半自动型，chuck尺寸800mm/600mm，X,Y电动移动行程200mm/150mm，chuck粗调升降9mm，微调升降16mm，可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜，针座摆放个数6～8颗，显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"，可搭配Probe card测试，适用领域：8寸/6寸Wafer、IC测试之产品。电动型：chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不锈钢或镀金），X,Y电动移动行程300mm x 300mm，chuck粗调升降9mm，微调升降16mm，微调精度土1u，可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜，针座摆放个数8～12颗，显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“，材质：花岗岩台面+不锈钢，可搭配Probe card测试，适用领域：12寸Wafer、IC测试之产品。探针台需要高度的保密性和安全措施。安徽真空温控探针台公司
随着5G、汽车雷达等技术的发展，在片测试也进入了亚毫米波/太赫兹频段，对在片测试技术提出了更高的挑战。在片测量系统：微波射频在片测量系统一般由射频/微波测量仪器和探针台及附件组成。 微波射频在片测量系统中，探针台和探针用于芯片测量端口与射频测量仪器端口（同轴或波导）之间的适配；微波射频测量仪器完成各项所需的射频测量。探针台（Probe Station）：探针台是半导体（包括集成电路、分立器件、光电器件、传感器）行业重要的检测装备之一，其普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。通过与测试仪器的配合，探针台将参数特性不符合要求的芯片记录下来，在进入后序工序前予以剔除，较大程度上降低器件的制造成本。探针台主要用于晶圆制造环节的晶圆检测、芯片研发和故障分析等应用。广东小型探针台探针台的建设需要尊重自然和秉持可持续发展理念。
探针台具有以下优势：能够确保相关产品研发的质量。能够有效缩短研发时间和资金成本。可以缩减器件的制作工艺成本。具有更加可靠和省时省力的优势，可以缩减器件的制作工艺成本。可以在真空条件下操作，提高了测试的准确度。具有高刚性的硅片承载台和高精度的探针控制系统，有效提高了测试精度。可选配接入光纤，可将一根或几根电学探针替换为光纤，提高了测试灵活性。具有优良的直流漏电控制能力，确保测试的安全性。探针台普遍应用于半导体、光电以及集成电路等行业，用于测试、调试和维修电子设备、电路板和芯片。
探针台简介：探针台分类，探针台从操作上来区分有：手动，半自动，全自动，从功能上来区分有：温控探针台，真空探针台（较低温探针台），RF探针台，LCD平板探针台，霍尔效应探针台，表面电阻率探针台，经济手动型，根据客户需求定制，chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可选），X-Y移动行程：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可选），chuck Z轴方向升降10mm（选项）方便探针与样品快速分离，显微镜：金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜（可选），显微镜移动方式：立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型（可选），探针座：有0.7um、2um、10um精度可选，磁性吸附带磁力开关，可搭配Probe card测试，适用领域：晶圆厂、研究所、高校等。探针台可以通过观测宇宙现象来解开地球和人类的谜团。
极低温测试:因为晶圆在低温大气环境测试时，空气中的水汽会凝结在晶圆上，会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走，并且保持整个测试过程泵的运转。高温无氧化测试：当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时，氧化现象会越来越明显，并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差，物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走，并且保持整个测试过程泵的运转。探针台拥有先进的天文仪器，可以提供高质量的观测数据。重庆高精度探针台
探针台的建设和运行需要具备高度的专业素养和严谨性。安徽真空温控探针台公司
目前世界出货量头一的型号吸收了较新的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。特性1:OTS-较近的位置对正系统(光学目标对准) OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其一定位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密的度量技术。OTS实现了以自己为参照的光学对准系统。特性2:QPU-高刚性的硅片承载台(四方型系统) 为了有效的达到接触位置的精度，硅片承载台各部分的刚性一致是非常重要的，UF3000使用新的4轴机械转换装置(QPU)，达到高刚性，高稳定度的接触。安徽真空温控探针台公司
