企业商机
YMS基本参数
  • 品牌
  • 上海伟诺
  • 型号
  • 伟诺
  • 适用行业
  • 半导体
  • 版本类型
  • 网络版
  • 语言版本
  • 简体中文版
YMS企业商机

在高频测试场景下,重复提交或设备通信中断常导致数据冗余或缺失,直接影响良率计算准确性。YMS系统通过时间戳、测试编号、晶圆ID等关键字段自动扫描数据集,识别完全重复或部分重叠的记录,并予以合并或剔除;同时检测关键参数字段是否为空,快速定位缺失节点并提示修正。该机制嵌入数据清洗流程,与异常值过滤协同工作,确保进入分析环节的数据集完整、干净、无偏。例如,当某批次CP测试因机台故障中断后重跑,系统可自动识别并保留有效片段,避免重复计数拉低整体良率。这种自动化质量控制大幅降低人工核查负担,提升决策可靠性。上海伟诺信息科技有限公司将数据完整性视为YMS的关键能力之一,持续强化其在复杂生产环境中的鲁棒性。针对原始测试数据,YMS会自动清洗——剔除重复、过滤异常,确保纯净。河北工厂YMS开发商

河北工厂YMS开发商,YMS

面对stdf、log、jdf等格式混杂的测试数据流,传统手工转换不仅耗时,还易引入人为错误。YMS系统采用智能解析与清洗技术,自动校验字段一致性,对缺失或错位字段进行逻辑补全或标记,确保每条记录结构完整。系统支持批量历史数据导入与实时测试流同步处理,无论数据来自ASL1000还是TR6850,均能统一转化为可用于分析的标准数据集。在此基础上,异常值被自动过滤,重复记录被精确剔除,明显提升数据可信度。这种端到端的自动化处理机制,使工程师无需再耗费数小时整理原始文件,而是直接聚焦于根因分析。上海伟诺信息科技有限公司基于半导体制造的实际数据特征,构建了这一高效可靠的数据预处理体系。吉林生产良率管理系统YMS实现良率管理全流程自主可控,减少对外部工具依赖,数据掌控在手里。

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面对国产半导体制造对自主可控软件的迫切需求,良率管理系统成为打通数据孤岛、实现质量闭环的关键工具。系统自动采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台输出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多种格式测试数据,通过内置算法识别重复项、缺失值并过滤异常记录,确保后续分析基于高可信度数据源。在标准化数据库支撑下,企业可从时间维度追踪良率趋势,或聚焦晶圆特定区域对比缺陷分布,快速定位工艺波动点。结合WAT、CP与FT参数的联动分析,进一步揭示影响良率的深层原因。SYL与SBL的自动计算与卡控机制,强化了过程质量防线。灵活的报表工具支持按模板生成日报、周报、月报,并导出为PPT、Excel或PDF格式,提升跨部门协同效率。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来,专注打造适配本土需求的YMS系统,助力构建中国半导体软件生态。

标准化良率管理系统难以覆盖不同企业的工艺路径与管理重点,定制化成为提升系统价值的关键路径。YMS支持根据客户实际使用的测试平台组合、数据结构及分析维度进行功能适配,例如针对特定封装流程优化缺陷分类逻辑,或为高频监控场景开发专属看板。系统底层架构保持统一,上层应用则灵活可调,既保障数据治理规范性,又满足业务个性化需求。定制内容包括但不限于报表模板、卡控阈值、导出格式及用户权限体系,确保系统与现有工作流无缝融合。通过前期深度调研与迭代式交付,定制方案能精确匹配客户在良率提升、异常预警或合规追溯等方面的目标。上海伟诺信息科技有限公司将定制服务视为价值共创过程,以技术灵活性支撑客户业务独特性。YMS为封测厂搭多线监控看板,实时呈现各产线良率、缺陷及设备状态,一目了然。

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YMS(良率管理系统)的本质是将海量测试数据转化为精确的质量决策依据。系统兼容ETS88、J750、ASL1000、Chroma等主流Tester设备,自动解析stdf、csv、log、jdf等多种格式数据,完成端到端的数据治理。在此基础上,通过标准化数据库实现时间序列追踪与晶圆区域对比,例如发现某批次中心区域缺陷密度突增,可联动WAT参数判断是否为离子注入剂量漂移所致。SYL与SBL的自动计算功能为良率目标达成提供量化基准,而灵活报表工具支持一键导出PPT、Excel或PDF格式报告,减少手工整理负担。这种从原始数据到管理行动的无缝衔接,极大提升了质量团队的工作效能。上海伟诺信息科技有限公司专注于半导体行业软件研发,确保YMS功能紧贴实际生产需求。YMS推动半导体企业从经验管理转向数据驱动,良率优化效率提升超五成。贵州半导体良率管理系统开发商

YMS按产品型号、工艺阶段动态调良率阈值,卡控规则更贴合实际生产场景。河北工厂YMS开发商

良率管理的目标是将海量测试数据转化为可执行的工艺洞察。YMS系统通过自动化采集来自各类Tester平台的多格式数据,完成端到端的数据清洗与整合,消除人工干预带来的误差与延迟。在此基础上,系统构建标准化数据库,支持从批次级到晶圆级的多维度缺陷分析,例如识别某一时段内边缘区域良率骤降是否与刻蚀参数漂移相关。结合WAT、CP、FT数据的交叉验证,可区分设计缺陷与制造偏差,缩短问题排查周期。SYL与SBL的自动计算与实时卡控,为关键指标设置动态防线。周期性报告一键生成并支持PPT、Excel、PDF导出,使管理层能基于一致数据源快速决策。这种从数据到行动的闭环机制,明显提升了生产过程的可控性与响应速度。上海伟诺信息科技有限公司以打造中国半导体软件生态为使命,持续推动YMS成为行业提质增效的基础设施。河北工厂YMS开发商

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