X射线衍射分析可以获得哪些实验数据?通常做的是粉末衍射，可以得到样品在不同角度的衍射强度，也就是两列数据，一列是角度（一般5-80，这个根据不同材料的需要，测试时要自己确定），一列是强度，对比已有的衍射谱的卡片，从而知道材料中是有哪些相存在。如果材料中有未知的相，也可以通过XRD确定其结构。先对其做指标化，确定了hkl，同时还能把晶体结构定下来，还有就是定晶格参数。如果你还要做进一步的分析，你可以做结构精修，从而确定不同原子在晶格内的位置，键长键角什么的。如果技术好，还可以得到材料中的应力，温度因子，晶格取向等信息。鉴于野外环境作业的需求，X射线衍射仪不只可以确保强大的功能，也充分满足了“便携”的需求。扬州衍射仪供应商
X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.普遍应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域.X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，普遍应用于各大、专院校，科研院所及厂矿企业。基本构造 X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, 图4为X射线衍射仪的基本构造原理图, 主要部件包括4部分。（1） 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。 江苏奥林巴斯XRD生产商现代X射线衍射仪都附带安装有特用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。
X射线衍射现象发现后，很快被用于研究金属和合金的晶体结构，已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。物相分析是X射线衍射在金属中用得很多的方面，又分为定性分析和定量分析。定性分析是把对待测材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据进行比较，以确定材料中存在的物相；定量分析则根据衍射花样的强度，确定待测材料中各相的比例含量。精密测定点阵参数常用于相图的固态溶解度曲线的绘制。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化；当达到溶解限后，溶质的继续增加引起新相的析出，不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可获得单位晶胞原子数，从而可确定固溶体类型；还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。
衍射出现在满足布拉格条件的角度上，这可以理解。但是，X射线衍射是因为X射线与原子发生弹性碰撞，原子向四面八方散射频率相同的X射线，书上讲的衍射方向都是与入射方向夹角为2西塔，难道就不可能在其他方向上（即入射角和反射角不相等）恰好满足布拉格条件吗？恰好满足布拉格条件的就是2θ方向。在其他方向上的也有，但都被许许多多散射光之间相互抵消、成为光强很弱甚至为0的图案、成为观测区域内的背景。X射线衍射仪特征X射线及其衍射X射线是一种波长很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线衍射仪的英文名称是X-ray Powder diffractometer简写为XPD或XRD。有时会把它叫做x射线多晶体衍射仪，英文名称为X-ray polycrystalline diffractometer简写仍为XPD或XRD。上海泽权衍射仪服务品质。欢迎来电咨询上海泽权！
X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析，定量分析。普遍应用于冶金，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。基本构造:X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为X射线衍射仪的基本构造原理图，主要部件包括4部分。高稳定度X射线源：提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。 衍射图的处理分析系统 现代X射线衍射仪都附带安装有特用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。X射线衍射分析相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉。上海奥林巴斯XRD批发厂家
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X射线衍射仪技术(XRD)是通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的一种仪器，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法，X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例；很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度；新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标；产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力；纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。扬州衍射仪供应商
