扫描电镜简写为 SEC,是一种新型的电子光学仪器。由真空系统，电子束系统以及成像系统三大部分组成。它是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。入射的电子导致样品表面被激发出次级电子。显微镜观察的就是这些每个点散射出来的电子，放在样品旁的闪烁晶体接收这些次级电子，通过放大后调制显像管的电子束强度，改变显像管荧屏上的亮度。显像管的偏转线圈与样品表面的电子束保持同步扫描，这样显像管的荧光屏就显示出样品表面的形貌图像。临界照明是普通的照明法。深圳荧光显微镜使用方法
顾名思义，电子显微镜使用电子成像，就像光学显微镜利用可见光成像。一台成像设备的分辨率主要取决于介质的波长。由于电子的波长比光波长小得多，电子显微镜的分辨率要优于光学显微镜。实际上通常超过1000 倍。电子显微镜有两种主要的类型：透射电子显微镜（TEM），它探测穿过薄样品的电子来成像；扫描电子显微镜（SEM），它利用被反射或撞击样品的近表面区域的电子来产生图像。我们着重讲述扫描电镜 SEM。在这种的电子显微镜中，电子束以光栅模式逐行扫描样品。首先，电子由腔室顶端的电子源（俗称灯丝）产生。电子束发射是因为热能克服了材料的功函数。他们随后被加速并被带正电的阳极所吸引。深圳二手尼康荧光显微镜解决方案一般显微镜分光学显微镜和电子显微镜。
散射式近场光学显微镜（简称s-SNOM ）作为新型近场光学技术，使用散射点代替传统孔径（或光纤），从而获得更高的空间分辨率。s-SNOM 的基本原理是：一个被照明的颗粒会在其周围形成增强的光场，而这个近场会被其附近的样品改变，这种近场互相作用会导致在远场接受到的散射光带有样品局部的光学性质。在实际应用中，普通的AFM 针尖即可被用作散射源，而其近场光学空间分辨率只由AFM 针尖的曲率半径决定，大约为10-30nm，而与照射光波长无关。
光学显微镜在失效分析中有哪些应用？失效分析过程中，样品形貌主要通过光学显微镜观察和记录，光学显微镜可以提供几倍到上千倍的放大倍数，另外光学显微镜对半导体的某些多层结构具有透明性，比如二氧化硅钝化层。光学显微镜要求样品是固体，在高倍观测时由于景深的限制，要求样品表面要平坦。应用显微镜一般是先通过低倍显微镜观察整体形貌和缺陷，然后用高倍显微镜进一步确认缺陷，比如裂纹，断裂，沾污，变形等异常，常用的显微镜观测方式有明场，暗场，干涉照明，偏振光，荧光显微镜等。光学显微镜明场照明的图像是由反射光形成的，光源的入射光垂直射向样品表面，从样品表面反射后重新进入物镜，大部分的反射光线会返回，因而照明强度大，适用于表面平整的样品，明场观测到的发暗的或者不清晰的区域可能是由于表面不平所致。慧差属显微镜轴外点的单色像差。
什么是显微镜的有效放大倍数？取决哪些因素？用显微镜能否看清组织细节，不但与物镜的分辨率有关，且与人眼的实际分辨率有关。若物镜分辨率很高，形成清晰地实像，而配用的目镜倍数过低，也使观察者难于看清，称放大不足。但若选用的目镜倍数过高，即总放大倍数越大，看得并非越清晰。实践表明，超出一定的范围，放得越大越模糊，称虚伪放大。显微镜的有效放大倍数取决于物镜的数值孔径。随着光学零件的实际完善与照明方式的不断改进，以上范围并非严格限制。有效放大倍数的范围，对目镜和物镜的正确选择十分重要。使用准焦螺旋调节焦距，找到物象可以说是显微镜使用中比较重要的一步。广东mm400显微镜价格
荧光镜检术一般分为透射和落射式两种类型。深圳荧光显微镜使用方法
与光学显微镜类似，扫描电镜 SEM 使用透镜来控制电子的路径。因为电子不能透过玻璃，这里所用的是电磁透镜。他们简单的由线圈和金属极片构成。当电流通过线圈，就会产生磁场。电子对磁场十分敏感，电子在显微镜腔室的路径就可以由这些电磁透镜控制——调节电流大小可以控制磁场强度。通常，电磁透镜有两种：会聚镜，电子通往样品时首先遇到的透镜。会聚镜会在电子束锥角张开之前将电子束会聚，电子在轰击样品之前会再由物镜会聚一次。会聚镜决定了电子束的尺寸（决定着分辨率），物镜则主要负责将电子束聚焦到样品上。扫描电镜的光路系统同样还包含了用于将电子束在样品表面光栅化的扫描线圈。在许多时候，孔径光阑会结合透镜一起控制电子束大小。深圳荧光显微镜使用方法
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