X射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线，晶体的晶面反射遵循布拉格定律。通过测定衍射角位置可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。X射线衍射仪技术（XRD）注意事项： （1）固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。 （2）对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。 （3）对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。 （4）粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。便携式X 射线衍射仪可能直接分析出岩石的矿物组成及相对含量。徐州衍射仪品牌
用x射线照射固体时，由于光电效应，原子的某一能级的电子被击出物体之外，此电子称为光电子。如果x射线光子的能量为hν，电子在该能级上的结合能为eb，射出固体后的动能为ec，则它们之间的关系为： hν=eb+ec+ws 式中ws为功函数，它表示固体中的束缚电子除克服各别原子核对它的吸引外，还必须克服整个晶体对它的吸引才能逸出样品表面，即电子逸出表面所做的功。上式可另表示为： eb＝hν-ec-ws 可见，当入射x射线能量一定后，若测出功函数和电子的动能，即可求出电子的结合能。由于只有表面处的光电子才能从固体中逸出，因而测得的电子结合能必然反应了表面化学成份的情况。这正是光电子能谱仪的基本测试原理。上海奥林巴斯XRD售价多少钱衍射仪去哪找？上海泽权告诉您。
x射线光电子能谱法在表面分析领域中是一种崭新的方法。虽然用x射线照射固体材料并测量由此引起的电子动能的分布早在本世纪初就有报道，但当时可达到的分辩率还不足以观测到光电子能谱上的实际光峰。直到1958年，一个瑞典研究小组观测到光峰现象，并发现此方法可以用来研究元素的种类及其化学状态，故而取名“化学分析光电子能谱。目前xps和esca已公认为是同义词而不再加以区别。X射线衍射仪的主要参数：X射线管的功率：对于密封式X射线管，Cu靶一般为2kw，Ag、Mo、W等靶一般大于2kw，而对Co、Fe、Ni等靶则小于2kw。对于转靶，常用的有12kw和18kw。单色器的效率：应不小于25%。探测器的效率：视品种而异。计数的线性范围：关系到强度测量的准确性，一般在 cps。有许多仪器附加了校正软件，宣称可以达到 cps。衍射角(2θ)的测量准确度和精确度。分辨率：常用的Si(311)衍射峰的半高宽来表示。对于一般实验室粉末衍射仪，此值约在0.05°~0.1°之间。
野外作业，环境的恶劣程度对衍射仪有了更高的要求，而X射线衍射仪配备了防风防雨、坚固耐用的外壳，在软件方面，分析仪使用的软件简洁直观，既可以单屏控制面板现实多种数据，还能预先设置校准程序，并且轻松导出数据。同时配备一个独特的小样品托架，只需15毫克样品就可以完成分析，提升工作效率，在野外完成矿物检测获得矿物主要成分和次要成分信息的决胜关键。这款进口X射线衍射仪机身小巧，将性能强大的软件和改进的X射线探测器结合在一起使用，提高了检测的速度和灵敏度，可以让用户迅速及时且充满自信地做出决策。工业X射线衍射仪是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
X射线衍射仪的用途是什么？当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。X射线衍射仪使用注意事项：固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。x射线衍射仪 , 包括粉末衍射、单晶衍射、高温衍射仪等等 !杭州衍射仪代理公司
衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器。徐州衍射仪品牌
便携式X 射线衍射仪可能直接分析出岩石的矿物组成及相对含量，并形成了定性、定量的岩性识别方法，为录井随钻岩性快速识别、建立地质剖面提供了技术保障。 每种矿物都具有其特定的X 射线衍射图谱，样品中某种矿物含量与其衍射峰和强度成正相关关系。在混合物中，一种物质成分的衍射图谱与其他物质成分的存在与否无关，这就是X 射线衍射做相定量分析的基础。X 射线衍射是晶体的“指纹”，不同的物质具有不同的X 射线衍射特征峰值(点阵类型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的数目、位置等)，结构参数不同则X 射线衍射线位置与强度也就各不相同，所以通过比较X 射线衍射线位置与强度可区分出不同的矿物成分。X 射线衍射仪主要采集的是地层中各种矿物的相对含量，并系统采集各种矿物的标准图谱，包括石英、钾长石、斜长石、方解石、白云石、黄铁矿等近30 种矿物成分，通过矿物成分的相对含量就可以确定岩石岩性，为现场岩性定名提供定量化的参考依据，提高特殊钻井条件下岩性识别准确度。徐州衍射仪品牌
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