奥林巴斯Vanta Element分析仪使用双核处理器,并搭载了奥林巴斯Axon技术,拥有高计数率和出色稳定性,可以直接在屏幕上对比合号,用户*在几秒钟之内便可获得清晰的材料和牌号辨别信息。在坚固耐用方面,Vanta 分析仪自带防水防潮功能,符合防护等级IP54评定标准,在户外也不必担心下雨落水等突发情况。其次,新款Vanta 分析仪顺利通过从4英尺高处坠落测试(MIL-STD-810G),确保在发生意外坠落或撞击时依旧可以继续工作。除了合金分析外,奥林巴斯Vanta 分析仪还能做矿石分析、土壤分析、ROHS分析,不*样品制备简单,测定范围也比较广。此外,它可以实现单手操作,轻轻一点,不用进行太多的操作,数据就能显示在屏幕上,简单直观,适用于大部分现场和野外的工作场景。 Vanta Element分析仪具有连通性能，有助于简化废料金属的回收和质量控制过程。福建流动分析仪
奥林巴斯合金分析仪采用X射线荧光(XRF)技术,这是一种获得材料元素组成的技术。只需少量的样品制备,您就可以在1秒钟内获得某些合金的结果,或在60秒钟内获得某些地质样品的结果。并且XRF是无损的。那么什么奥林巴斯合金分析仪更好用?该款合金分析仪是一个坚固的工具,它必须经受住在恶劣环境中正常工作的严酷考验。分析仪经受住了4英尺跌落试验,可在-10°C至50°C(14°F至122°F)的温度范围内连续运行。我们对分析仪的坚固性很有信心,每台都有标准的3年保修期。另外三个重要的进步是:1、为分析仪供电的Axon技术;2、开发了一个新的“类似智能手机”的用户界面;3、可选的无线连接。福建流动分析仪Vanta分析仪的机身坚固耐用，可以在艰苦的工作环境中正常工作。
材料可靠性鉴别(PMI)在金属制造、石化生产以及消费产品中起到重要作用。不但在正确的地方选用正确合适的金属或合金至关重要，而且还要确保材料成分没有偏差（如重金属的污染）。X射线荧光分析仪（XRF）是一种用于金属部件材料可靠性鉴别(PMI)以确认所用金属或合号是否正确无误的高效简便的方法。手持式XRF分析仪携带方便，样品处理简单，并且可以快速获得检测结果。对于XRF分析仪较常见的应用之一，合金鉴别，使用Vanta™ XRF分析仪*需1-2秒时间就可识别合号。手持式XRF分析仪能够定量分析元素周期表上从镁到重元素等超过90%的元素，覆盖了常用商品合金所含有的绝大多数元素。图1为常见合金元素的1检测限。XRF分析仪能够对铝合金、不锈钢、铬钼合金、金属管道和法兰材料，黄铜、青铜以及其他铜合金，金属焊料、钛合金、工具钢、镍基或钴基等“超级合金”进行材料牌号匹配和元素定量分析。
当今先进的技术： 分析仪采用了X射线管光源、多光束过滤技术、以及个人数位助理技术，从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色，并具有极好的升级潜力。 ·在检测铬与其他金属的能力方面有著非常优越的表现。本机可使用光元素分析程式来分析磷、硫、氯、钾、钙等金属成份。 ·使用了先进的和多用途的x射线资料模式：采用康普顿常态化校正方法：可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行专门的校正。基本参数：采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。实验校正法：利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。 ·可以很容易地加入新的元素成份，很容易进行校正。因此，Innov-X a-4000分析仪能够满足您当前和未来的需求。 ·可以在显示荧幕上观看光谱。Vanta分析仪的镀层模式可以测量3层材料的厚度。
贵金属分析仪是分析贵金属成分组成的精密仪器，常用的有化学有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵，不能轻易破坏其外形，故化学有损检测仪在珠宝行业不被经常使用。而快速、无损、精确的无损检测仪，普遍应用于珠宝首饰检测行业。贵金属分析仪是分析贵金属成分组成的精密仪器，常用的有化学有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵，不能轻易破坏其外形，故化学有损检测仪在珠宝行业不被经常使用。而快速、无损、精确的无损检测仪，普遍应用于珠宝首饰检测行业。影响贵金属无损分析仪测量结果的因素有如下几点。由于首饰产品的特殊情况，受方法原理的限制，在使用本方法时检测人员应了解和熟悉以下影响结果 的因素（这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响，甚至造成误判）：a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异；b)被测样品的表面有镀层或经化学处理；c)测量时间；d)样品的形状；e)样品测量的面积；f)贵金属的含量多少；g)被测样品的均匀程度（包括偏析和焊药等）。分析仪的采测范围、检测速度、检测精度都非常出色，并具有较好的升级潜力。福建贵金属分析仪生产
分析仪初学的操作人员只需很少的培训，即可自如操作。福建流动分析仪
合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道上。而且其电子的数量等同于核子中的质子（正电微粒）数量。从元素周期表中的原子数我们则可以得知质子的数目。每一个原子数都对应固定的元素名称，例如铁，元素名是Fe，原子数是26。 能量色散X萤光与波长色散X萤光光谱分析技术特别研究与应用了较里层三个电子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道较为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层。 福建流动分析仪
