晶体的X射线衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换，每种晶体的结构与其X射线衍射图之间都有着一一对应的关系，其特征X射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化，这就是X射线衍射物相分析方法的依据。制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化，将待分析物质的衍射花样与之对照，从而确定物质的组成相，就成为物相定性分析的基本方法。鉴定出各个相后，根据各相花样的强度正比于改组分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可对各种组分进行定量分析。目前常用衍射仪法得到衍射图谱，用“粉末衍射标准联合会”负责编辑出版的“粉末衍射卡片”进行物相分析。衍射仪的服务厂家排名。欢迎来电咨询上海泽权！舟山衍射仪代理商有哪些
X射线衍射中，Kα，Kβ具体代替什么？X射线管发生出来的不是纯净的单色光，包含多种波长的射线，较主要的是K系射线。K系射线是指阴极电子碰撞阳极，使阳极电子产生K激发，击走K层电子后，L层或M层电子填充K层电子而产生的X射线。K系射线又可以细分为Kα（L层电子填充）和Kβ（M层电子填充）两种波长略有差异的两种射线。而X射线衍射仪要求使用单色X射线。因此，需要在XRD测试时把后者除掉，传统的方法是在光路上加入一个滤波片（如Ni）。现在一般使用铜靶，在光路上增加一个石墨晶体单色器来去除Kβ射线。单色器可以去除衍射背底，也可以去除Kβ射线的干扰。Cu的特征谱线波长为：Kα1(1.54056 Å)，Kα2 (1.54439 Å)，Kβ1 (1.39222 Å)。对于铜靶，Kα波长取Kα1与Kα2的加权平均值，其值为1.54184Å(布拉格方程和谢乐公式中的λ)。扬州衍射仪工艺上海泽权简述衍射仪规范标准。欢迎来电咨询上海泽权！
X射线粉末衍射仪的注意点：影响衍射环质量的主要因素是样品的取样性偏差，即晶体的晶癖特征（如针状或片状）导致某些方向被过度衍射，而其他方向衍射不足；用通俗语言描述即，片状晶体在测量盘中呈现“躺着/睡着的姿势”，衍射角集中于水平角度，而在纵向上有所欠缺。此类晶体通常可体现出过筛前后或粉碎前后XRPD图谱不同，而其实际晶型并未发生变化。因此，针对不同合成工艺所得原料，应先通过显微镜观察其晶癖，再测定粉碎或过筛前后XRPD，避免发生过筛导致晶型变化的错误判断。此外，在晶型特征峰分析时，更关注低角度的峰，因其表示了间距较大的晶面，其衍射峰受干扰的概率较低。总之，判断不同多晶型的XRPD图谱，其是否为同一晶型，XRPD中峰的θ角是主要依据，因其角度大小反应的是单元晶格大小；而峰相对强度取决于晶体中的原子种类及其分布位置。如所测图谱质量不高，则相对峰强度差异通常不应成为晶型不同的判断依据。
衍射仪也称X射线发生器、探测器X射线发生器，是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一，其优劣会严重影响X射线衍射数据的质量。X射线发生器是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一，其优劣会严重影响X射线衍射数据的质量。探测器是用来记录衍射谱的，因而是多晶体衍射设备中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射线会透过而不被吸收；它的计数线性范围不大，强衍射不易测准；而且，还会起“雾”；又由于要有暗室用化学法进行显影、定影、冲洗、晒干等一套繁琐的过程，因此被性能更好的光子计数器所取代。计数器探测器不需化学处理，可以通过电子电路直接记录衍射的光子数，方便了许多。计数器是盖格计数器，但由于它的时间分辨率不高，计数的线性范围不大，故不是一个良好的探测器。以后，正比计数器及闪烁计数器取代了盖格计数器，成为较普遍使用的探测器。随着人类对自然的认识越来越广，越来越深，对实验的要求也越来越高，越多样化，简单的正比或闪烁计数器亦不能满足不同的实验要求，于是又陆续发展出许多不同的探测器。X射线衍射分析法又被称为粉末X射线衍射分析法。
多晶X射线衍射仪，也称粉末衍射仪，通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成：1) X射线发生器(产生X射线的装置);2)测角仪(测量角度2θ的装置);3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置);4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等).另外：测角仪（包括狭缝系统）、探测器等都是X射线衍射仪中非常关键的组成部分X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及保护电路等组成。这里着重介绍X射线管。X射线管的实质是个真空二极管，其阴极是钨丝，阳极为金属片。在阴极两端加上电流之后，钨丝发热，产生热辐射电子。这些电子在高压电场作用下被加速，轰击阳极（又称靶），产生X射线（此过程产生大量热量，为了保护靶材，必须确保循环水系统工作正常）。“X射线衍射仪"可分为"X射线粉末衍射仪"和"X射线单晶体衍射仪"。安徽奥林巴斯XRD定制费用
使用粉末多晶衍射仪测量单晶体样品时得到的X射线衍射谱。舟山衍射仪代理商有哪些
多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进（阶梯）扫描两种。1.连续扫描法：连续扫描方式扫描速度快、工作效率高，一般用于对样品的全扫描测量（如物相定性分析）。步进扫描法：步进扫描测量精度高并受步进宽度与步进时间的影响，适用于做各种定量分析工作。测量参数包括狭缝光栏宽度、扫描速度、时间常数等。单晶体的研究方法分析的对象是一粒单晶体，如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中院子或原子团均是周期排列的。将X射线射到一粒单晶体上会发生衍射，对衍射先进行分析可以解析出原子在晶体中的排列规律——即解出晶体结构。舟山衍射仪代理商有哪些
