高频 MLCC 是适应高频电路发展的重要产品类型,主要应用于射频通信、卫星通信、雷达等高频电子设备中,需要在高频工作条件下保持稳定的电容量、低损耗和良好的阻抗特性。为实现高频性能,高频 MLCC 通常采用 I 类陶瓷介质材料,这类材料具有优异的高频介电性能,在高频段的损耗角正切值小,电容量稳定性高;同时,高频 MLCC 的结构设计也会进行优化,如减小电极尺寸、优化电极形状,以降低寄生电感和寄生电阻,提高其在高频段的匹配性能。此外,高频 MLCC 的封装尺寸也会根据高频电路的需求进行调整,小尺寸封装的高频 MLCC 能更好地适应高频电路的布局要求,减少信号传输路径上的损耗和干扰。随着 5G、6G 通信技术的发展,高频 MLCC 的需求将不断增加,对其工作频率上限、损耗特性和可靠性的要求也将进一步提高。未来多层片式陶瓷电容器将向更高性能、更环保、更集成化的方向发展。线上通用型多层片式陶瓷电容器成本敏感型项目

多层片式陶瓷电容器在智能穿戴设备中的应用面临 “微型化” 与 “高容量” 的双重挑战,这类设备体积通常在几立方厘米以内,却需集成电源管理、传感器、无线通信等多模块,对 MLCC 的空间占用与性能提出严苛要求。为适配需求,行业推出 01005(0.4mm×0.2mm)、0201(0.5mm×0.25mm)超微型 MLCC,同时通过减薄陶瓷介质层厚度(可达 1μm)、增加叠层数量(可突破 2000 层),在 0201 封装内实现 1μF 的电容量。此外,智能穿戴设备需长期接触人体汗液,MLCC 还需具备抗腐蚀能力,通常采用镍 - 金双层外电极镀层,金层能有效隔绝汗液中的盐分、水分,避免电极腐蚀,确保设备在 1-2 年使用寿命内稳定工作。二线城市超薄封装多层片式陶瓷电容器汽车电子电路多层片式陶瓷电容器的额定电压需大于电路实际工作电压,留有安全余量。

多层片式陶瓷电容器在航空航天领域的应用具有严苛要求,该领域设备需在极端温度、强辐射、高振动的环境下长期稳定工作,因此对 MLCC 的可靠性和抗干扰能力提出极高标准。航空航天用 MLCC 需通过航天级可靠性测试,如耐辐射测试、极端温度循环测试(-65℃~+200℃)等,确保在宇宙辐射环境下不出现电性能衰减,在剧烈振动中不发生结构损坏。此外,该领域 MLCC 还需具备低功耗特性,以适配航天器有限的能源供给,通常采用高介电常数且低损耗的陶瓷介质,同时优化电极结构减少能量损耗,目前这类 MLCC 主要由少数具备航天级资质的企业生产,技术门槛远高于民用产品。
损耗角正切(tanδ),又称介质损耗,是反映 MLCC 能量损耗程度的参数,指的是电容器在交流电场作用下,介质损耗功率与无功功率的比值。损耗角正切值越小,说明 MLCC 的能量损耗越小,在电路中产生的热量越少,工作效率越高,尤其在高频电路和大功率电路中,低损耗的 MLCC 能有效减少能量浪费,提升整个电路的性能。I 类陶瓷 MLCC 的损耗角正切通常远小于 II 类陶瓷 MLCC,例如 I 类陶瓷 MLCC 的 tanδ 一般在 0.1% 以下,而 II 类陶瓷 MLCC 的 tanδ 可能在 1%~5% 之间。在实际应用中,对于对能量损耗敏感的电路,如射频通信电路、高精度测量电路等,应优先选择损耗角正切值小的 I 类陶瓷 MLCC;而对于普通的滤波、去耦电路,II 类陶瓷 MLCC 的损耗特性通常可接受。5G 基站 Massive MIMO 天线用多层片式陶瓷电容器,多为 0402/0201 封装,2.6GHz 频段损耗低。

消费电子是 MLCC 应用普遍的领域,涵盖智能手机、平板电脑、笔记本电脑、智能电视、智能家居设备等各类产品,这些设备的小型化、轻薄化和多功能化需求,推动了 MLCC 向小尺寸、大容量、高集成化方向发展。在智能手机中,MLCC 被大量用于射频电路、电源管理电路、音频电路和触控电路等,一部智能手机所使用的 MLCC 数量可达数百甚至上千颗,用于实现信号滤波、电源去耦、时序控制等功能。随着消费电子设备对续航能力和性能的要求不断提升,对 MLCC 的低损耗、高额定电压、耐高温等特性的需求也日益增加,例如在快速充电电路中,需要耐高压、低损耗的 MLCC 来承受较高的充电电压和电流,确保充电过程的安全稳定。低温型多层片式陶瓷电容器引入稀土元素,优化晶格结构提升低温性能。品牌商高精度多层片式陶瓷电容器无线充电系统
多层片式陶瓷电容器的湿度偏压测试评估其在高温高湿下的绝缘性能。线上通用型多层片式陶瓷电容器成本敏感型项目
MLCC 的容量衰减问题是影响其长期可靠性的重要因素,尤其是 II 类陶瓷 MLCC,在长期使用或特定工作条件下,电容量可能会出现一定程度的下降,若衰减过度,可能导致电路功能失效。容量衰减的主要原因与陶瓷介质的微观结构变化有关,II 类陶瓷介质采用铁电材料,其电容量来源于电畴的极化,在高温、高电压或长期直流偏置作用下,电畴的极化状态可能会逐渐稳定,导致可极化的电畴数量减少,从而引起容量衰减。为改善容量衰减问题,行业通过优化陶瓷介质的配方,例如添加稀土元素调整晶格结构,增强电畴的稳定性;同时,改进烧结工艺,使陶瓷介质的微观结构更均匀致密,减少缺陷对电畴极化的影响。此外,在应用过程中,合理选择 MLCC 的类型和参数,避免长期在超出额定条件的环境下使用,也能有效减缓容量衰减速度。线上通用型多层片式陶瓷电容器成本敏感型项目
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