测试机基本参数
  • 品牌
  • ST,苏州茂鼎
  • 型号
  • ST8410
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一种多通道高精密LCR测试系统   苏州茂鼎电子科技有限公司发明涉及LCR测试技术领域,公开了一种多通道高精密LCR测试系统,包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡,若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接,所述扫描卡用于实现通道切换,所述测量卡用于实现LCR测试,所述背部连接板用于实现信号的转接,所述背部连接板连接有主控板,所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制。本系统实现多张测量板同步测量,测量板可以任意对应一张扫描板或者对应多张扫描板,应用灵活。TP触摸屏功能片多排版测试机。上海高精密多通道电感测试机公司

1.一种多通道数字输出模块,其特征在于,包括若干隔离输出电路以及与隔离输出电路连接的主控电路,每一隔离输出电路对应输出一路控制信号,每一所述隔离输出电路包括隔离器和驱动电路,所述隔离器输入端连接所述主控电路,所述隔离器一输出端串接电阻R13后接24V电源,另一输出端接所述驱动电路,所述驱动电路一输出端连接插座P4,另一输出端连接24V电源,其中插座P4连接外部设备。2.根据权利要求1所述的一种多通道数字输出模块,其特征在于,所述驱动电路包括场效应管,所述场效应管的栅极接所述隔离器,源极为输出端接入插座P4,源极接24V电源,同时栅极通过电阻R17也接24V电源。海南高精密多通道电容测试机机构多通道电容测试机怎么使用?

LCR测试仪对电阻寄生参数测量的原理是什么?LCR测试仪能准确并稳定地测定各种各样的元件参数,主要是用来测试电感、电容、电阻的测试仪。它具有功能直接、操作简便等特点,能以较低的预算来满足生产线质量保证、进货检验、电子维修业对器件的测试要求。测试原理数字电桥的测量对象为阻抗元件的参数,包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q,电容C及其损耗因数D。因此,又常称数字电桥为数字式LCR测量仪。其测量用频率自工频到约100千赫。基本测量误差为0.02%,一般均在0.1%左右。Vx与Vr均是矢量电压表,Rr是理想电阻。

[0046]如图5、6所示,测量CPLD选用型号为EPM570T144I5NA的可编程逻辑器件,包括测量CPLD1和测量CPLD2,多个通道的切换指令和数据读写检测通过测量CPLD完成,采用10nS响应速度的CPLD器件使得数据的读写速度快,占用主控芯片U100的资源少,如此,提成系统的运行速度。[0047]此外,在本实施例中,主控芯片U100连接有USB单元以及网络通讯单元,所述USB单元用于实现主控芯片U100与外界的USB通讯,所述网络通讯单元用于实现组网。[0048]具体的,如图7所示,USB单元包括芯片U350,芯片U350型号为PDIUSBD12,用于实现通讯信号电平的转换,其中该芯片的28、15、16引脚与主控芯片U100的102、104、106引脚对应连接,实现USB单元与MCU模块的信号传输,通过USB单元可直接连接显示屏或者PC,可将检测数据进行显示。快速LCR测试机哪家好?

一种多通道高精密LCR测试系统 [0011]在本发明中,进一步的,所述信号转换电路包括信号调制电路以及ADC电路,所述信号调制电路与所述ADC电路连接,所述信号调制电路用于对采集的正弦信号调节增益,所述ADC电路用于对信号进行转换。[0012]在本发明中,进一步的,所述信号测量单元包括四路结构相同的采集电路,所述采集电路包括运算放大器U601,所述运算放大器U601的正极输入引脚与所述差分电路连接。[0013]在本发明中,推荐的,所述通道切换单元包括若干结构相同的通道切换电路,所述通道切换电路包括与所述通道数量相对应的继电器,所述继电器与所述扫描CPLD连接。[0014]在本发明中,进一步的,所述DDS合成单元包括数字频率合成器U501,所述数字频率合成器U501的输入引脚与所述测量CPLD连接,所述数字频率合成器U501的输出引脚与所述滤波电路连接。TP触摸屏功能片大板测试机原理。天津高精密多通道电阻测试机厂家

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[0042]其中,如图15所示,通道切换单元包括若干结构相同的通道切换电路,所述通道切换电路包括与所述通道数量相对应的继电器,所述继电器与所述扫描CPLD连接,以其中一例进行说明,切换电路包括继电器RY600,继电器RY600的1脚接+5VD电源,2脚与扫描CPLD的116脚连接,3脚连接至插排上实现信号的转接,通过扫描CPLD控制继电器继电器RY600两个点位的高低电平,实现对该通道的控制。如此,整个通道切换单元使用高隔离和寄生电容小的继电器,使得整个系统的寄生电容小,提升测量的精度,同时此继电器的切换时间小于1mS使得多通道切换时花费的时间少,提升了测量速度。[0043]在本发明中,进一步的,如图4所示,所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元,所述MCU模块与所述测量CPLD连接,所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试,所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接,所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号,所述DDS合成单元与所述信号测量单元连接,所述信号测量单元用于同步采集所述正弦信号。上海高精密多通道电感测试机公司

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