测试机基本参数
  • 品牌
  • ST,苏州茂鼎
  • 型号
  • ST8410
测试机企业商机

[0042]其中,如图15所示,通道切换单元包括若干结构相同的通道切换电路,所述通道切换电路包括与所述通道数量相对应的继电器,所述继电器与所述扫描CPLD连接,以其中一例进行说明,切换电路包括继电器RY600,继电器RY600的1脚接+5VD电源,2脚与扫描CPLD的116脚连接,3脚连接至插排上实现信号的转接,通过扫描CPLD控制继电器继电器RY600两个点位的高低电平,实现对该通道的控制。如此,整个通道切换单元使用高隔离和寄生电容小的继电器,使得整个系统的寄生电容小,提升测量的精度,同时此继电器的切换时间小于1mS使得多通道切换时花费的时间少,提升了测量速度。[0043]在本发明中,进一步的,如图4所示,所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元,所述MCU模块与所述测量CPLD连接,所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试,所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接,所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号,所述DDS合成单元与所述信号测量单元连接,所述信号测量单元用于同步采集所述正弦信号。多通道电感测试机使用原理。吉林多路LCR测试系统 测试机机构

电力工作者在日常的工作的过程中,如果想针对变电站现场测量并联电容器组中的单个电容器电容值时存在的问题进行检测,需要用到什么仪器呢?在实际的工作中遇到这种问题可以用到电容电感测试仪,该装置的主要功能就是为了解决上述的问题。本文就来对此设备进行简单的介绍。全自动电容电感测试仪主要是对无功补偿装置的高压并联电容组,以及电抗器的测量,其测量依据,符合SJ-255-10300电容测量仪国家标准。针对变电站现场高压并联电容器组测量时存在的问题而专门研制,它主要解决了以下问题:现场测量电容器不需拆除连接线,减化试验过程、有效提高工作效率、避免损害电力设备;完整参数测量,极易判别电容器的品质变化,及器件间连接导体故障;大容量数据存储,微型打印机和USB通信,不需现场抄写数据,多方式保存测量数据。湖北多通道电感测试机报价高速LCR测试机操作规则。

在本发明中,推荐的,所述扫描卡和测量卡至多可设置13张[0016]在本发明中,推荐的,所述MCU模块包括主控芯片U100,所述主控芯片U100连接有USB单元以及网络通讯单元,所述USB单元用于实现主控芯片U100与外界的USB通讯,所述网络通讯单元用于实现组网。[0017]与现有技术相比,本发明的有益效果是:[0018]本发明的系统通过将每个测量卡配置一个扫描卡,测量板可以任意对应一张扫描卡或者对应多张扫描卡利用扫描卡,通过扫描卡完成多个测量通道的切换,使得测试参数、测量点位多,可同时对系统中的多个电容、电阻或者电感元件的物理参数进行测量,提高测量效率。同时,本方案通道切换采用使用高隔离和寄生电容小的继电器,使得整个系统的寄生电容小,提升测量的精度,同时此继电器的切换时间小于1mS使得多通道切换时花费的时间少,提升了测量速度。

一种多通道高精密LCR测试系统 具体实施方式[0036]下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。[0037]需要说明的是,当组件被称为“固定于”另一个组件,它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件,它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。多通道LCR 测试机生产厂家。

一种多通道高精密LCR测试系统  [0009]在本发明中,进一步的,所述信号测量单元连接有信号转换电路,经过信号转换电路转换的正弦信号经过所述背部连接板分别传输至所述测量CPLD、扫描CPLD上,所述测量CPLD用于测量该信号,所述扫描CPLD用于驱动待测产品。[0010]在本发明中,进一步的,所述背部连接板连接有平衡转换电路,所述平衡转换电路经过增益调节电路连与所述测量CPLD连接,所述扫描CPLD获取的待测产品反馈的信号传输至背部连接板,在经过平衡转换电路进行转换,转换的信号经过增益电路传输至测量CPLD进行分析。多路LCR测试系统 测试机。高精密多路电容 测试机费用

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一种多通道高精密LCR测试系统 [0007]在本发明中,进一步的,所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元,所述MCU模块与所述测量CPLD连接,所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试,所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接,所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号,所述DDS合成单元与所述信号测量单元连接,所述信号测量单元用于同步采集所述正弦信号。[0008]在本发明中,进一步的,所述DDS合成单元连接有滤波电路和差分电路,所述滤波电路和差分电路用于滤除信号的谐波和高频干扰。吉林多路LCR测试系统 测试机机构

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