的应变监测；橡胶、塑料等柔性材料的大变形应变测量；高温合金在极端温度下的热应变分析。2. 汽车制造车身结构在碰撞试验中的变形与应变分布；发动机缸体、底盘部件的振动应变监测；汽车玻璃、内饰件的装配应力检测。3. 航空航天机翼、机身结构的静态 / 动态应变测试；航天器外壳在热真空环境下的热变形测量；发动机叶片的高速旋转应变监测。安徽VIC-3D数字图像相关变形测量研索科技光学非接触应变测量，高效助力结构力学性能研究。

研索仪器的竞争力不仅在于硬件设备的先进性，更体现在对测量数据价值的深度挖掘，尤其在 "实验测量 - 仿真分析" 闭环构建方面形成了独特优势。传统测试与仿真往往处于割裂状态，实验数据难以有效支撑仿真模型的验证与修正，导致仿真结果的可信度受限。研索仪器通过技术整合，彻底打破了这一行业痛点。在断裂力学研究领域，研索仪器的 DIC 系统展现出强大的数据分析能力。基于 DIC 技术获取的高分辨率位移场信息，可实现裂尖位置的定位与应力强度因子（SIF）的准确计算，这两项参数是评估结构完整性与寿命预测的指标。

近年来，人工智能与光学测量的深度融合催生了新一代智能应变感知系统。深度学习算法直接处理原始图像，自动提取应变特征，处理速度较传统DIC提升100倍以上。例如，卷积神经网络（CNN）在低对比度散斑图像中仍可准确预测应变场，误差小于0.005με；图神经网络（GNN）则通过构建像素间拓扑关系，提升了复杂纹理表面的测量鲁棒性。多模态融合成为另一重要趋势。DIC与红外热成像结合，可同步分析热应力与机械应变；光纤传感与声发射技术集成，能区分结构变形与裂纹扩展信号。在核反应堆压力容器监测中，光纤干涉仪与超声导波传感器的协同工作，实现了毫米级蠕变位移与微米级裂纹的联合检测。研索仪器科技光学非接触应变测量，非接触式操作，避免对试样产生干扰。

研索仪器与达索系统的深度合作，进一步强化了 "仿真 - 实验" 的协同能力。作为达索系统在教育科研领域的重要生态伙伴，研索仪器将 DIC 测量技术与达索系统的仿真平台相结合，打造了 "仿真计算 + 实验验证" 融合的多尺度科研平台。在北京大学材料科学与工程学院的智能实验室建设项目中，研索仪器通过 BIOVIA ONE Lab 平台实现了高通量实验任务管理与跨学科数据的高效流转，DIC 测量数据可直接导入仿真系统进行模型校准；在中南大学的材料力学研究中，通过 Materials Studio 与 ABAQUS 协同建模，实现了从微观仿真到宏观测试数据的闭环对比，大幅加速了科研进展。这种 "测量数据驱动仿真优化" 的模式，已成为制造领域研发创新的重要范式。研索仪器VIC-3D非接触全场变形测量系统可用于工程监测中大型结构（风电叶片、钢结构桥梁）的长期健康诊断。福建VIC-Gauge 3D视频引伸计应变与运动测量系统

三维应变测量技术采用可移动式非接触测量头，可方便地整合应用到静态、动态、高速和高温等测量环境中。北京扫描电镜数字图像相关测量系统

作为当前主流的技术路径，数字图像相关（DIC）技术的工作流程已形成标准化范式：首先在被测物体表面制备随机散斑图案，这一图案如同 "光学指纹"，为后续识别提供特征标记，可通过人工喷涂、光刻或利用材料自然纹理实现；随后采用高分辨率相机阵列同步采集变形前后的图像序列，捕捉每一个微小形变瞬间；通过零均值归一化互相关系数（ZNCC）等算法，追踪散斑在图像中的位移变化，经三维重建计算得到全场位移场与应变场数据。这种技术路径带来三大突破：其一，非接触特性消除了测量器件对测试系统的力学干扰，尤其适用于软材料、微纳结构等易损伤样品的测试；其二，全场测量能力实现了从 "点测量" 到 "面分析" 的跨越，单次测试可获取数百万个数据点，使变形分布可视化成为可能；其三，亚像素级测量精度突破了传统方法的极限，位移测量精度可达 0.01 像素，配合高分辨率相机可实现纳米级形变检测。这些优势让光学非接触测量成为解决复杂力学测试问题的方案。北京扫描电镜数字图像相关测量系统