一种多通道数字输出模块 具体实施方式[0023]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。[0024]需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。9311 C测试机生产厂家。湖南MEMS电容测试机厂家
一种多通道数字输出模块 具体实施方式 [0032]具体的，通讯接口RJ1采用RJ45系列接口，通讯芯片U2采用W5500系列通讯芯片，通讯芯片U2通过通讯接口RJ1与总控制室实现信号交互，通讯芯片与主控芯片U1实现信号交互。[0033]如图4所示，在本实施方式中，主控芯片U1还连接有复位电路，复位电路包括复位按钮，复位按钮的2号端口通过电阻R2接3.3V电源，同时通过电阻R3接入主控芯片U1，复位按钮的1号端口接地，通过复位按钮实现对主控芯片U1的重置。[0034]在本实施方式中，主控芯片U1的89和90号引脚连接有晶振电路，晶振电路为主控芯片U1提供时钟脉冲信号；主控芯片U1的11号电源引脚连接3.3V电源，同时通过电容C6接地，12号引脚接地，电容主要对输入主控芯片U1电流进行滤波。广西快速LCR测试机怎么使用高精密多通道电阻测试机。
一种多通道高精密LCR测试系统 [0007]在本发明中，进一步的，所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元，所述MCU模块与所述测量CPLD连接，所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试，所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接，所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号，所述DDS合成单元与所述信号测量单元连接，所述信号测量单元用于同步采集所述正弦信号。[0008]在本发明中，进一步的，所述DDS合成单元连接有滤波电路和差分电路，所述滤波电路和差分电路用于滤除信号的谐波和高频干扰。
一种多通道高精密LCR测试系统 [0011]在本发明中，进一步的，所述信号转换电路包括信号调制电路以及ADC电路，所述信号调制电路与所述ADC电路连接，所述信号调制电路用于对采集的正弦信号调节增益，所述ADC电路用于对信号进行转换。[0012]在本发明中，进一步的，所述信号测量单元包括四路结构相同的采集电路，所述采集电路包括运算放大器U601，所述运算放大器U601的正极输入引脚与所述差分电路连接。[0013]在本发明中，推荐的，所述通道切换单元包括若干结构相同的通道切换电路，所述通道切换电路包括与所述通道数量相对应的继电器，所述继电器与所述扫描CPLD连接。[0014]在本发明中，进一步的，所述DDS合成单元包括数字频率合成器U501，所述数字频率合成器U501的输入引脚与所述测量CPLD连接，所述数字频率合成器U501的输出引脚与所述滤波电路连接。多通道电感测试机使用原理。
一种多通道高精密LCR测试系统 苏州茂鼎电子科技有限公司发明涉及LCR测试技术领域,公开了一种多通道高精密LCR测试系统,包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡,若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接,所述扫描卡用于实现通道切换,所述测量卡用于实现LCR测试,所述背部连接板用于实现信号的转接,所述背部连接板连接有主控板,所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制。本系统实现多张测量板同步测量,测量板可以任意对应一张扫描板或者对应多张扫描板,应用灵活。多通道LCR 测试机生产厂家。海南高精密多通道LCR测试机联系电话
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在本发明中，推荐的，所述扫描卡和测量卡至多可设置13张[0016]在本发明中，推荐的，所述MCU模块包括主控芯片U100，所述主控芯片U100连接有USB单元以及网络通讯单元，所述USB单元用于实现主控芯片U100与外界的USB通讯，所述网络通讯单元用于实现组网。[0017]与现有技术相比，本发明的有益效果是：[0018]本发明的系统通过将每个测量卡配置一个扫描卡，测量板可以任意对应一张扫描卡或者对应多张扫描卡利用扫描卡，通过扫描卡完成多个测量通道的切换，使得测试参数、测量点位多，可同时对系统中的多个电容、电阻或者电感元件的物理参数进行测量，提高测量效率。同时，本方案通道切换采用使用高隔离和寄生电容小的继电器，使得整个系统的寄生电容小，提升测量的精度，同时此继电器的切换时间小于1mS使得多通道切换时花费的时间少，提升了测量速度。湖南MEMS电容测试机厂家
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