在XRF分析法中,从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将较里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时,原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定,外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中,它们会释放出能量,我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如,铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度,能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。合金分析仪即是分析合金里金属成分的仪器。分析仪代理
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Vanta手持式XRF分析仪在筛查诸如玩具、服装和鞋类以及电子设备等消费产品,以发现其中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)、铬(Cr)及其它有毒金属时,可以进行快速精确的元素分析,以判断这些商品是否符合RoHS法规的要求。Vanta分析仪是完成合理检测项目的理想工具。Vanta手持式分析仪的可选5百万像素全景摄像头及Wi-Fi连通性能,可使用户轻松完成样件图像和结果的归档工作。每台Vanta分析仪都使用了奥林巴斯的**噪声Axon技术,都具有极高的灵敏度,从而可为受监查的元素提供极低的检出限,并做出精确的通过/失败判断。手持式XRF分析仪也不会损坏被测材料。
在看XRF之前咱们先简单了解一下X射线,X射线是由于原子中的电子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的粒子流,是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁波。其波长很短约介于0.01~100埃之间。由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现,故又称伦琴射线。美国奥林巴斯-伊诺斯手持式合金分析仪,用于现场,(来料检验、库存材料管理、安装材料复检、生产材料等)无损快速、准确分析检测合金元素和合号的识别。Innov-X 便携式XRF 合金分析仪携带方便,使用简单,分析速度快,精度高,其结果直接显示合号、金属成分的百分比含量,从而使Innov-X 便携式XRF 合金分析仪成为合金材料鉴别的全世界供应商。 Vanta分析仪可以分析任何基底材料,只要基底材料中不包含涂层材料中存在的元素。山西光谱分析仪
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鉴于其操作的方便性和微通道设计的多样性,可以预期这种流控技术将在生命科学分析和复杂基体样品超微金属的分离富集中得到普遍应用。在超微分离方面,主要应用尚局限于阀内超微型填充柱固相萃取分离,联用的检测器也*为ETAAS和ICPMS。实际上,SI-LOV流控系统可与各种检测器联用,尤其适合于与微量连续进样检测器结合。所见的主要分离、富集方式均可在该系统中进行超微分离富集操作,包括阀内液-液萃取,阀内微渗析,沉淀/(共)沉淀及氢化物发生等。另外,SI-LOV的流控特征使其十分适合于在生命科学分析中应用,包括阀上酶联免疫分析、生命代谢过程中的无损原位分析、***分析和单细胞分析等。将分析所需要的检测器集成在阀上,则可实现真正意义上的“阀上实验室”分析。分析仪代理