(3)非接触测头以及各种扫描探针显微镜。航空航天行业对此已经提出迫切要求,这是今后坐标测量机发展的关键技术。目前接触式测头已完全被国外所垄断,非接触测头还没有发展成熟,我们有参与竞争的机遇。以前较多采用的激光三角法原理受到很多限制,难以有突破性进展,但可在原理创新上下功夫。应该突破0.1~0.5μm分辨率。
(5)新器件,新材料。过去,科研评价体系存在偏重于整机和系统,忽视材料和器件的趋向。新的突破点可能出现在新光源、新型高频探测器。目前探测器的响应频率只有10的9次方,而光频高达10的14次方,目前干涉仪实际上是起着混频器的作用,适应探测器的不足(如果探测器的响应果真能超过光频,干涉仪也就没有用了)。如果探测器的性能得到显著提高,对于通讯也是很大的突破。 创建了一个 CMM演示器,用于显示由IDS3010执行的CMM中的位置检测。三维轮廓激光干涉仪厚度测量
利用不同构形的弹性敏感元件可测量各种物体的应力、应变、压力、扭矩、加速度等机械量。半导体应变片与电阻应变片(见电阻应变片相比,具有灵敏系数高(约高 50~100倍)、机械滞后小、体积小、耗电少等优点。P型和N型硅的灵敏系数符号相反,适于接成电桥的相邻两臂测量同一应力。早期的半导体应变片采用机械加工、化学腐蚀等方法制成,称为体型半导体应变片。它的缺点是电阻和灵敏系数的温度系数大、非线性大和分散性大等。这曾限制了它的应用和发展。自70年代以来,随着半导体集成电路工艺的迅速发展,相继出现扩散型、外延型和薄膜型半导体应变片,上述缺点得到一定克服。半导体应变片主要应用于飞机、导弹、车辆、船舶、机床、桥梁等各种设备的机械量测量。三维轮廓激光干涉仪厚度测量用AquadB数据输出测量。
检验周期规定
A.控制盘和配电盘仪表的定期检验应与该仪表所连接的主要设备的大修日期一致,不应延误。但主要设备主要线路的仪表应每年检验一次,其它盘的仪表每四年至少检验一次;
B.对运行中设备的控制盘仪表的指示发生疑问时,可用标准仪表在其工作点上用比较法进行核对;
C.可携式仪表(包括台表)的检验,每年至少一次,常用的仪表每半年至少一次。经两次以上检验,证明质量好的仪表,可以延长检验期一倍。D.万用电表、钳形表每四年至少检验一次。兆欧表和接地电阻测定器每二年至少检验一次,但用于高压电路使用的钳形表和作吸收比用的兆欧表每年至少检验一次。
高灵敏,高分辨,小型化。如将光谱仪集成到一块电路板上。
标准化。通讯接口过去常用GPIB,RS232,目前有可能成为替代物的高性能标准是USB、IEEE1394和VXI。现在,技术前面者设法控制技术标准,参与标准制订是仪器开发的基础研究工作之一。
配合数控设备的技术创新(如主轴速度,精度创成)
数控设备的主要误差来源可分为几何误差(共有21项)和热误差。对于重复出现的系统误差,可采用软件修正;对于随机误差较大的情况,要采用实时修正方法。对于热误差,一般要通过温度测量进行修正。 100pm/步的线性偏移被确定。
波长的测量任何一个以波长为单位测量标准米尺的方法也就是以标准米尺为单位来测量波长的方法。以国际米为标准,利用干涉仪可精确测定光波波长。法布里-珀luo gan 涉仪(标准具)曾被用来确定波长的初级标准(镉红谱线波长)和几个次级波长标准,从而通过比较法确定其他光谱线的波长。检验光学元件泰曼干涉仪被普遍用来检验平板、棱镜和透镜等光学元件的质量。在泰曼干涉仪的一个光路中放置待检查的平板或棱镜,平板或棱镜的折射率或几何尺寸的任何不均匀性必将反映到干涉图样上。若在光路中放置透镜,可根据干涉图样了解由透镜造成的波面畸变,从而评估透镜的波像差。包括与机器的数据交互接口,可实现自动测量线和误差补偿。江西纳米精度激光干涉仪
激光电流以高频调幅(~MHz)。三维轮廓激光干涉仪厚度测量
微型电流互感器称之为“仪用电流互感器”。(“仪用电流互感器”有一层含义是在实验室使用的多电流比精密电流互感器,一般用于扩大仪表量程。)电流互感器原理线路图微型电流互感器与变压器类似也是根据电磁感应原理工作,变压器变换的是电压而微型电流互感器变换的是电流罢了。绕组N1接被测电流,称为一次绕组(或原边绕组、初级绕组);绕组N2接测量仪表,称为二次绕组(或副边绕组、次级绕组)。根据不同的需要,组合式电流电压互感器分为V/V接线和Y/Y接线两种,以计量三相负荷平衡或不平衡时的电能。三维轮廓激光干涉仪厚度测量
上海岱珂机电设备有限公司是我国光谱共焦传感器,高精度3D测量系统,涂层厚度检测传感器,同轴激光位移传感器专业化较早的有限责任公司(自然)之一,公司位于上海市奉贤区泰叶路159弄33号,成立于2011-11-11,迄今已经成长为仪器仪表行业内同类型企业的佼佼者。公司承担并建设完成仪器仪表多项重点项目,取得了明显的社会和经济效益。多年来,已经为我国仪器仪表行业生产、经济等的发展做出了重要贡献。