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USB测试基本参数
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USB测试企业商机

USB测试

USB3.x的接收容限测试USB3.x规范除了对发送端的信号质量有要求外,对于接收端也有一定的抖动容限要求。接收抖动容限的测试方法在被测件环回(loopback)模式下进行误码率测量,即用高性能误码仪(BERT)的码型发生部分产生精确可控的带抖动的信号,通过测试夹具送给被测件的接收端,被测件再把接收到的数据环回后通过其Tx送回误码仪,由误码仪测量环回来 的数据的误码率。USB3.x测试规范对于接收容限的测试原理。

克劳德高速数字信号测试实验室

地址:深圳市南山区南头街道中祥路8号君翔达大厦A栋2楼H区 USB3.0对于电缆传输损耗的要求;上海USB测试多端口矩阵测试

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USB3.0、USB3.1、USB3.2、USB4.0每一代的数据速率都有非 常大的提升。需要注意的是,在USB3.1规范推出后,之前USB3.0中定义的5Gbps速被称为Genl速率,新定义的10Gbps被称为Gen2速率。而在2019年发布的USB4.0规范中,新增的20Gbps速率被称为Gen3速率。

USB3.0和之后的标准都采用了双总线架构(图3.1),即在USB2.0的基础上增加了超高速总线部分。超高速总线的信号速率达到5Gbps、10Gbps甚至20Gbps,采用全双工方式工作。以PC上普遍使用的Type-A连接器为例,为了支持更高速率的信号传输,就在原有USB2.0的4根线(Vbus、Gnd、D+、D-)基础上新增加了5根信号线,包括2对差分线和1根屏蔽地线(如果是Type-C连接器则增加更多)。原来的4根线完全兼容原来的USB2.0设备;新增的这两对差分线采用全双工作模式,一对线负责发送,另一对线负责接收,发送和接收都可实现5Gbps或以上速率的数据传输。

克劳德高速数字信号测试实验室地址:深圳市南山区南头街道中祥路8号君翔达大厦A栋2楼H区 黑龙江USB测试系列USB4.0一致性测试环境;示波器、测试软件、夹具;

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USB电缆/连接器测试和USB2.0相比,USB3.0及以上产品的信号带宽高出很多,电缆、连接器和信号传输路径验证变得更加重要。图3.39是规范中对支持10Gbps信号的Type-C电缆的插入损耗(InsertionLoss)和回波损耗(ReturnLoss)的要求。

很多高速传输电缆的插损和反射是用频域的S参数的形式描述的,频域传输参数的测 试标准是矢量网络分析仪(VNA)。另外,对于电缆来说还有一些时域参数,如差分阻抗和 不对称偏差(Skew)等也必须符合规范要求,这两个参数通常是用TDR/TDT来测量。目前 很多VNA已经可以通过增加时域TDR选件(对频域测试参数进行反FFT变换实现)的方 式实现TDR/TDT功能。另外,USB Type-C电缆上要测试的线对数量很多,通过模块化的 设计,VNA可以在一个机箱里支持多达32个端口,因此所有差分电缆/连接器的测试项目 都可以通过一 台多端口的VNA来完成。图3.40是用多端口的VNA配合测试夹具进行 Type-C 的USB 电缆测试的例子。

基于Type-C接口还可以更好地支持Power Delivery技术,以实现更智能强大的 充电能力。即插即用、数据传输与充电合一是USB接口的一个重要特征。在USB2.0时 代,USB接口可以支持2.5W的供电能力(5V/500mA),到USB3.0时代提高到了4.5W (5V/900mA),但这样的供电能力对于笔记本或者一些稍大点的电器都是不够的。由于一 些产品的质量问题,也出现过充电过程中起火烧毁的事故。为了支持更强大的充电能力,同 时避免安全隐患,USB3.1标准中引入了Power Delivery协议(即PD协议),一方面允许更 大范围的供电能力(比如5V/2A、12V/1.5A、12V/3A、12V/5A、20V/3A、20V/5A),另一方 面要通过CC线进行PD的协商以了解线缆和对端支持的供电能力,只有协商成功后才允 许提供更高的电压或工作电流。图3. 16展示了PD协议中定义的不同等级的供电能力 标准。USB2.0外设的高速信号质量测试项目的连接;

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基本介绍随着USB技术在消费电子产品和其他电子产品上的快速发展和普及应用,USB性能规范和符合性测试变得越来越重要。如果生产商希望在产品上粘贴符合USB-IF标准的USB认证标志,任何附有USB端口的产品,例如电脑、手机、音视频产品以及其他电子设备等都必须进行USB测试。北测是获得认可的测试实验室,完全符合USB-IF的标准,可帮助制造商获得USB认证,并在产品上粘贴USB标志。测试服务USB测试服务包括:高速、全速、低速USB设备测试·外部装置·主机内插卡·集线器·系统·集成电路·电线组件·连接器·USBOTG USB3.0一致性测试数据;黑龙江USB测试系列

USB2.0USB3.0测试方法区别?上海USB测试多端口矩阵测试

针对某特定讯号速度(低速、全速或高速)先选择需进行的量测项目,然后根据层(即DUT的连接层)、测试点(DUT的测试点-近端或远程)以及传输方向(上传或下传测试)设定应用程序,如图所示。在完成了这两步之后,使用者即可执行自动量测了。接着就是设置DUT类型、速率、夹具和测试分析模式,由于DUT是device,所以在Device一栏选择Device;USB2.0的速率为7G;测试的夹具分为了两类,一类是USB-IF协会的,另一类就是Tektronix的,在这里选择的是Tektronix的测试夹具;另外一个非常关键的点就是TestMethod,是否选用USB-IFSigTest的分析方法,通常,我们会选择使用;选择参考时钟,一般高速串行信号都会选用SSC模式;还要根据产品使用。上海USB测试多端口矩阵测试

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