航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定。是伴随世界经济崛起的工业和***制造领域必不可少的快速成份鉴定工具。我们知道,合金是由两种或两种以上的金属或金属与非金属经一定配方所合成的具有金属特性的物质,目前已经知道的合金有几万种,比如像铝合金、镁合金、锌合金、镍合金等等。在如今对合金成分进行鉴定分析的过程中,小巧便携的手持式X射线荧光分析仪逐渐取代台式分析仪,成为了市场主流。 由奥林巴斯研发推出的Vanta 分析仪便是这样一款小巧的手持式合金分析仪,不仅检测迅速、结果可靠、坚固耐用,而且连通性好、操作便捷易携带,在包含回收废料和各种金属的检测环境中,不受外界艰苦环境影响,可以迅速得到准确的分析结果。分析仪的采测范围、检测速度、检测精度都非常出色，并具有较好的升级潜力。河北手持式废旧金属分析仪供求
XRF：X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X-Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围可以从12号元素（Mg）到92号元素（U）。江苏流动分析仪生产分析仪可以用来对各种不同类型的环境进行现场分析。
无论您是在废品堆场中分拣合金和金属，还是在质量控制过程中对来料进行检查，手持式X射线荧光（XRF）分析仪都是您所需要的一款基本工具。XRF技术可以以无损方式快速辨别合金的牌号及金属的元素成分。奥林巴斯全新的Vanta Element 手持式XRF分析仪可用于合号分析、分拣，该设备操作简单，可提供清晰的牌号ID值，检测结果界面与标准牌号的对比，方便废旧金属回收人员快速决策。防水防尘，适合各种严酷环境的Vanta Element， Vanta Element 手持式XRF分析仪的智能型的UI界面可提高用户的工作效率，快速获得合号、材质中的污染元素、废旧金属元素含量等。容易操作、易于学习，软件操作流畅。
XRF分析仪如何测量涂层厚度： 准确的厚度测量结果有助于制造商提供质量上乘的产品，同时还可以控制成本。涂层的厚度应该恰到好处；产品的涂层太厚会增加制造成本。客户对来料进行质量控制时，也会对涂层进行检测：确保所接收来料使用的是正确的涂层材料，且涂层的厚度准确无误。 取决于不同的材料，奥林巴斯Vanta手持式XRF分析仪可以测量范围从0.00到约60.00微米的涂层厚度。分析仪发出X射线，X射线撞击到被测样本，使样本发出荧光。分析仪探测到返回的X射线，并使用获得的数据计算涂层的厚度。 根据国际材料工程师和科学家协会（ASM）的防腐和防磨表面工程要求，属于这个范围的各种表面工程技术包括电镀（机械、化学、电解）、蒸发（化学和物理沉积）和粘合（树脂或漆料）。奥林巴斯Vanta Element分析仪用户可以*在几秒钟之内便可获得清晰的材料和牌号辨别信息。
XRF分析仪的特性 Vanta Element分析仪具有连通性能，有助于简化废料金属的回收和质量控制过程。 准确且具有重复性的结果 Vanta分析仪的电子部件 Axon技术的稳定性和计数率 方便的数据管理 具有无线连通性能（可选配），可方便地将数据传输到网络上的文件夹中 使用奥林巴斯的科学云系统可以实现云数据存储，并可实时以远程方式查看数据 直接将数据导出到USB驱动盘中 用于存储结果的1 GB工业用microSD卡 坚固耐用且经济实用的手持式XRF分析仪 这款分析仪可用于条件恶劣的环境中，且其拥有成本较低。符合IP54评级标准，具有防尘和防潮的特性。通过了坠落测试（MIL-STD-810G），可避免分析仪在坠落时受到损坏，从而减少了对分析仪进行高成本维修的需求，经过评定，在-10 °C到45 °C的温度范围内，可以持续进行检测 防磨不锈钢面板 坚固，较厚的（50 µm）聚酰亚胺窗口可对分析仪起到保护作用，无需使用工具即可方便更换的窗口。Vanta分析仪的镀层模式可以测量3层材料的厚度。福建流动分析仪推荐
Vanta手持式XRF分析仪有助于确保贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员使用正确牌号的合金。河北手持式废旧金属分析仪供求
Vanta分析仪的镀层模式 元素配置：可分析的元素为原子数大于钛的元素，包括钛元素。同一种元素不能在多个涂层中被重复分析，包括基底材料。 可选的实证单点校准：用户可以使用一种内部认证的样本对校准进行调整。 层的数量：Vanta分析仪的镀层模式可以较多测量3层材料的厚度，不过各层材料要足够薄，以使X射线从底层材料返回到探测器。 基底：可以分析任何基底材料，只要基底材料中不包含涂层材料中存在的元素。奥林巴斯XRF光谱仪是合金材料检测理想的现场无损分析仪，医疗设备制造商很需要的一款简易、精确、快速的分析仪器。河北手持式废旧金属分析仪供求
