外观检查规定1表盘上或外壳上至少应有下述标志符号:A.仪表名称或被测之量的标志符号;B.型号;C.系别符号;D.准确度等级;E.厂名或厂标;F.制造标准号;G.制造年月或出厂编号;H.电流种类或相数,三相仪表中测量机构的元件数量;I.正常工作位置;J.互感器的变比(指与互感器联用的仪表);K.定值导线值(或符号)和分流器额定电压降值(对低量限电压表的要求)。2仪表的端钮和转换开关上应有用途标志;3从外表看,零部件完整,无松动,无裂缝,无明显残缺或污损。当倾斜或轻摇仪表时,内部无撞击声;4向左右两方向旋动机械调零器,指示器应转动灵活,左右对称; 更多的测量轴有助于更多的旋转参数:偏心率,表面质量, 倾斜误差和径向运动!江苏测量激光干涉仪
引力波测量干涉仪也可以用于引力波探测(Saulson,1994)。激光干涉仪引力波探测器的概念是前苏联科学家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的(Gertsenshtein和Pustovoit 1962。1969年美国科学家Weiss和Forward则分别在1969年即于麻省理工和休斯实验室建造初步的试验系统(Weiss 1972)。截止jin ri,激光干涉仪引力波探测器已经发展了40余年。目前LIGO激光干涉仪实验宣称shou ci直接测量到了引力波 (LIGO collaboration 2016)。LIGO可以认为是两路光线的干涉仪,而另外一类引力波探测实验, 脉冲星测时阵列则可认为是多路光线干涉仪(Hellings和Downs,1983)。纳米精度激光干涉仪多层厚度样品和细胞的扩张/收缩 长度相对变化(ΔL)。
利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何干涉仪路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米)。所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。
半导体应变片:用于车辆等机械量测量的元件.半导体应变片是将单晶硅锭切片、研磨、腐蚀压焊引线,结尾粘贴在锌酚醛树脂或聚酰亚胺的衬底上制成的。是一种利用半导体单晶硅的压阻效应制成的一种敏感元件。利用半导体单晶硅的压阻效应制成的一种敏感元件,又称半导体应变片。压阻效应是半导体晶体材料在某一方向受力产生变形时材料的电阻率发生变化的现象(见压阻式传感器)。半导体应变片需要粘贴在试件上测量试件应变或粘贴在弹性敏感元件上间接地感受被测外力。但IDS3010干涉仪可诊断非接触式pm位移@ 10 MHz 安装的高功率激光反射镜。
按相数分绝大多数产品是单相的,因为电压互感器容量小,器身体积不大,三相高压套管间的内外绝缘要求难以满足,所以只有3-15kV的产品有时采用三相结构。按电压变换原理分电磁式电压互感器:根据电磁感应原理变换电压,原理与基本结构和变压器完全相似,我国多在及以下电压等级采用;电容式电压互感器:由电容分压器、补偿电抗器、中间变压器、阻尼器及载波装置防护间隙等组成,用在中性点接地系统里作电压测量、功率测量、继电防护及载波通讯用;光电式电压互感器:通过光电变换原理以实现电压变换,还在研制中。按使用条件分户内型电压互感器:安装在室内配电装置中,一般用在及以下电压等级;户外型电压互感器:安装在户外配电装置中,多用在及以上电压等级。检测电机的轴承误差!纳米精度激光干涉仪多层厚度
环境补偿模块(ECU)。江苏测量激光干涉仪
(3)非接触测头以及各种扫描探针显微镜。航空航天行业对此已经提出迫切要求,这是今后坐标测量机发展的关键技术。目前接触式测头已完全被国外所垄断,非接触测头还没有发展成熟,我们有参与竞争的机遇。以前较多采用的激光三角法原理受到很多限制,难以有突破性进展,但可在原理创新上下功夫。应该突破0.1~0.5μm分辨率。(5)新器件,新材料。过去,科研评价体系存在偏重于整机和系统,忽视材料和器件的趋向。新的突破点可能出现在新光源、新型高频探测器。目前探测器的响应频率只有10的9次方,而光频高达10的14次方,目前干涉仪实际上是起着混频器的作用,适应探测器的不足(如果探测器的响应果真能超过光频,干涉仪也就没有用了)。如果探测器的性能得到显著提高,对于通讯也是很大的突破。 江苏测量激光干涉仪